Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий Советский патент 1986 года по МПК G01B21/08 G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU1252669A1

1

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения толщины диэлектрических по крытий малой прочности типа густых смазок методом сквозного прокальша- ния.

Цель изобретегшя - повышение точности измерения толщины покрытий путем точной фиксации момента касания индентором покрытия.

На чертеже представлена схема уст ройства.

Устройство состоит из корпуса 1, на котором смонтирован механизм 2 перемещения индентора, преобразователь 3 положения индентора и изолиру ющая прокладка 4 с датчиком 5 достижения индеитором основы изделия, На штоке 6 механизма перемещения смонтированы электромеханический резонансный вибратор 7 и преобразователь 8 амплитуды колебаний. На подвижном элементе вибратора 9 укреплен индентор 10. Выход преобразователя 8 амплитуды колебаний соединен с входом включения преобразователя 3, а выход датчика 5 достижения основы изделия устройства соединен с входом остановки преобразователя 3 и схемой I1 возврата механизма перемещения в исходное положение

Устройство работает следующим образом.

Изделие с покрытием устанавливают на изолирующую прокладку с датчиком 5 достижения индентором основы изделия так, что его проводящая основа касается датчика. Включается вибратор 7 и механизм 2 перемещения индентора. Подвижный элемент вибратора 7 при этом совершает колебания в плоскости, перпендикулярной направлению перемещения индентора 10, наличие которых фиксируется преобразователем 8 амплитуды колебаний. В момент достижения индентором 10 поверхности покрытия амплитуда колеба52669

НИИ резко уменьшается и на выходе

преобразователя 8 амплитуды колеба- НИИ появляется сигнал, включающий преобразователь 3 положения инденто5 ра, Когда индентор 10 достигает подложки изделия, замыкается электрическая цепь между индентором 10 и основой изделия, и с датчика 5 устройства снимается сигнал остановки

10 преобразователя 3 и возврата механизма 2 перемещения в начальное положение .

Выходной сигнал преобразователя, соответствующий в момент остановки

15 измеренной толщине покрытия, выводится на индикацию.

Формула изобретения

20 1. Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий, содержащее корпус, индентор с механизмом перемещения, преобра зователь положения индентора и датчики достиже25 ния индентором поверхности покрытия и основы изделия, отличающееся тем, что, с целью повьшения точности измерения, датчик достижения индентором поверхности покрытия

30 выполнен в виде электромеханического резонансного вибратора, ус анов- ленного между индентором и механизмом перемещения, и преобразователя амплитуды колебаний индентора, вы35 ход которого соединен с входом включения преобразователя положения индентора, а выход датчика достижения индентором основы изделия соединен с входом остановки преобразователя

40 положения индентора.

2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что оно снабжено схемой возврата механизма перемещения в исходное положение, вход

5 которой соединен с выходом датчика достижения индентором основы изделия.

Похожие патенты SU1252669A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения толщиныдиэлЕКТРичЕСКиХ пОКРыТий 1977
  • Крагельский Игорь Викторович
  • Логинов Анатолий Родионович
  • Сачек Борис Ярославович
  • Шпинев Владимир Николаевич
SU821909A1
Устройство для измерения параметров рельефа поверхности и механических свойств материалов 2019
  • Воронин Николай Алексеевич
  • Решетов Владимир Николаевич
  • Усеинов Алексей Серверович
  • Масленников Игорь Игорьевич
RU2731039C1
Прибор для испытаний материалов на микротвердость 1990
  • Запорожец Владимир Васильевич
  • Закиев Ислам Мустафаевич
  • Никитин Юрий Александрович
SU1793294A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ 2009
  • Гоголинский Кирилл Валерьевич
  • Решетов Владимир Николаевич
  • Круглов Евгений Владимирович
RU2425356C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ И МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ 2012
  • Гоголинский Кирилл Валерьевич
  • Мещеряков Вячеслав Викторович
  • Решетов Владимир Николаевич
  • Мелекесов Эдуард Владимирович
  • Усеинов Алексей Серверович
RU2510009C1
ЭЛЕКТРОАКУСТИЧЕСКИЙ ТВЕРДОМЕР 1992
  • Брызгало В.Н.
  • Карташевич Р.С.
  • Тугенгольд А.К.
RU2042942C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ 1996
  • Решетов В.Н.
  • Гоголинский К.В.
RU2108561C1
Способ электроискрового нанесения покрытий и устройство для его осуществления 2020
  • Поддубняк Виктор Яковлевич
  • Семенов Андрей Григорьевич
RU2740936C1
Способ определения толщины тонких покрытий 1985
  • Милешкин Михаил Борисович
  • Музыка Евгений Исаевич
  • Палатник Михаил Исаакович
  • Лукьянов Евгений Федорович
  • Мамин Георгий Иванович
  • Налетов Владимир Михайлович
  • Савченко Алексей Павлович
SU1229687A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ И МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ 2010
  • Гоголинский Кирилл Валерьевич
  • Решетов Владимир Николаевич
  • Мещеряков Вячеслав Викторович
  • Мелекесов Эдуард Владимирович
  • Усеинов Алексей Серверович
RU2442131C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 252 669 A1

Реферат патента 1986 года Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения толщины диэлектрических покрытий малой прочности типа густых смазок методом сквозного прокалывания. Цель изобретения - повышение точности измерения толщины по- крыти). Устройство содержит инден- тор, механизм его перемещения, электромеханический резонанснг. й вибратор, на подвижном элементе которого укреплен индентор, преобразователь амплитуды колебаний и датчик достижения основы изделия. Индентор совершает колебательные движения в плоскости, перпендикулярной его перег ещению. При покрытия амплитуда колебаний иидентора уменьшается, а при касании основы срабатьпзает датчик достижения основы. По этим cHrnan. if-i включается и останавливается преобразователь положения индентора и схема возврата механизма перемещения индентора в начальное положение. 1 з.п.ф-лы, I ил. 43 сл ND О1

Формула изобретения SU 1 252 669 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1252669A1

Устройство для измерения толщиныдиэлЕКТРичЕСКиХ пОКРыТий 1977
  • Крагельский Игорь Викторович
  • Логинов Анатолий Родионович
  • Сачек Борис Ярославович
  • Шпинев Владимир Николаевич
SU821909A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 252 669 A1

Авторы

Крымский Михаил Львович

Кумок Юрий Захарович

Флакс Виктор Яковлевич

Даты

1986-08-23Публикация

1985-01-02Подача