Камера для рентгеноструктурного анализа поликристаллов Советский патент 1986 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1223105A1

1

Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, к средствам рентгенографического исследова- ния поверхностных слоев материалов и может быть использовано при кон- троле образцов и изделий в различных областях техники.

Цель изобретения - повьшение чувствительности анализа благодаря улучшению фокусировки и повышению точности регистрации углов наклона и скольжения при исследовании поверхностных слоев массивных образцов, а также пленок, фольги и покрытий различной толщины.

На фиг. 1 представлена камера, продольньш разрез; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. U на фиг. 3 - разрез Б-Б на фиг. 2.

Камера состоит из основания 1, вставок 2, плиты 3, имеющей продольный паз, и трех юстировочных винтов 4. На плите 3 расположен лимб 5, фиксирующий установку угла oi по нониусу 6, укрепленному на основа- НИИ 1, держателя 7 образцов с двумя накладными пластинами 8. Держатель образцов помещен внутрь кассеты, состоящей из верхней 9 и нижней 10 крыщек, соединенных скобой 11 с флю оресцентным экраном 12. Для замены образца предусмотрено окно, закрывающееся крышкой 13. Рентгеновская пленка 14 прижимается двумя половинками прижима 15 к вертикальным бур- крьщ1ек кассеты. Ось поворота кассеты 16 жестко соединена с основанием через пластины 17 и 18 и вставки 19 и 20, на ней же фиксируется лимб 21 прижимом 22, стрелка .23 закреплена на верхней крышке кассеты. Диафрагмы 24 и 25, формирующие первичный пучок, установлены в горизонтальном отверстии оси поворота кассеты. В пазах плиты и осно- вания расположена штанга 26 с цапфо 27 и крестовиной 28, вертикальная ось цапфы совпадает с осью держателя образцов, а вертикальная ось крестовины с осью поворота кассеты. Для контроля линейного перемещения держателя образцов предусмотрена ли нейка 29, установленная на основании, нониус 30; связанный с цапфой.

Настройка и эксплуатация камеры производятся следующим образом.

Оси держателя 7 образца, цапфы 2 поворота кассеты 16, крестовины 28

5

диафрагм 24 и 25 располагаются в одной.плоскости. Рентгеновский луч, пройдя через обе диафрагмы 24.и 25, попадает на середину флюоресцентного экрана 12. После установки образца в держателе 7 половина луча затеняется. В этом случае держатель 7 образца и кассета находятся в нулевом положении, т.е. ci , где 06 - угол между первичным пучком и поверхностью образца, у - угол поворота кассеты. В этом положении получают отметку на пленке 14, необходимую для расчета углов скольжения при рентгенографировании после поворота кассеты относительно оси кассеты 16 на угол у. Затем по выбранной величине толщины объекта рассчитывают и устанавливают углы ai, y(90-oi)| по лимбам 5 и 21, а по линейке 29 расстояние sin (и, где R - радиус кассеты. Оси .поворота кассеты, держателя образцов и интерференционные максимумы находятся на окружности фокусировки. После этого включают источник рентгеновских лучей и получают рентгенограмму с фокусировкой

по схеме Зееман-Болина. Нулевая точ- ка располагается слева от отметки на угол ,

Устройство известной камеры по сравнению с предпагаемой ре позволяет осуществлять фокусировку дифрагированных лучей, требует большей экспозиции при рентгенографировании параллельным пучком меньшей интенсивности и снижает точность анализа дифракционной картины вообще, особенно при исследовании объектов на малых углах наклона.

Формула изобретения

Камера для рентгеноструктурного анализа поликристаллов, включающая разборную кассету с верхней и нижней крышками, между которыми установлены держатель диафрагм и держатель образцов с лимбом для отсчета углов oi наклона первичного пучка к поверхности образца, отличающаяся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа благодаря улучшению фокусировки и по- вътенюо точности регистрации углов наклона и скольжения при исследовании поверхностных слоев массивных объектов, а также пленок, фольги и покрытий различной толщины, кассета

31223105

выполнена поворотной и снабжена лим- ния, перпендикулярного оси поворота бом отсчета углов у , а держа- кассеты на расстояние , тель образцов установлен с возмож- где R - радиус кассеты и окружнос- ностью перемещения вдоль направле- ти фокусировки.

