Стенд для испытания электромагнитных муфт Советский патент 1987 года по МПК G01M13/00 

5 6

п.. и .1

,/ Мггж

9 f2 1Ч

М 17 V

е

8 7

Фиг 1

16

1130 1602

Изобретение относится к машине- При подаче питания в цепь испытуе- строению, а именно к испытательному мой муфты 10 последняя включается с оборудованию для электромагнитных запаздыванием, которое равно времени, муфт.необходимому для соприкосновения конЦель изобретения - упрощение кон- 5 тактной полоски 16 со скользящим конструкции и повьппение надежности рабо- тактом 17 (фиг. 2 и 3), С этого моты стенда путем исключения дополни- мента валы 8 и 12 вращаются синхрон- тельных деталей и импульсных датчиков. но, так как скользящий контакт 17 и

На фиг. 1 показана кинематическая контактная полос-. :а 16 неподвижны от- схема стенда; на фиг. 2 - узел I на 0 носительно друг друга и замыкают цепь фиг. 1; на фиг. 3 - разрез А-А на питания муфты 10. фиг. 2.

Стенд состоит из привода 1 (фиг.1), оценки величины момента муфты цепной передачи 2 со звездочками 3 8 нагружается механизмом 15 с по- и 4, зубчатой шестерни 5, установлен- 5 степенным увеличением его тормозного ной со звездочкой 4 на валу 6 и сцеп- момента. ленной с шестерней 7, жестко закрепленной на охватывдкщем валу 8. На од- Кота тормозной момент механизмом конце последнего жестко закреп- ма 15 превысит значение момента, колен поводок 9 с возможностью взаимо- 20 торый муфта 10 может передать без действия с фрикционными дисками испы- проскальзывания, диск 13 начинает от- туемой электромагнитной муфты 10, а. ставить, от дискаЧ 1 вследствие про- на втором конце полого вала 8 жестко скальзывания полумуфтами муфты 10. закреплен диск 11 . Испытуемая муф- По мере относительного скольжения кон- та 10 установлена на конце охватывае- такты 16 и 17 смещаются друг относимого вала 12, который размещен внутри тельно друга, электрическая цепь раз- . охватывающего полого вала 8, а на вто- рывается, а индикаторное устройство . ром конц-е охватываемого вала 12 за- показано) показывает величийу креплен диск 13, установленный напро- предельного момента, передаваемого ти-в диска 11. Вал 12 с помощью вту- - муфтой 10. лочно-пальцевой муфты 14 соединен с

механизмом 15 нагружения, например Форм.ула изобретения порошковым тормозом, имеющим датчик момента (не показан).Стенд для испытания злектромагНа диске 11 закреплена контактная 35 нитных муфт, содержащий охватывающий полоска 16 (фиг. 2 и 3), а на дис- и охватываемый валы с элементами для ке 13 - скользящий контакт 17, поджа- соединения с испытуемой муфтой, при- тый к контактной полоске 16 пружи- вод, соединенный с охватывающим ва- ной 18. На дисках 11 и 13 имеются то- лом, и нагрузочный тормоз, соединен- косъемные кольца 19 и 20 (фиг. 2), 40 ный с охватываемым валом, о т л и- Муфта 10 включена последовательно с чающийся тем, что, с целью контактами 16 и 17.упрощения конструкции и повышения наСтен д работает следующим образом. дежности, он снабжен двумя дисками, Вращение от привода 1 через звез- жестко закрепленными на охватываемом дочку 3, передачу 2 и звездочку 4 пе- 45 охватывающем валах, а на дисках редается на вал 6, с которого при по- установлены контактные элементы, вклю- мощи шестерни 5 - на шестерню 7 и ченные последовательно в цепь пи- охватываклций вал 8. Последний приво- тания испытуемой куфты с возможностью дит во вращение поводок 9 и диск 11 взаимодействия между собой и с воз- (фиг. 1).50 можностью размыкания цепи питания

При этом охватываемый вал 12 непо- испытуемой муфты при их взаимном уг- движен.ловом смещении.

фиг. г

12

71

76

77

фиг.з

Изобретение относится к области машиностроения, а именно к испытательным устройствам. Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение надежности стенда путем исключения дополнительных деталей и импульсных датчиков. Испытуемая муфта 10 устанавливается на конце вала 12 с возможностью взаимодействия с поводком 9 вала. 8. На противоположных концах валов 8 и 12 жестко закреплены диски 1 1 и 13, снабженные взаимодействующими контактными элементами 16 и 17. При взаимном угловом смещении дисков 11 и 13 контактные элементы 16 и 17 размыкают цепь питания испытуемой муфты 10, 3 ил. (Л