Рентгеновский спектрометр Советский патент 1982 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU918827A1

Изобретение относится к рентгеновскому анализу, а именно к рентгеновским спектрометрам, используемым для исследования монокристаллов.

Известен рентгеновский спектрометр, содержащий, рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно ячейки для исследуемого кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекто ял рентгеновского излучения и ячейку для исследуемого крйстсшла. Такой спектрометр позволяет работать в широком диапазоне углов дифракции рентгенбвских лучей Г1 Недостатком спектрометра является сложность юстировки, включающей кроме поворотов также параллельные перемещения кристаллов и детекторов излучения.;

Цель изобретения - упрощение юстировки .

Поставленная цель достигается тем, что спектрометр, содержсшдай рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно ячейки для исследуемого кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекторы рентгеновского излучения и ячейку для исследуемого кристалла.

имеет две платформы, скрепленные ве- ерообразно с возможностью поворота вокруг ячейки для исследуемого кристалла, на каждой из которых последовательно установлены кристалл-монохроматор, детектор, второй кристаллмонохроматор и второй детектор, при этом каждый из детекторов содержит два расположенных навстречу друг дру10гу входных окна, а кристалл-монохроматоры выполнены в виде монокристаллических пластин с прорезью.

На чертеже представлена принципиальная схема спектрометра.

15

Спектрометр содержит платформу 1, источник 2 рентгеновских лучей, монохроматоры 3 с устройствами юстировки и поворотов, детекторы 4 рентгеновского излучения, исследаекий

20 кристалл 5 с гониометрическим устройством юстировки и механическим приводом поворотов.

Платформа 1 с расположенными на ней источником 2, монохроматором 3

25 и детектором 4 образуют левый лучевой блок. Аналогичную конструкцию имеет и правый лучевой блок.

В обоих лучевых блоках исходящие из источника 2 рентгеновские лучи

30 последовательно отражаются от двух противоположных внутренних плоскостей поверхности прорези монокристаллических пластин, исполняющих роль монохроматоров 3, и падают на исследуемый кристалл 5. отражение левого рентгеновского луча от исследуемого 1кристалла 5 регистрируется ближайшим к нему детектором 4 правого лучевого блока, а отражение правого рентгенов ского луча - детектором 4 левого лучевого блока. Остальные детекторы 4 спектрометра служат для ю.стировки мо нохроматоров 3. Измерение приращений брэгговских углов отражения рентгеновских лучей от исследуемого кристалла 5 производят следующим образом. Поворотами лучевых блоков устанав ливают между двумя падающими рентгенoвcки tи лучами угол, равный 180-2е где б - брэгговский угол отражения. Подключают ближайшие к исследуемому кристаллу 5 детекторы 4 левого и пра вого лучевых блоков к устройствам регистрации интенсивности отраженных рентгеновских лучей. Включают механизм поворота исследуемого кристалла 5, а при записи- брэгговских максимумов отражения на диаграммную лен ту - механизм ее протяжки, работающий синхронно с механизмом поворота исследуемого кристалла 5. Приращение брэгговского уг. а отражения вычисляют как i d-j-u, где д w - измеренное в угловых единицах на диаграммной ленте расстояние между брзгговским максимумом отражения левого и правого рентгеновских лучей. Поскольку угол между падающими лу чами установлен равным 180°-29, в случае неизменного брэгговского луча угла .отражения, т.е. прий6 0, должно наблюдаться одновременное отражение обоих рентгеновских лучей при общем угле наклона исследуемого крис талла 5.- В случае приращения брэгго ского угла на величину дб , для нахождения отражения левого луча (как видно из чертежа) исследуемый кристалл 5 необходимо повернуть на вели чину йб влево, а для нахождения отражения правого рентгеновского луча. на величину &9 вправо. Таким образом, угол между отражающими положениями исследуемого кристалла 5 равен 2 де . Для улучшения условий работы детекторов 4 запись брэгговских макси мумов отражения можно производить при очередном отклонении рентгеновких трубок: правой - при регистраии брэгговского максимума отражеия левого падающего рентгеновского уча, левой - при регистрации брэгговского максимума отражения правого падающего рентгеновского луча. При этом, в случае необходимости, гловым смещением лучевых блоков можно для облегчения условий работы регистрирующих устройств спектрометра вводить дополнительное учитываемое рассогласование времени появления брэгговских максимумов отражения левого и правого падающих рентгеновских лучей в процессе непрерывного поворота исследуемого кристалла 5. Предлагаемый спектрометр позволяет при помощи установки дополнительных лучевых блоков производить одновременную запись регистрирующими .устройствами нескольких брэгговских максимумов с определением их угловых приращений, а также для упрощения технологии обработки исследуемого кристалла непосредственно в спектрометре закреплять исследуемый кристалл стационарно, а его установку под угол отражения и повороты в процессе записи кривых отражения заменять однозначными поворотами лучевых- блоков. Формула изобретения Рентгеновский спектрометр, содержащий рентгеновскую трубку с коллиматором, установленную на поворотной относительно ячейки дл.я исследуемо го кристалла платформе, кристалл-монохроматоры, детекторы рентгеновского излучения и ячейку для исследуемого кристалла, отличающийс я тем, что, с целью упрощения юстировки, имеет две платформы, скрепленные веерообразно с возможностью поворота вокруг ячейки для исследуемого кристалла, на каждой из которых последовательно установлены кристалл-монохроматор,. детектор, второй кристалл-монохроматор и второй детектор, при этом каждый из детекторов содержит два расположенных навстречу друг другу входных окна, а кристалл -монохроматоры выполнены в виде монокристаллических пластин с прорезью. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР 522458, кл. G 01 N 23/20, 1974 (прототип).

