Имитатор дефектов Советский патент 1982 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU911309A1

(54) ИМИТАТОР ДЕФЕКТОВ

Л . I.

Изобретение относится к контрольно-йзмТрй гельной технике и может быть использовано для настройки дефектоскопов, контролирующих трубы.

Известея имитаюр для настройки дефектоскопов, представляющий собой образец изделия с искусственным дефектом 1.

Недостатками данного образца являются трудность обеспечения ширины раскрытия искусственных дефектов в пределах 0,01-0,03 мм, соответствующей наиболее распространенным и опасным дефектам волосовинам, ограничение возможности нанесения дефектов различной ориентации относительно поверхности изделия, накладываемое геометрией и размерами образца изделия, отсутствие возможности имитации в образце скрытых подповерхностных дефектов, большая трудоемкость и сложность выполнения протяженных дефектов.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является имитатор дефектов для настройки дефектоскопа, содержащий цилиндр, составленный из нескольких ковдентрических слоев с искусственным дефектом.

ёьшолнешп {м в виде сквозной прорези, по крайней мере, в одном из слоев вдоль образующей цилиндра 2. . Недостатками этого имитатора являются: возможность повреждения и износ кромок прорезей, имитирующих дефекты, трудность формирования в одном имитаторе нескольких искусственных дефектов, отражающих различные типь естественшох дефектов (трещина, наружная плена, ужим, внутренняя плена и др.),

10 гто необходимо для качественной настройки дефектоскопа, исключающей недобраковку или перебраковку изделий, необходимость изготовления количества имитаторов, равного количеству типоразмеров труб, нагревание

15 имитатора за счет пропускания по нему тока в процессе настройки дефектоскопа.

Цель изобретений - повышение точности настройки дефектоскопа.

20

Поставленная цель достигается тем, что имитатор снабжен несколькими идентичными цилиндрами, секционными тороидальными обмотками по числу цилиндров, каркасом с на39

правляюшими для цилищфов и механизмом регулировки его поперечного размера.

Кроме того, имитатор снабжен неферромагнитным кожухом, охватывающим каркас.

На фиг. 1 изображен имитатор дефектов, общий вид; на фиг. 2 - цилиндры с наружным а и внутренним б дефектами; на фиг. 3 - цилиндры с примерами выполнения искусственных дефектов; на- фиг. 4 - электрическая схема питания обмоток имитатора дефектов; на фиг. 5 - взаимное положение цилиндров имитатора дефектов при настройке дефектоскопа на контроль максимального диаметра изделия; на фиг. 6 - то же, при настройке дефектоскопа на контроль минимального диаметра изделия.

Имитатор дефектов содержит несколько идентичных цилиндров 1-8, выполненных из нескольких концентрических слоев с наружными дефектами, типа трещина, наружная плена 2, ужим, и внутренними дефектами, типа расслой, трещина, плена, выполненных в виде прорези, по крайней мере, в одном из слоев вдоль образующей цилиндра. На каждом цилиндре размещена секционная тороидальная обмотка 9. Все цилиндры размещены на каркасе 10, образованном параллельными направляюп;ими 11 и 12 для цилиндров 1-8 и механизмом регулировки поперечного размера каркаса, состоящим из сегментов 13-16, попарно соединенных посредством рычагов 1720, тяг 21-24, планок 25-26, винтов 27-28, и гаек 29 и 30. На направляющих- И и 12 цилшздры закреплены с помощью втулок 31. Тороидальные обмотки 10 подключены к раздельным выходам источника 32 питания, напряжение которого регулируется с пульта

33зт1равления. Для предохранения щлиндров от повреждения каркас 10 охвачен кожухом

34из неферромагнитного материала.

Имитатор работает слеодющим образом.

Вращением винтов .27 и 2S разводят сегменты 13 и 14, 15 и 16 до размеров контролирумого диаметра трубы, надевают на каркас 10 кожух 34..

Для настройки имитатор вводится в дефектоскоп и устанавливается в зоне контроля таким образом, чтобы средняя часть цилиндра, имитирующая, например, дефект наружной поверхности, типа трещина 1, находилась в плоскости расположения осей преобразователей дефектоскопа. Затем с пульта 33 управления включается источник 32 питания и устанавливается необходимой величины ток в секционной обмотке 9 этого цилиндра. Образующийся при этом в цилиндре магнитный ноток, встречая на пути нарутпение сплошности, создает над дефектом магнитное поле рассеяния необходимой величины и соответствующего распределе09 . ,4