74

9 Ц 7 8 8

Tf 23

Фиг.1

Похожие патенты SU1223105A1

название год авторы номер документа
Способ послойного рентгеноструктурного анализа поверхностных слоев поликристаллов 1985
  • Почта Виктор Николаевич
  • Бодрова Ольга Ивановна
  • Тихонович Вадим Иванович
SU1318872A1
Способ рентгеноструктурного анализа поликристаллических образцов 1980
  • Колеров Олег Константинович
  • Логвинов Анатолий Николаевич
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Юшин Валентин Дмитриевич
SU976358A1
Установка для скоростного рентгено-структурного анализа 1939
  • Альтшулер Л.В.
SU71253A1
Способ неразрушающего послойного рентгеноструктурного анализа поликристаллических массивных объектов 1984
  • Колеров Олег Константинович
  • Логвинов Анатолий Николаевич
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Юшин Валентин Дмитриевич
SU1221558A1
Рентгеновская камера 1983
  • Попов Игорь Николаевич
  • Цырлин Михаил Давидович
  • Алабужев Петр Михайлович
  • Ковалев Дмитрий Вячеславович
  • Кабалдин Александр Дмитриевич
  • Семин Аркадий Владимирович
SU1125517A1
Рентгеновский дифрактометр 1988
  • Юшин Валентин Дмитриевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Калышенко Михаил Федорович
  • Мишин Михаил Иванович
SU1599733A1
РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР 1972
SU329454A1
Камера для рентгеноструктурного анализа кристаллов 1978
  • Юшин Валентин Дмитриевич
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Логвинов Анатолий Николаевич
SU741123A1
Кассета для рентгенографической камеры 1941
  • Сирота Н.Н.
SU68370A1
Способ определения толщины поликристаллических пленок 1979
  • Юшин Валентин Дмитриевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Логвинов Анатолий Николаевич
SU859890A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 223 105 A1

Реферат патента 1986 года Камера для рентгеноструктурного анализа поликристаллов

Изобретение позволяет повысить чувствительность рентгеноструктурно- го анализа поликристаллов благодаря улучшению фокусировки и повышению точности регистрации углов наклона и скольжения при исследовании поверхностных слоев массивных объектов. Рентгеновский луч-, пройдя диафрагмы, попадает на середину флуоресцентного экрана. После установки образца в держателе половина луча затеняется, и т.о. определяют, что держатель и кассета находятся в нулевом положении. В этом положении получают отметку на пленке, необходимую для расчета углов скольжения при рентгенографировании. Кассета выполнена поворотной и снабжена лимбом для отсчета углов, а держатель может перемещаться вдоль направления, перпендикулярного оси поворота кассеты на расстояние sinod, где R - радиус кассеты и окружности фокусировки, с6 - угол наклона пер- вичного пучка к поверхности образца. 3 ил. ko

Формула изобретения SU 1 223 105 A1

30 29

Фиг. 2.

fff

Составитель Е.Сидохин Редактор Н.Бобкова Техред В.Кадар Корректор С.Шекмар

1704/45

Тираж 778Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, .Москва, Ж-35, Раушская иаб., д. 4/5

Филиал ШШ Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1223105A1

Русаков А.А
Рентгенография металлов
- М.: Атомиздат, 1977, с
Приспособление для подачи воды в паровой котел 1920
  • Строганов Н.С.
SU229A1
Камера для рентгеноструктурного анализа кристаллов 1978
  • Юшин Валентин Дмитриевич
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Логвинов Анатолий Николаевич
SU741123A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 223 105 A1

Авторы

Скрябин Валентин Григорьевич

Колеров Олег Константинович

Логвинов Анатолий Николаевич

Юшин Валентин Дмитриевич

Даты

1986-04-07Публикация

1984-07-19Подача