Способ лазерного атомно-ионизационного анализа Советский патент 1985 года по МПК G01N21/39 

Описание патента на изобретение SU1155919A1

1 Изобретение относится к спектрал нойу анализу с применением лазеров как йсточников возбуждения и может быть использовано в лазерном атомно ионизационном способе анализа. Известен способ лазерного атомно ионизационного анализа, основанный на регистрации ионов, селективно образующихся в результате воздействи лазерного излучения на с предепяемые атомы, возникающие в результате рас пыления в пламя анализируемых раств ров. При этом излучение лазеров на красителях настраивают на частоту соответствун ще1;о атомного перехода и селективно возбуждают определяемы атомы. Возбужденные атомы в дальнейшем за счет столкновений в пламени с частицами окружающего их газа ионизуются. Причем в завйсимости от потенциала ионизации атома для перевода его в высоколежащее возбужденное состояние используют излучение одного или нескольких лазеров на красителя х, настроенных на соответствующие переходы в атоме Образующиеся в результате лазерного воздействия ионы детектируют с помощью Зонда, сигнал с которого подают на усилитель, а затем на регистрирующее устройство. Зонд представляет собой и -образный катод в виде двух пластин или проволок, расположенных параллельно друг друг и параллельно распространению лазерного луча. Катод находится вне пламени, но в электрическом контакте с периферийной зоной пламени. На катод подают отрицательный потенциал относительно щелевой насадки на горелку, которая является анодом L1. Недостатками данного способа являются большое влияние элементов с низкими Потенциалами ионизации на сигнал определяемого элемента, а Также невысокая чувствительность определения, обусловленная удаленностью аналитической зоны, просвечиваемой лазером, от поверхности катода. Наиболее близким к предлагаемому является способ атомно-ионизационно го анализа, включакмций распыление в пламя анализируемого раствора, пр свечивание пламени излучением одног или Нескольких лазеров с частотами, соответствующими определенным атом 2 ным переходам, регистрацию образующихся в результате воздействия лазерного излучения ионов определяемых элементов с помощью зонда, помещенного непосредственно в пламени. Зонд представляет собой охлаждаемую водой трубку из нержавеющей стали, на которую подают отрицательньй потенциал относительно насадки на горелку. Лазерный луч проходит в непосредственной близос- и от зонда и . параллельно ему. Данный способ в основном использовался для определения следов металлов в пробах, матрица которых сравнительно легко атомизуется С2. Недостатком данного способа является невозможность определения элементов в труднолетучих матрицах из-за разрьюа электрической цепи детектирования атомно-ионизационного сигнала за счет осаждения на катоде труднолетучих и плохо проводящих электрический ток компонентов матрицы (например SiOj , ), что приводит к уменьшению сигнала вплоть до его исчезнования в зависимости от концентрации труднолетучей матрицы. К тому же применение такого охлаждаемого водой катода приводит к ухудшению предела обнаружения элементов в пламени, поскольку температура просвечиваемой лазером зоны пламени вблизи поверхности зонда снижается,ЧТО приводит к уменьшению вероятности столкновений возбужденных атомов определяемых элементов с окружанщими их частицами плаиени и, в свою очередь, к уменьшению столкновительной ионизации. Цель изобретения - улучшение пределов обнаружения и чувствительности анализа элементов в труднолетучих и плохо проводящих электрический ток матрицах пробы путем предохранения зонда от образования на его поверхности плохо проводящей элежтри- ческий ток пленки. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу лазерного атомно-ионизационного анализа, включающему распыление в пламя анализируемого раствора, просвечивание пламени излучением одного или нескольких лазеров с частотами, соответствующими определенным атомным переходам, регистрацию ионов oпpeдeляe e к элементов помещенным в пламя зондом.

