СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАНОРЕЛЬЕФА ПОДЛОЖКИ Российский патент 2006 года по МПК G01N13/12 H01J37/28 

Описание патента на изобретение RU2280853C2

Изобретение относится к области машиностроения, а более конкретно к способам определения нанорельефа поверхности.

Известен способ определения нанорельефа поверхности, включающий сканирование над ней основного зонда посредством основного пьезопривода по "поверхности постоянного тока" [Марголин В.И. Основы нанотехнологии. - Учебное пособие // СПб.: СПБГЭТУ "ЛЭТИ", 2000. - 56 с., ил.].

Недостатком аналога является невозможность определения нанорельефа подложки, выполненного из диэлектрического или полупроводникового материала.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату является способ определения нанорельефа подложки, включающий сканирование над ней основного зонда посредством основного пьезопривода и измерение тока, протекающего в зондовой цепи с помощью прецизионного измерителя тока [Неволин В.К. Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии. - Учебное пособие // М.: МИЭТ, 2000. - 69 с., ил.].

Недостатком прототипа также является невозможность определения нанорельефа подложки, выполненного из диэлектрического или полупроводникового материала.

В основу изобретения положена техническая задача, состоящая в том, чтобы обеспечить определение нанорельефа подложки, выполненного из диэлектрического или полупроводнивого материала.

Техническая задача решается тем, что в способе определения нанорельефа подложки, включающем сканирование над ней основного зонда посредством основного пьезопривода и измерения тока, протекающего в зондовой цепи с помощью прецизионного измерителя тока, согласно изобретению, основной зонд устанавливают под углом 55°-65° к подложке, вводят дополнительный зонд, который также устанавливают под углом 55°-65° к подложке и под углом 60°-70° к основному зонду, основной и дополнительный зонды закрепляют на независимых дополнительных пьезоприводах, связанных с основным, регулируют расстояние между остриями основного и дополнительного зондов до получения туннельного зазора, а измерение тока осуществляют в зондовой цепи между основным и дополнительными зондами.

Введение в способ определения нанорельефа подложки дополнительного зонда с последующим измерением величины тока, протекающего между основным и дополнительным зондами, обеспечивает изменение тока в этой цепи при туннельном взаимодействии с любой поверхностью, в том числе диэлектрической или полупроводниковой, что и позволяет обеспечить определение нанорельефа подложки, выполненного из любого материала, также его стехиометрические характеристики.

Сущность изобретения поясняется чертежом, где показана схема устройства, реализующего способ определения нанорельефа подложки.

Устройство, реализующее способ (см. чертеж), содержит основной пьезопривод 1, жестко связанный с основанием 2. На основном пьезоприводе 1 установлены дополнительные 3 и 4, к которым крепятся основной 5 и дополнительный 6 зонды с остриями 7 и 8 соответственно.

В зондовой цепи 5-6 установлен прецизионный измеритель тока 9, изолированный от подложки 10. Зонды 5, 6 установлены под углом 55°-65° к подложке и 60°-70° между собой.

Способ определения нанорельефа подложки реализуется следующим образом.

Регулируют расстояние между остриями 7, 8 основного и дополнительного зондов 5, 6 до получения туннельного зазора с соответствующим туннельным током, величину которого измеряют посредством прецизионного измерителя тока 9. Затем посредством основного пьезопривода 1 осуществляют сканирование над подложкой 10 системы из двух зондов 5, 6 и измеряют значение тока в зондовой цепи 5-6 посредством прецизионного измерителя тока 9. Величина тока в зондовой цепи 5-6 зависит не только от нанорельефа поверхности подложки 10, но и ее материала, т.к. у различных материалов, различные величины "туннельного облака" электронов вблизи поверхности.

Применение предложенного способа позволяет определить нанорельеф подложки из любого материала, а также его стехиометрические характеристики.