Похожие патенты SU918827A1

название год авторы номер документа
Устройство для исследования структуры монокристаллов 1978
  • Скупов Владимир Дмитриевич
  • Голицын Лев Александрович
SU779866A1
Рентгеновский спектрометр 1979
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU857816A1
Рентгеновский спектрометр 1980
  • Петряев Владимир Васильевич
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU920480A1
Рентгеновский спектрометр 1979
  • Скупов Владимир Дмитриевич
SU873067A1
Рентгеновский трехкристальный спектрометр 1983
  • Генкин Вилен Моисеевич
SU1104401A1
Рентгеновский спектрометр 1983
  • Ковьев Эрнест Константинович
  • Миренский Анатолий Вениаминович
  • Семилетов Степан Алексеевич
  • Дейген Михаил Иосифович
SU1141321A1
СПОСОБ ФАЗОВОЙ РЕНТГЕНОГРАФИИ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Ингал Виктор Натанович
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Бушуев Владимир Алексеевич
RU2115943C1
Рентгеновский трехкристальный спектрометр 1974
  • Ковьев Эрнест Константинович
  • Ковальчук Михаил Валентинович
  • Семилетов Степан Алексеевич
  • Имамов Рафик Мамед Оглы
  • Шилин Юрий Николаевич
SU522458A1
УСТАНОВКА ДЛЯ ТОПО-ТОМОГРАФИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ ОБРАЗЦОВ 2017
  • Асадчиков Виктор Евгеньевич
  • Бузмаков Алексей Владимирович
  • Дымшиц Юрий Меерович
  • Золотов Денис Александрович
  • Шишков Владимир Анатольевич
RU2674584C1
Дифрактометр 2017
  • Благов Александр Евгеньевич
  • Быков Александр Сергеевич
  • Кубасов Илья Викторович
  • Малинкович Михаил Давыдовыч
  • Писаревский Юрий Владимирович
  • Просеков Павел Андреевич
  • Таргонский Антон Вадимович
  • Элиович Ян Александрович
  • Пархоменко Юрий Николаевич
  • Ковальчук Михаил Валентинович
RU2654375C1

Иллюстрации к изобретению SU 918 827 A1

Реферат патента 1982 года Рентгеновский спектрометр

Формула изобретения SU 918 827 A1

SU 918 827 A1

Авторы

Генкин Вилен Моисеевич

Красильников Владимир Сергеевич

Макарычев Юрий Константинович

Тюрина Нина Ивановна

Даты

1982-04-07Публикация

1978-06-26Подача