Способ подготовки образца для электронномикроскопического исследования Советский патент 1987 года по МПК G01N1/28 G01N1/36 

Изобретение относится к технике электронной микроскопии, а именно к методам подготовки образцов, предназначенных для исследования в просвечивающих электронных микроскопах.

Цель изобретения - упрощение способа, достигаемое за счет облегчения производства операций фиксации образца, его утонения и универсальности приготовленных образцов.

На фиг..1 изображена оправа с образцом, общий вид; .на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1.

Заготовку образца 1, например отрезок проволоки толщиной 0,12 - 0,20 мм, помещают в с-образную выемку 2 оправы 3 и фиксируют слоем керамического связующего 4, например цемента (стоматологического). Оправа 3 может быть выполнена вырубкой из фольги, например, нержавеющей стали 12Х18Н10Т толщиной 0,12-0,16 мм и иметь форму диска диаметром 3 мм (согласно общепринятому размеру образца). Размеры выемки имеют, как правило, ширину 1,25 мм и глубину 2 мм. После отверждения связующего его наплывы и выступающие боковые поверхности 5 образца 1 срезают до уровня боковых поверхностей оправы 3. В случае, когда толщина образца меньше толщины корпуса, заодно с об{ азцом обрабатывают и поверхности оправы.

Оправа с образцом может быть установлена в гальванической ванне, причем образец 1 свободным концом прижимают к положительному контакту

0

5

0

5

0

5

являющемуся анодом. Слой связующего 4 герметично уплотняет образец 1 и вместе с тем электрически изолирует оправку 3 от образца и поэтому не вносит погрешность при снятии вольт- амперной характеристики системы образец - электролит.

Электрополированный образец в средней части утоняется до образования отверстия и становится чрезвычайно хрупким. Наличие постоянной оправы обеспечивает свободное и надежное манипулирование на всех операциях, связывая их в единый технологический процесс.; существенно повышается производительность труда оператора, создаются предпосылки для механизации и автоматизации приготовления образцов крупными партиями.

Формула изобретения

Способ подготовки образца для электронно-микроскопического исследования, включающий установку образца в оправу, его фиксацию твердеющим веществом и последующее утонение, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа, образец устанавливают в выемке оправы, выполненной в виде диска, таким образом, что часть образца выступает за образующую диска, а в качестве твердеющего вещества используют диэлектрическое керамическое связующее, которым заполняют зазор между образцом и внутренней поверхностью выемки.

А

Изобретение относится к технике электронной микроскопии. Цель - упрощение способа подготовки образца

Фиг. 2

ВНИИПИ Заказ 7637/44 Тираж 776

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Подписное