Изобретение относится к области устройств, используемых в электронной технике, в частности к конструктивному изготовлению микротермоэлектрогенератора.
В применяемых термоэлектрических генераторах ЭДС возникает за счет разности энергии электронов в контактирующих материалах, разности энергии Фержи и наличия эффекта фононного увлечения. Значения термоЭДС в пленках и кристаллах p-In Sb 200-500 мкВ/К в диапазоне температур 100-300 К.
Микротермоэлектрогенератор изготовлен на основе перекристаллизованной пленки антимонида индия n - типа проводимости на слюдяной подложке и представляет собой монокристаллическую матрицу с низкоомными включениями двухфазной системы p - InSb + In, который отличается тем, что за счет этих включений неоднородностей в пленке на границе матрица - неоднородность в нем возникает аномально высокое значение термоЭДС, равное 700-800 мкВ/К в области температур 100-340 К.
Пленка n - InSb, полученная термической перекристаллизацией в вакууме слюдяной подложки, представляет монокристаллическую матрицу n - InSb стехиометрического состава с низкоомными включениями двухфазной системы p - InSb + In. Микротермоэлектрогенератор изготавливают из такой пленки, для чего на нее напыляют индиевые токовые контакты, к которым припаиваются эвтектическим сплавом In - Sb тонкие медные проволочки для измерения ЭДС. Один конец пленки поддерживается при температуре T1, а второй при температуре T2.
Температуры T1 и T2 измеряются хромельалюмелиевыми термопарами, имеющими полусферические головки, которые плотно прижимаются к поверхности пленки в местах контакта. Разность температур при измерениях в диапазоне 100-340 К составляла 15-20 К, ЭДС 10-12 мВ, а термоЭДС 700-800 мкВ/К.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ПЛЕНОЧНЫЙ ДАТЧИК ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ | 1998 |
|
RU2148791C1 |
ФОТОРЕЗИСТОР | 1995 |
|
RU2095887C1 |
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР (ВАРИАНТЫ) И СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ГЕНЕРАТОРА | 2005 |
|
RU2303834C2 |
ДАТЧИК ДЕФОРМАЦИИ | 1993 |
|
RU2087052C1 |
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ГЕНЕРАТОР НА ОСНОВЕ СУЛЬФИДА САМАРИЯ, ЛЕГИРОВАННОГО АТОМАМИ СЕМЕЙСТВА ЛАНТАНОИДОВ, И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) | 2012 |
|
RU2548062C2 |
ЭЛЕМЕНТ ОПТИЧЕСКОЙ ПАМЯТИ | 2000 |
|
RU2207638C2 |
МАГНИТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ КОМПОЗИТ | 2016 |
|
RU2633538C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОДИОДА НА АНТИМОНИДЕ ИНДИЯ | 2006 |
|
RU2313854C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КРУПНОГАБАРИТНЫХ МАЛОДИСЛОКАЦИОННЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ АНТИМОНИДА ГАЛЛИЯ | 2013 |
|
RU2534106C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КРУПНОГАБАРИТНЫХ МОНОКРИСТАЛЛОВ АНТИМОНИДА ИНДИЯ | 2012 |
|
RU2482228C1 |
Миrротермоэлектрогенератор на основе перекристаллизованной пленки n-InSb на слюдяной подложке представляет собой монокристаллическую матрицу n-InSb с низкоомными включениями двухфазной системы р-InSb+In. За счет этих включений - неоднородностей в пленке на границе матрица - неоднородность возникает аномально высокая термоЭДС, равная 700-800 мкВ/К в области температур 100-340 К.
Микротермоэлектрогенератор на основе пленки антимонида индия, отличающийся тем, что пленка антимонида индия n-типа проводимости, полученная термической перекристаллизацией в вакууме на слюдяной подложке, представляет собой монокристаллическую матрицу n - InSb с низкоомными включениями двухфазной системы p - InSb + In.
Касьян В.А | |||
Тонкие пленки антимонида индия | |||
- Кишинев: Штиинца, 1989, с.98 - 101 | |||
Термоэлемент | 1973 |
|
SU455702A1 |
0 |
|
SU94836A1 | |
US 3969149 A, 13.07.76 | |||
US 4626612 A, 07.12.86 | |||
Способ получения сальварсана | 1930 |
|
SU34538A1 |
Авторы
Даты
1999-05-10—Публикация
1996-11-26—Подача