Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам Советский патент 1984 года по МПК B07C5/08 

Изобретение относится к контрольно-сортировочной технике и может быть использовано для сортировки по группам годности изделий электронной техники, например интегральных микросхем. Известно устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсе кателем, электрически связанный с измерительной системой,/сортировочный механизм и привод 1. Недостатком известного устройства является низкая производительность из-за больших потерь времени на вспомогательные операции. Целью изобретения является повышение производительности. Указанная цель достигается тем что устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной системой, сортировочный механизм и привод, имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых расположен следом за соответствующим контактирующим узлом. На фиг. 1 изображено устройство для сортировки микросхем; на фиг. 2 -14 - лоток устройства в различные фазы его работы, разрез. Устройство для сортировки микросхем по электрическил параметрам содержит питатель 1, наклонный лоток 2, два контактирующих узла, каждый из которых выполнен в виде двух подвижных колодок 3 и 4, 5 и 6 с контактами 7 и отсекателями 8 и 9, сортирующий механизм, выполненный в виде подвижных частей 10 и 11, которые жестко связаны между собой при помощи вилки 12, шарнирно установленной на оси 13, перемещающийся возвратно-поступательно перпендикулярно лотку 2 подпружиненный прижим 14, размещенный в подвижном корпусе 15, и два щтыря-отсекателя 16 и 17, возвратно-поступательно перемещающиеся перпендикулярно лотку 2, привод и измерительную систему (не показаны). На лотке 2 размещены микросхемы 18-22, подлежащие сортировке. Устройство для сортировки микросхем работает следующим образом. (Исходное положение механизмов устройства для сортировки показано на фиг. 2). Поток микросхем из питателя 1 под действием собственного веса соскальзывает в лоток 2 и останавливается, когда микросхема 18 будет остановлена отсекателем 8 (фиг. 3). Затем включается привод устройства (не показан). Колодки 3 и 4 контактного узла, перемещаясь, сжимают микросхему 18, через контакты 7 подключая ее к измерительной системе (не показана), при этом осуществляется измерение электрических параметров микросхемы 18. После окончания измерения электрических параметров микросхемы 18 колодки 3 и 4 контактного узла возвращаются в исходное положение, отсекатель 8 и подпружиненный прижим 14 перемещаются вниз, при этом микросхема 18, если она годна, получает возможность соскальзывать вниз по лотку 2 до штыря-отсекателя 16 (фиг. 4), после чего штырь-отсекатель 17, пропустив через себя микросхему 18, перемещается вверх, преграждая путь микросхемам по лотку 2. Отсекатель 8 и прижим 14 совершают пос ВДОвательно возвратно-поступательные перемещения вверх-вниз-вверх, отделяя от всего потока изделий микросхему 19 с неизмеренными электрическими параметрами и сбрасывая ее на щтырь-отсекатель 17, и дают возможность переместиться микросхеме 20 вниз до отсекателя 8 (фиг. 5). Во время перемещений, совершаемых отсекателем 8, прижимом 14 и штырямиотсекателями 16 и 17, колодки 5 и 6 контактного узла сближаются, совершая движение, аналогичное, движению колодок 3 и 4, но та.к как у отсекателя 9 при запуске устройства нет микросхемы, первый цикл измерения пропускается. После возврата колодок 5 и 6 контактного узла в исходное положение, колодки 3 и 4 контактного узла сжимают микросхему 20, под1рючая ее к измерительной системе и осуществляя измерение ее электрических параметров. Во время измерения электрических параметров микросхемы 20 отсекатель 9 и штырьотсекатель 16 поочередно опускаются, при этом микросхема 18 получает возможность перемещаться далее по лотку 2 (фиг. 6). Пропустив микросхему 18 отсекатель 9 поднимается (штырь-отсекатель 16 остается пока в нижнем положении), а штырь-отсекатель 17 опускается, сбрасывая микросхему 19 на отсекатель 9 в зону колодок 5 и 6 контактного узла (фиг. ,7), после чего штырь отсекатель 16 поднимается, преграждая путь микросхеме 20, которая находится под контактами 7 колодок и 4 контактного узла (фиг. 8). С этого момента элементы устройства вновь занимают исходное положение, но на отсекателе 9 в зоне колодок 5 и 6 контактного узла находится микросхема 19 с неизмеренными электрическими парамет.рами. После окончания измерения электрических параметров микросхемы 20 и колодки 3 и 4 отходят от нее и отключают ее от измерительной системы, а колодки 5 и 6 контактного узла сжимают микросхему 19, подключая ее к измерительной системе. Осуществляется измерение электрических параметров микросхемы 19. Во время измерения электраческих параметров микросхемы 19 отсекатель 8 и прижим 14 выполняют ранее описанные операции, т. е. сбрасывают микросхему 20, если она годная, на штырь-отсекатель 16 (фиг. 9), после подъема штыря-отсекателя 17 сбрасывают на штырь 17 микросхему 21 с неизмеренными параметрами, а затем дают переместиться вниз до отсекателя 8 микросхеме 22 со всем потоком микросхем, находящихся на лотке. После окончания измерения электрических параметров микросхемы 19 она отключается от измерительной системы, а подключается микросхема 22. Во время измерения электрических параметров микросхемы 22 отсекатель 9 перемещается вниз, освобождая путь микросхеме 19, которая, если она годная, соскальзывает далее по лотку 2 (фиг. 11), после чего штырь-отсекатель 16 также опускается и микросхема 20 также соскальзывает дальше по лотку 2 (фиг. 12). Пропустив микросхему 20, отсекатель 9 поднимается, а щтырьотсекатель 17 опускается, и микросхема 21 соскальзывает до отсекателя 9 (фиг.. 13), после чего щтырь-отсека те ль 16 поднимается Б верхнее положение (фиг. 14), и элементы устройства вновь занимают исходное положение и готовы к повторению следующего цикла работы. Если при измерении электрических параметров оказывается, что микросхема, на-, ходящаяся под контактами 7 колодок 3 и 4 или 5 и 6 контактного узла, негодна (или не соответствует заданной группе), то перед тем как отсекатель 8 или 9 отпустят удерживаемую ими микросхему, от измерительной системы поступает сигнал на исполнительное устройство (не показано), которое поворачивает вилку 12. При .этом подвижные части 10 и 11 лотка 2 поднимаются и микросхема, не соотвутствующая заданной группе, проваливается в образовавшийся проем в лотке 2.

