Устройство для определения максимумов яркости в изображении Советский патент 1987 года по МПК G06K9/00 

Изобретение относится к некогерентным оптическим устройствам обработки информации и.предназначено для использования в системах автоматизации производственных процессов, В частности, пространственный пиковый детектор предназначен для обнаружения максимумов освещенности заданного уровня в изображении объекта.

13

Цель изобретения ч- повышение точ- ности устройства.

На фиг, 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг, 2 - зависимость сопротивления слоя фотопроводника от площади освещенной поверхности; на фиг, 3 - зависимость погрешности измерения максимальной освещенностис в изображении от процента заполнения приемной поверхности максимумом освещенности.

Устройство содержит проводящие . электроды 1 и 2 и слой 3 проводника.

Устройство работает.следующим образом.

Конфигурация подключения проводящих электродов, представленных на фиг, 1, обусловливает эквивалентную схему в виде множества параллельных резисторов. При большой кратности (10 -10) изменения сопротивления слоя фотопроводника с изменением освещенности, появляющееся при освещении малого участка, одно малое сопротивление шунтирует всю цепь, что характеризует наличие максимума излучения в заданном (контролируемом) поле,

При . кратности сопротивлений

10 зависимость сопротивления

5l Rt«

от площади освещенной поверхности характеризует зависимость, приведенная на фиг, 2, где вертикальная ось характеризует сопротивление R, горизонтальная - отношение площади 5 освещенной поверхности к полной площади Sj приемной поверхности.. Сопротивление такого пространственного пикового детектора изменится не более, чем на 1,5%, относительно тем- нового сопротивления R при изменении плошади S.t; светового пятна 0,5- 100% относительно полной площади S приемной поверхности,

Так как слой фотопроводника 3 выполнен со свёрхлинейной фотопроводимостью, то в режиме малых освещен3360592

костей (1-20 Лк) при изменении освещенности Е в 2 раза сопротивление R слоя фотопроводника изменится в 7-8 с раз. В результате этого погрешность измерения 3 , вносимая равномерной по площади Sj-S приемной поверхности фоновой освещенностью EI, составля- .ющей 50% от измеряемой освещейности 10 EJ, изменяется от нуля до 0,2% при

иэменении площади S освещенного участка, составляющей от 100 до 0,5% полной площади Sj,

С помощью предложенного устрой15 ства возможно измерение максимальной яркости (освещенности) в. локальных участках поля.

При измерении освещенности в локальных участках, характеризующих

20 максимумы излучения объекта, погрешность измерения максимальной освещен- ности в локальных участках связана с отношением площади этого участка к полной площади S приемной поверх25 ности и обычно связана с неполным заполнением приемной поверхности измерителя изображением локального контролируемого участка. Зависимость погрешности измерения максимальной

30 освещенности в изображении объекта от процента заполнения приемной поверхности максимумом освещенности характеризует зависимость, приведенная на фиг, 3, .

Предельная пространственная разрешающая способность пространственного пикового детектора определяется расстоянием между строками и ши риной строки меандра, зависит от

40 технологических возможностей, обеспечиваемых оборудованием, и достигает единиц .микрон. При максимальной полной площади приемной поверхности, составляющей 5-6 см , предельная

45 пространственная разрешающая способность составляет 3-10 -5-10 элементов на приемную поверхность или 1,7х 10 -7-10 линий на сторону,

50 Ф .0 р м у л а и. 3 о. & р е т е н и я

Устройство для определения максимумов яркости в изображении, содержащее диэлектрическое основание, на 55 котором расположен слой фотопроводника оптическую плутоновую маску и проводящие электроды, о т л и ч а - ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности устройства, проводя35

встречно расположенных гребенок, которые расположены на слое фотопрока расположена над проводящими электродами,