Образец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов Советский патент 1986 года по МПК G01N29/04 

1

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для определения размеро и глубины залегания дефектов типа непроклея в слоистых материалах, на- пример, в стеклопластиках.

Цель изобретения - расширение, функциональных возможностей образца и повышение точности определения размеров дефектов, путем обеспечения возможности контроля дефектов, расположенных на разной глубине и за счет лучшей имитации дефекта типа непроклея в образце.

На фиг, 1 изображен образец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов, вид сверху; на фиг. 2 то же, разрез, вид сбоку,

Образец содержит прямоугольные пластины 1-3 материала, соединенные между собой слоями 4 клея, размещенные в последних между пластинами 1 и 2 модели 5-7 дефектов и между пластинами 2 и 3 модели 8-10 дефектов, образующие соответственно два парал- лельных боковым поверхностям 11 и 12 ряда моделей дефектов с монотонно изменяющимися в каждом ряду на шаг, равный заданной точности изме рения, размерами, причем размещенньш на разной глубине одинаковые по размерам модели 5и8, 6и9, 7и10 дефектов, образуют ряды, параллельные боковым поверхностям 13 к 14 образца. Каждая модель дефекта вьшол нена в виде двух слоев 15 и 16 пленки из материала с акустическим сопротивлением, близким к акустическому сопротивлению материала пластин, причем слой 15 пленки соответствует по размерам и форме дефекту и размещен на поверхности одной из пластин, а слой 16 пленки превьш1ает по размерам слой 15 пленки и за счет наличия липкого слоя 17 на его.поверх- ности прикреплен к слою 15 пленки и пластине. При этом непроклей создается только между пластиной слоем 15 пленки. В качестве пленки может быть использована полихлорвинило

вая пленка толщиной 0,05-0,1 мм.

Позициями 18 и 19 (фиг. 1) обозначены ультразвуковые преобразователи

Образец использучот следующим образом.

Наклонными преобразователями 18 и 19 в процессе их перемещения по поверхности образца, сначала симметрично относительно ряда моделей 5-7

6 J

дефектов, затем относительно ряда моделей 8-10 дефектов, излучают и прин1-гма1от ультразвуковые колебания, измеряют при этом амплитуды сигналов от каждого дефекта, строят их оги- бакщз™, измеряют максимальную амплитуду огибающей и ширину ее раскрытия на заданном уровне, например, равном 0,5 от максимальной амплитуды, сравнивают их с величинами этих же параметров сигналов, полученных яри той же базе измерения на контролируемом изделии и по равенству максимальных ампхштуд, огибающих, определяют глубину залегания дефекта в изделии, а по равенству величин ширины раскрытия - его размер.

Таким образом, образец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых ма- терис1лов обладает более широкими функципнальными возможностями вследствие обеспечения возможности контроля дефектов, расположенных на разной глубине,, и позволяет повысить точность определения размеров дефектов за счет лучшей имитации реальных дефектов типа непроклея в образце.

Формула изобретения

Образец для ультразвуковой дефектоскопии слоистых материалов, выполненный в виде двух склеенных между собой прямоугольных пластин материала с моделями дефектов, размещенных в нем, в параллельном его боковым поверхностям ряду, в порядке монотонного изменения их размеров, отличающийся тем, что, с целью расширения фучкциональньи возможностей образца и повышения точности определения размеров дефектов, образец снабжен по меньшей мере одной до- ; полнительной пластиной, склеенной с одной нз основных и соответственно по меныв:ей мере одним рядом моделей дефектов, аналогичным первому, ряды моделей дефектов размещены между

разными пластинами в клеевом слое и образуют параллельные другой боковой поверхности образца ряды моделей дефектов одинакового размера, размещенных на разной глубине, причем каж дня модель дефекта выполнена в виде двух слоев пленки из материала с аку тичecкиN сопротивлением, близким к акустическому сопротивлению материала пластин 5 первый из которых соот- ветствует по размерам и форме дефекиз пластин, а второй превышает по

и пластинам.

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для дефектоскопии слоистых материалов, ншример стеклопластиков. Целью изобретения является повьшение удобства эксплуатации за счет обеспечения возможности контроля дефектов, расположенных на разной глубине и точности определения размеров дефектов за счет лучшей имитации дефекта в образце. Образец содержит прямоугольные пластины материала, соединенные между собой слоями клея, размещенные в последних между пластинами модели дефектов, образующие соответственно два параллельных боковым поверхностям ряда моделей дефектов с монотонно изменякхцимися в каждом ряду размерами. Каждая модель -дефекта выполнена в виде двух слоев пленки из материала с акустическим сопротивлением,, близким к акустическому сопротивлению материала пластин, первый из которых соответствует по размерам и форме дефек- ,ту и размещен на поверхности одной из пластин, а второй превыпает по размерам первый и приклеен к нему и пластинам. В процессе контроля изделия сравнивают максимальную амплитуду огибакщей сигналов от дефекта и ширину ее раскрытия на заданном уровне с величинами этих же параметров, полученных для различных моделей дефектов на образце, по равенству величин первого параметра определяют глубину залегания дефекта, а по равенству величин второго параметра - размер дефекта. 2 ил.

п

12

фиеЛ

Х :;::;--.-.Г -:-СЛ::--:1 :

.

76

I.ly/yJL.

/7 rS

Л

Редактор Н.Воловик

ffius.Z

Составитель М.Андреева Техред-И. Верес

Заказ 1945/44

Тираж 778Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, ГоУжгород, ул.Проектная, 4

Ко рре к тор Г. Реше тник