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СОРТИРОВКИ МИКРОСХЕМ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАМЕТРАМ, содержащее питатель лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной систе15 мой, сортировочный механизм и привод, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности, оно имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два.приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых расположен следом за соответствующим контактирующим узлом. (Л со ; 05 to 05 Vui.l

77

S -,./ ,7

8

1В Ср 20 21 22

гни Им im I ГН III

IS

11 J3

/

фиг.1 9

n

11 19

Пв

ш

фиг.В 2 7///5/2 7/7 / 2/5

Ш

рбжДпг ш ™ш

/3t7i/2.5

L/fLlfLf g f

: 117ЙвШ№

L; V 1 f

Ji i I//III If I 11 n jTT lII fji

/LUl

.7/

75 13 20 у З 16 17 21 77/ . .

fl

iiiiiiiiii

H

фиг.12

y /U /U

//« / f/:

,.;

rtfa

. /J

/7 / /11 /I

8 13 20 2 9 III ///

V / /

j

фиг. Iff

7 77

21 z2

-,1 / ,r 1111 HI I )11И,

:

/

/

,

//

ч I им 11 III UJL

ЛЗ

T

17 2 S

tof

ll 11 III I 111

I I iii 111

/L

/

В 22

n

f у ,

Il l.lllll|l|-l-M

JUJ

/

10

f,22.