Способ настройки дефектоскопа Советский патент 1984 года по МПК G01N29/04 

со

О)

со со Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки дефектоскопа при ультразвуковом контроле изделий. . Известен способ настройки ультразвукового де(ктоскопа,заключающийся в том, что в эта- лонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают отраженные от дефекта эхо-сигналы при заданном уровне приема, а. по амплитуде этих сигналов устанавливают чувствительность контроля 1. Однако известный способ имеет низкую точность настройки из-за неравномерности амплитуды эхо-сигналов, отраженных от различных участков дефекта. 1 Наиболее близким к изобретению является шособ настройки дефектоскопа, заключающийс в том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхо-сигналы, отраженные от дефекта при заданном уровне приема, и по ак0шн1 де этих сигналов устанавливают уровень чувствительности дефектоскопа 2. Недостаток данного способа заключается в том, что невозможно проводить настройку дефектоскопа с требуемой вероятностью дефекта что снижает надежность проведения контроля. Цель изобретения - повышение точности настроен. Цель достигается тем, что согласно способу настройки дефектоскопа, заключающемуся в том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхо-сигналы, отраженные ot дефекта при заданном уровне приема, и по амплитуде этю. сигналов устанавливают уровеиь чувствительности .дефектоскопа, определя ют амплитуду эхо-сигналов при сканировании норьетрованного дефекта по всей его длине и п6 этим амплитудам выбирают уровень . вствительности дефектоскопа, а вероятность выявления дефекта при выбранном уровне чзвствительности определяют по отношению длины участков дефекта, от которых амплитуда эха-сигнала выше заданного уровня, к общей его длине. Способ настройки дефектоскопа осуществляется следзтощим образом. В эталонном образце с нормированным дефектом, например в виде риски с определенной глубиной, возбуждают ультразвуковые колебания. Принимают эхо-сигналы, отраженные от дефекта, и измеряют их амплитуду при определенном уровне приема. Затем осуществляют сканирование нормированного дефекта по его длине и измеряют амплитуду отраженных от разлншых участков дефекта эхо-сигналов. По изменению амплитуды эхо-сигналов вдоль длины дефекта определяют вероятность обнаружения дефекта поочередно при каждом уровне чувствительности дефектоскопа. За вероятность принимают отношение суммарной длины участков дефекта, амплитуда отраженных эхо-сигналов от которых выше каждого поочередно рассматриваемого уровня чувствительности дефектоскопа, к общей протяженности дефекта. Далее по вычислениым отношениям строится вероятностная кривая, описывающая вероятность обнаружения данного дефекte в зависимости от уровня чувствительности дефектоскопа. При контроле уровеш. чувствительности выбирается по точке на вероятностной кривой в Пределах диапазона вероятностей, исходя из требований, предъявляемых условиями работы контролируемых изделий, и соотношения уровней перебраковки и недобраковки. Таким образом, предлагаемый способ наctpoihcH )ектоскопа позволяет значительно повысить точность настройки, поскольку выбираемый- при контроле уровень чувствительности дефектоскопа обеспечивает с требуемой верюятностью выявление дефектов.

СПОСОБ НАСТЮЙКИ ДЕФЕКТОС1СО. ПА, заключающийся в том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхосигналы, отраженные от дефекта при заданном уровне приема, я по амплитуде этих сиполов, устанюливают урсюень чувствительности дефектоскопа, отличающийся тем, что, с целью повышения точности настройки, опреде.1яют амплитуду эхо-сигналов при сканирования нормированного дефекта по всей его длине и по этим амплитудам выбирают уровень чувствителыюс1И дефектоскопа, а вероятность выявжнкя дефекта пря выбранном уровне чувствителыюсти определяют по отношению длины участков дефекта, от которых амплитуда эхо-сигнала выше заданного урогкя приема, к обшей его длине.