;ния. По амплитуде и длительности сигналов, образующихся на выходе преобразователей, устанавливают критерии разбраковки для дефектов наружной поверхности, типа трещина. 5 Затем имитатор перемещается вдоль оси в зоне кошгроля до совмещения плоскости вращения преобразователей дефектоскопа со средней плоскостью цилиндра, имитирующего дефект наруисной поверхности, типа ппена, и опе0 рация по установлению критериев разбраковки применительно к данному дефекту проводится аналогично. После установления критериев разбраковки применительно к дефектам наружной поверхности переходят к установлению крите5 риев разбраковки применительно к подповерхностным дефектам и дефектам внутренней- поверхности. В процессе настройки преоЬразователи дефектоскопа скользят по наружной поверхности защитного кожуха, имитирующего

Q наружный диаметр труб, подлежащих контролю. Толщина кожуха имитирует рабочий зазор между торцом преобразователей и наружной поверхностью трубы в рабочем режиме.

Форма, размеры и ориентация полостей искусственных дефектов отражают наиболее характерные формы, размеры и ориентаиню полостей соответствующих дефектов. Это позволяет формировать магнитные поля рассеяния, приближающиеся к полям естественных дефек0 тов, что повыщает точность настройки и расширяет функциональные возможности имитатора, обеспечивающие настройку аппаратуры не только для выявления дефектов, но и для определения местоположения и типа дефектов. Малая длина цилиндров позволяет упростить процесс формирования полостей дефектов и не требует сложной оснастки. Цилиндры, образуюцше, две группы, обеспечивают использование имитатора для настройки дефектоскопа на контроль изделий определенного диапазона диаметров, что позволяет существенно сократить количество средств настройки. Секционные тороидальнь1е обмотки, подключенные к источнику питания, которые размещены на щлиндрах, позволяют при формировании по лей дефектов создавать индивидуальный режим намагничивания для каждого цилиндра, исключить нагревание цилиндров и учитывать изменение толщины стенки применительно к разным типоразмерам изделий. Использование

защитного неферромагнитного кожуха повыщает срсас службы имитатора.

Формула изобретения

1. Имитатор дефектов, содержаний цилиндр, выполненный из нескольких концентрических слоев с искусственшам дефектом в виле СКВОЗНОЙ прорези, но крайней мере, а олном из слоев вдоль образующей , отличающийся тем, что, с целью повышения точности настройки, он снабжен несколькими идентичными цилиндрами, секшюнными тороидальными обмотками по числу цилиндров, каркасом с направляющими для цилиндров и механизмом регулировки его поперечного размера. 6 2. Имитатор дефектов по п. 1, о т л я ч ю щ и А с я тем, что ои снабжен иеферроMat нитным кожухом, охватывающим каркас. Источ1тки информации, принятые во внимание при эксперткзе 1.Judd Т. W. Materlats Evaluation, 1970, N 1, с. 8-12.. 2.Авторское свидетельство СССР № 739391, кл. G 01 N 27/86, 1978 (прототип).

Похожие патенты SU911309A1

название год авторы номер документа
Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926584A1
Способ изготовления эталонных образцов для дефектоскопии 1989
  • Кудрявцев Сергей Иванович
  • Боровиков Александр Сергеевич
  • Троицкий Владимир Александрович
  • Кривасов Александр Константинович
  • Терещенко Николай Федорович
SU1705730A1
Способ имитации дефектов при настройке магнитных проходных дефектоскопов 1990
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Жукова Галина Андреевна
  • Грабовский Сергей Борисович
SU1716418A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1978
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Хватов Леонид Анатольевич
  • Конжуков Феликс Измайлович
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
  • Исаков Анатолий Николаевич
SU739391A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1990
  • Тихонов Василий Александрович
SU1763966A1
Способ имитации воздействия дефекта на электропотенциальный дефектоскоп 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Давыдов Николай Владимирович
SU1578626A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ НАСТОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ 2012
  • Иванов Эдуард Петрович
  • Источинский Данила Андреевич
  • Охотин Игорь Петрович
RU2538053C2
Образец для настройки дефектоскопов 1983
  • Белов Борис Михайлович
  • Баранова Марина Эмильевна
SU1096563A1
Имитатор дефектов 1984
  • Демидов Михаил Владимирович
SU1191813A1
Имитатор для настройки дефектоскопов 1980
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU926585A1

Иллюстрации к изобретению SU 911 309 A1

Реферат патента 1982 года Имитатор дефектов

Формула изобретения SU 911 309 A1

30 гд

фуг.

SU 911 309 A1

Авторы

Хватов Леонид Анатольевич

Жукова Галина Андреевна

Абрамов Валентин Валентинович

Щербинин Виталий Евгеньевич

Рябочко Иосиф Михайлович

Даты

1982-03-07Публикация

1980-04-10Подача