Похожие патенты RU2280853C2

название год авторы номер документа
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП 2011
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Скрипаль Александр Владимирович
  • Лаптев Александр Григорьевич
  • Лаптев Александр Александрович
RU2461839C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОРМЫ И РАЗМЕРОВ ОСТРИЯ ИГЛЫ ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА 2010
  • Карташев Владимир Алексеевич
  • Карташев Всеволод Владимирович
RU2449294C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ НАНОЧАСТИЦЫ 2010
  • Акчурин Гариф Газизович
  • Акчурин Георгий Гарифович
RU2431151C1
СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЭТИМ МИКРОСКОПОМ 1996
  • Решетов В.Н.
  • Гоголинский К.В.
RU2109369C1
СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ НАНОМАРКИРОВОК НА ИЗДЕЛИЯ 2008
  • Запороцкова Ирина Владимировна
  • Кислова Татьяна Викторовна
RU2365989C1
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МИКРООБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1993
  • Кислов В.В.
  • Колесов В.В.
  • Перевощиков В.А.
RU2092863C1
ТЕСТОВАЯ СТРУКТУРА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ РАЗМЕРОВ ОСТРИЯ ИГЛЫ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА 2006
  • Бобринецкий Иван Иванович
  • Неволин Владимир Кириллович
  • Строганов Антон Александрович
  • Чаплыгин Юрий Александрович
RU2308414C1
УСТРОЙСТВО ПОДВИЖКИ ОБРАЗЦА 2005
  • Полторацкий Эдуард Алексеевич
  • Редченко Владимир Викторович
  • Соколов Дмитрий Юрьевич
RU2377620C2
ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП 2016
  • Шелковников Евгений Юрьевич
  • Гуляев Павел Валентинович
  • Тюриков Александр Валерьевич
  • Липанов Святослав Иванович
  • Жуйков Богдан Леонидович
  • Кириллов Андрей Игоревич
  • Ермолин Кирилл Сергеевич
RU2638941C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТИ ПЛЕНКИ 1993
  • Иванов А.Ю.
  • Федоров А.С.
  • Неволин В.К.
RU2072587C1

Реферат патента 2006 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАНОРЕЛЬЕФА ПОДЛОЖКИ

Использование для определения нанорельефа подложки, выполненной из диэлектрического или полупроводникового материала. Сущность: основной зонд устанавливают под углом 55°-65° к подложке, вводят дополнительный зонд, который также устанавливают под углом 55°-65° к подложке и под углом 60°-70° к основному зонду. Основной и дополнительный зонды закрепляют на независимых дополнительных пьезоприводах, связанных с основным. Регулируют расстояние между остриями основного и дополнительного зонда до получения туннельного зазора, а измерение тока осуществляют в зондовой цепи между основным и дополнительными зондами. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 280 853 C2

Способ определения нанорельефа подложки, включающий сканирование над ней основного зонда посредством основного пьезопривода и измерение тока, протекающего в зондовой цепи с помощью прецизионного измерителя тока, отличающийся тем, что основной зонд устанавливают под углом 55-65° к подложке, вводят дополнительный зонд, который также устанавливают под углом 55-65° к подложке и под углом 60-70° к основному зонду, основной и дополнительный зонды закрепляют на независимых дополнительных пьезоприводах, связанных с основным, регулируют расстояние между остриями основного и дополнительного зондов до получения туннельного зазора, а измерение туннельного тока, характеризующего нанорельеф подложки, осуществляют в зондовой цепи между основным и дополнительным зондами.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2006 года RU2280853C2

СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МИКРООБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1993
  • Кислов В.В.
  • Колесов В.В.
  • Перевощиков В.А.
RU2092863C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ СКАНИРУЮЩИМ ЗОНДОВЫМ МИКРОСКОПОМ 1999
  • Лапшин Р.В.
RU2175761C2
Способ исследования поверхности твердого тела туннельным микроскопом 1991
  • Губайдуллин Фирдус Фаатович
  • Бухараев Анастас Ахметович
  • Назаров Андрей Владимирович
SU1778820A1
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СЛОЯ НА ПРОВОДЯЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ 1993
  • Мордвинцев В.М.
  • Левин В.Л.
RU2047930C1

RU 2 280 853 C2

Авторы

Ивашов Евгений Николаевич

Степочкин Андрей Андреевич

Кузькин Владимир Иванович

Даты

2006-07-27Публикация

2003-02-12Подача