Способ рентгенорадиометрического анализа Советский патент 1986 года по МПК G01N23/223 

Изобретение относится к рентгено- флуоресцентному анализу и может быть использовано при анализе элементного состава плоских образцов.

Целью изобретения является повышение чувствительности анализа путем снижения концентрационного вырождения.

На фиг.1 приведена схема датчика, на котором произведена экспериментальная проверка способа; на фиг,2 и экспериментальная зависимость отношения плотности потоков от содержания соответственно ВаО и Sb, Oj при разных углах падения первичных гамма-квантов.

Изобретение осуществляют следующим образом.

Датчик рентгенорадиометрического анализатора устанавливают в точке анализа непосредственно на поверхность эталонного или анализируемого образца 1. Источник 2 рентгеновского излучения расположен на длинной оси окна пропорционального счетчика 3. Предварительно возбуждают флуоресцентное рентгеновское излучение элементов ряда эталонных проб. Регистрируют отношение Ni/Ns :плотности потока характеристического излучения элемента к плотности потока однократно рассеянного источника при раз ньк углах падения первичных гамма- квантов с интервалом 10-15 в диапазоне 0-90 . Из полученной последовательности значений Ni/Ns выбирают максимальное значение и устанавли- вают угол падения первичного пучка, при котором Ni/Ns максимально. Измерение образцов осуществляют при этом угле падения первичного излучения.

Пример 1. Для возбуждения характеристического рентгеновского излучения использовался источник на основе нуклида самарий - 145. Регисрация излучения осуществлялась пропорциональным счетчиком с ксеноновым наполнителем СИ11Р-3„ В мониторном режиме измерялось отношение плотност потока характеристического излучения (Ni) бария к плотности потока однократно рассеянного излучения источника (NS). Зависимость отношения плотностей потоков при разных углах

10

fS

20

30

0

5

0

, ф представлена на фиг.2, Измерения выполнялись на одинаковых по составу эталонных пробах двухканальным спектрометром Проба 6, Измерение содержания бария в анализируемых образ-, цах осуществляли при угле Cf 45 .

Пример 2, Для проведения данного примера использовались те же средства, что и в примере 1.

Исследовалась эталонная проба на содержание сурьмы (Sb 0). Предва- рительно найдено 5 что при угле Cf 30 отношение плотностей потоков максимально, Зависимость отношения плотностей потоков от содержания сурьмы представлена на фиг.З. Определение содержания сурьмы в анализируемых образцах осуществляли при q 30.

из представленных на фиг. 2 и 3 данных видно, что с увеличением содержания элемента в наполнителе (SiOj) только при определенном угле cf наблюдается сохранение линейности эталонировочнрго графика в широком диапазоне содержаний определяемых элементов, что в итоге приводит к повышению точности анализа, особенно в области больших (1%) содержаний определяемого элемента.

Формула изобретения

Способ рентгенорадиометрического анализа состава плоских образцов, заключающейся в облучении образца гамма- или рентгеновским излучением, регистрации отношения интенсивностей. характеристического рентгеновского излучения определяемого элемента и однократно рассеянного излучения, по которому находят содержание определяемого элементна отличающийся тем, что. с целью повышения чувствительности анализа, предварительно облучают эталонные образцы коллимированным пучком первичного излучения, регистрируют названное отношение интенсивностей при нескольких углах падения первичного излучения в диапазоне 0-90, находят угол падения, при котором значение названного отношекик максимально, а при зтом угле падения находят содержа ше определяемого элемента в анализируемом образце.

,

/5

BaD 4

r 2 3 5 в 7 S сриг,3Sb205,%

ВНИИПИ Заказ 1605/50 Тираж 778 Подписное

Филиал ППП Патент,

г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к рент- генорадиометрическому анализу состава образцов. Образец получают гам- ма-или рентгеновским излучением и регистрируют характеристическое из- лучение определяемого элемента и однократно рассеянное . образцом излучение при .выбранном угле падения первичного излучения . Выбор угла падения первичного излучения- осущег. ствляют на эталонном образце, содержащем определяемый элемент. Изменяя угол падения первичного излучения, находят такое его значение, при кот тором на эталонном образце получает ся максимальное значение отношения интенсивностей характеристического излучения определяемого элемента и однократно рассеянного излучения. Изобретение позволяет повысить чувствительность анализа. 3 ил. ГС 1C ел ел со