Похожие патенты SU1155919A1

название год авторы номер документа
Способ атомно-ионизационного анализа 1986
  • Матвеев Олег Игоревич
SU1376013A1
Лазерный атомно-ионизационный спектрометр 1987
  • Марунков А.Г.
  • Чекалин Н.В.
  • Кацков Д.А.
SU1434955A1
СПОСОБ ЛАЗЕРНОГО ФОТОИОНИЗАЦИОННОГО ЭЛЕМЕНТНОГО И ИЗОТОПНОГО АНАЛИЗА 1989
  • Беков Г.И.
  • Компанец О.Н.
SU1825122A1
Способ измерения пространственного распределения атомных концентраций 1983
  • Турсунов Амиркул Турсунович
  • Эшкабилов Напас Бекназарович
SU1092387A1
Способ анализа элементного состава веществ 2021
  • Темкин Вячеслав Витальевич
  • Певгов Вячеслав Геннадьевич
  • Панин Александр Михайлович
RU2756784C1
Способ спектрального анализа 1978
  • Чупахин Михаил Сергеевич
  • Дорофеев Вячеслав Сергеевич
  • Михайлов Николай Сергеевич
  • Плетнева Тамара Ивановна
  • Грибков Владимир Иванович
SU746772A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕТАЛЛОВ И КОМПЛЕКСНЫХ СОЕДИНЕНИЙ МЕТАЛЛОВ 2013
  • Гречников Александр Анатольевич
  • Алимпиев Сергей Сергеевич
  • Никифоров Сергей Михайлович
  • Симановский Ярослав Олегович
  • Бородков Алексей Сергеевич
RU2531762C1
СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗОТОПНОГО АНАЛИЗА 1991
  • Калыгин В.В.
RU2047245C1
СПОСОБ ЛАЗЕРНОГО АТОМНО-ФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА 1989
  • Большов М.А.
  • Компанец О.Н.
SU1818958A1
Способ селективного лазерного анализа следов элементов в веществе (его варианты) 1983
  • Беков Георгий Ибрагимович
SU1124205A1

Реферат патента 1985 года Способ лазерного атомно-ионизационного анализа

СПОСОБ ЛАЗЕРНОГО АТОМНО-ИОНИЗАЦИОННОГО АНАЛИЗА, включакнций распыление в пламя анализируемого раствора, просвечивание пламени излучением одного или нескольких лазеров с частотами, соответствующими определенным атомным переходам, регистрацию ионов определяемых элементов помещенным в пламя зондом, отличающийся тем, что, с целью улучшения пределов обнаружения и чувствительности анализа элементов в труднолетучих и плохо проводящих электрический ток матрицах пробы путем предохранения зон- ; да от образования на его поверхности плохо проводящей электрический ток пленки, дополнительно нагревают зонд электрическим током до температу1М 1 улетучивания матрицы пробы.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1155919A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Turk G.C
Travis Т.С
De Voe I.R
Haver Т.С.О
Laser Enhanced Jonization Spectrometry in Analytical Ffames
Anat
Chem., 1979, V
Способ запрессовки не выдержавших гидравлической пробы отливок 1923
  • Лучинский Д.Д.
SU51A1
Электрическая лампа накаливания с ослаб ленной конвекцией 1923
  • Гузевич Д.Г.
SU1890A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Turk G.C
Reduction of Matrix Jonization interference in Laser ;Enhanced Jonization Spectrometry
Приспособление для изготовления в грунте бетонных свай с употреблением обсадных труб 1915
  • Пантелеев А.И.
SU1981A1
Веникодробильный станок 1921
  • Баженов Вл.
  • Баженов(-А К.
SU53A1
Геликоптерный винт 1921
  • Смирнов Е.П.
SU1187A1

SU 1 155 919 A1

Авторы

Зоров Никита Борисович

Кузяков Юрий Яковлевич

Новодворский Олег Алексеевич

Чаплыгин Владимир Ильич

Волчков Игорь Владимирович

Даты

1985-05-15Публикация

1983-11-24Подача