Изобретение относится к области полупроводниковой микроэлектроники, а именно к технологии контроля функциональных и динамических параметров многовыводных кристаллов БИС.
Для подсоединения контролирующих схем к кристаллам БИС служат специальные контактные устройства с фиксированным (жестким) расположением контактирующих зондов. Такие устройства, называемые обычно проб-картами, многозондовыми головками или жесткими зондовыми головками (ЖЗГ), широко используются в составе зондовых установок для осуществления электрической связи с контактными площадками кристаллов БИС. При измерениях контактирующие кончики иголок ЖЗГ одновременно опускаются на контактные площадки кристалла, создавая надежное электрическое соединение с металлизированными контактными площадками кристаллов БИС.
Известны Автоматические зондовые станции для контроля кристаллов БИС [Зонд А5, фирмы ООО «Вито-техникс», Москва], использующие перестраиваемые многозондовые устройства для контактирования с кристаллами.
Недостатками такого устройства контактирования являются их громоздкость (диаметр устройства 26 см), и, в связи с этим, невозможность работы с ним на современных зондовых установках, особенно при криогенных температурах, и ограниченное число индивидуально настраиваемых зондов (60 по кругу, следовательно, по 15 на каждую сторону кристалла)
Наиболее близким к предлагаемому техническому решению являются многозондовые устройства, с зондами, жестко закрепленными на печатных платах с помощью слоев эпоксидной смолы [УКФ-5, Контактные устройства с фиксированным расположением зондов, справочные материалы завода «Планар», г. Минск, Беларусь]. Обычно зонды изготавливают из вольфрамовой проволоки диаметром от 250 до 300 мкм. Контактирующий кончик иголки утоньшен электрохимическим способом с углом заточки порядка 3-6° до радиуса кончика ~25 мкм. Рабочий кончик иголки формируют путем его загиба под углом ~70° на расстоянии 0,3÷0,5 мм от его начала на диаметре меньше 100 мкм (фиг. 1).
Одним из недостатков такого метода формирования зонда состоит в том, что в месте загиба кончика иголки происходит ослабление металла из-за нарушения его структуры, так как в обычных условиях вольфрам недостаточно пластичный. При комнатной температуре он не поддается обработке давлением из-за его хрупкости, возможно даже расщепление проволоки при гибке, особенно для неотожженного металла.
Во время измерения параметров кристаллов БИС при азотной температуре ситуация осложняется из-за высокой склонности вольфрама к ломкости при низкой температуре. Это приводит к деформации иголок, особенно в месте загиба кончика зонда. После нескольких корректировок формы иголки кончик зонда может отломиться, что приводит к неработоспособности всей ЖЗГ и необходимости ее замены на новую.
Задача изобретения состоит в увеличения прочности зондов ЖЗГ.
Технический результат достигается тем, что по всей поверхности зоны загиба каждого зонда (по «кругу») наносится слой материала, увеличивающий прочность зоны загиба зонда (фиг. 2). Для работы только при комнатной температуре достаточно покрыть эти места эпоксидной смолой для формирования упрочняющей капли клея в зоне загиба.. ЖЗГ, используемые при азотных температурах, можно упрочнить путем облуживания по всей поверхности зоны загиба припоем, например твердым припоем на основе серебра, у которого КТР ближе к вольфраму, чем у эпоксидной смолы. На фиг. 3 представлен внешний вид блока зондов экспериментальной ЖЗГ с упрочняющими каплями эпоксидной смолы в зоне загиба зондов. Для увеличения эластичности слоя эпоксидной смолы в нее вносится наполнитель, например порошок нитрида бора.
Проведен цикл контактирований зондов с контактными площадками кристаллов БИС, после которых не была замечена деформация зондов ЖЗГ.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ изготовления жестких зондовых головок | 2019 |
|
RU2730888C1 |
Способ сборки жестких зондовых головок | 2020 |
|
RU2753495C1 |
Контактирующая головка для проведения четырёхзондовых измерений | 2021 |
|
RU2778212C1 |
Открытая зондовая установка тестирования матричных фотоприёмников и способ ускоренного тестирования матричных фотоприемников | 2016 |
|
RU2624623C1 |
ЗОНДОВАЯ ГОЛОВКА | 1990 |
|
RU2035131C1 |
МНОГОЗОНДОВЫЙ ДАТЧИК КОНТУРНОГО ТИПА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА | 2003 |
|
RU2244256C1 |
Способ сборки многозондовой головки | 1991 |
|
SU1810831A1 |
МНОГОЗОНДОВЫЙ ДАТЧИК КОНСОЛЬНОГО ТИПА ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА | 2003 |
|
RU2249263C1 |
СОСТАВ НА ОСНОВЕ МОДИФИЦИРОВАННОЙ РАСТВОРИТЕЛЕМ СМОЛЫ И СПОСОБЫ ЕГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ | 2004 |
|
RU2363071C2 |
ЗОНД НА ОСНОВЕ ПЬЕЗОКЕРАМИЧЕСКОЙ ТРУБКИ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА | 2005 |
|
RU2300150C1 |
Изобретение относится к области полупроводниковой микроэлектроники, а именно к технологии контроля функциональных и динамических параметров многовыводных кристаллов БИС. Задача изобретения состоит в увеличения прочности зондов ЖЗГ. Технический результат достигается тем, что по всей поверхности зоны загиба каждого зонда наносится слой материала, увеличивающий прочность зоны загиба зонда. Для работы только при комнатной температуре достаточно покрыть это место каплей клея, например, на основе эпоксидной смолы. Для работы при азотных температурах зонды можно упрочнить облуживанием поверхности зоны загиба припоем, например твердым припоем на основе серебра. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.
1. Способ увеличения прочности зондов многозондовых головок, включающий в себя загиб кончиков всех зондов, прецизионную приклейку зондов на печатную плату по требуемой схеме, отличающийся тем, что по всей поверхности зоны загиба каждого зонда наносится слой материала, увеличивающий прочность зоны загиба зонда.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что при использовании многозондовой головки при измерениях при комнатной температуре, наносят упрочняющий слой клея, например слой эпоксидной смолы.
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что при использовании многозондовой головки при измерениях при комнатной и азотной температурах, наносят упрочняющий слой припоя, например слой твердого серебряного припоя.
Зондовая головка | 1979 |
|
SU843325A1 |
Измерительный зонд и способ его изготовления | 2017 |
|
RU2654385C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ БЕЗВЫХОДНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ | 1993 |
|
RU2083024C1 |
Контактное устройство преимущественно для устройств контроля печатных плат | 1984 |
|
SU1228310A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЗОНДОВ НА ОСНОВЕ КВАРЦЕВЫХ РЕЗОНАТОРОВ | 2006 |
|
RU2402782C2 |
0 |
|
SU166158A1 | |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ АМИНОПРОИЗВОДНЫХ 1,2-АНТРАХИ- НОН-1', 2', 5'-ТИАДИАЗОЛА | 0 |
|
SU172838A1 |
ЗОНДОВАЯ ГОЛОВКА | 0 |
|
SU301624A1 |
Зондовое устройство для измерения электрических параметров изделий микроэлектроники | 1986 |
|
SU1536528A1 |
ЗОНД | 2000 |
|
RU2176397C1 |
JP 2012037506 A, 23.02.2012 | |||
US 9069014 B2, 30.06.2015 | |||
Способ имплантации искусственного хрусталика глаза | 1985 |
|
SU1296145A1 |
Авторы
Даты
2020-06-22—Публикация
2018-12-17—Подача