Способ ультразвукового теневого контроля изделий Советский патент 1988 года по МПК G01N29/04 

Изобретение относится к области акустических методов неразрушающего контроля и может быть использовано при ультразвуковой (УЗ) дефектоскопии изделий теневым методом.

Целью изобретения является расширение области применения и повышение информативности за счет одновременного определения произвольной глубины залегания и размера дискового дефекта.

На фиг. 1 представлена схема УЗ теневого контроля изделий; на фиг.2 - график зависимости амплитуды А сиг- нала на выходе приемного преобразователя от величины смещения Р его акустической оси относительно оси дискового дефекта.v

Способ УЗ теневого контроля изде- ЛИЙ заключается в следующем.

УЗ преобразователи располагают со- осно по разные стороны изделия. Одним из преобразователей излучают УЗ колебания, а другим преобразователем принимает прошедшие через изделие коле- бания. Сканируют изделие преобразователями и в процессе сканирования измеряют амплитуду принятых колебаний.При обнаружении дефекта по уменьшению амп литуды принятых колебаний находят такое положение преобразователей, при котором амплитуда принятых, колебаний соответствует локальному максимума

А„„ , вызванному светлым пятном на

мокс

оси дефекта, и фиксируют преобразователи в этом положении. Затем смещают приемный преобразователь ПО поверхности изделия в одном направлении до

тех пор, пока амплитуда принятых колебаний не примет значения 0,707 А,,. Измеряют величину смещения Р между акустическими осями преобразователей и вновь смещают приемный преобразователь по поверхности изделия в том же направлении до тех пор, пока амплитуда принятых колебаний не примет минимального значения. Измеряют величину смещения Р между акустиче/;кими осями преобразователей. Размер и глубину залегания дискового дефекта определяют по измеренным величинам смещений PC и .

Способ УЗ теневого контроля изделий реализуют следующим образом.

Нг противоположных поверхностях контролируемого изделия 1, например, трехслойного изделия толщиной 500 мм из полимерных материалов со скоростью

g

о

5 о

5

0

распространения УЗ колебаний, равной 2000 м/с, соосно устанавливают УЗ преобразователи 2 и 3 с точечным контактом на частоту 400 кГц. Преобразователем 2 излучают УЗ колебания, а преобразователем 3 - принимают. В ходе сканирования изделия 1 преобразователями 2 и 3 измеряют амплитуду сигнала на выходе преобразователя 3 и по ее уменьшению регистрируют наличие типичного дефекта 4 для данного изделия 1 - отслоения дисковой формы. Сканируя изделие 1 соосными преобразователями 3 и 2, находят такое их положение, при котором в зоне тени дефекта 4 амплитуда сигнала на выходе преобразователя 2 максимальна и равна величине А. Явление Пуассона,обуславливающее наличие позади экрана светлого пятна на его оси, объясняется неполным взаимопогашением сигналов от нечетных и четных зон Френеля в плоскости дефекта 4, все точки которых согласно принципу Гюйгенса являются вторичньми излучателями сферических волн. Оставляя неподвижным излучающий преобразователь 2,смещают приемный преобразователь 3 в сторону до тех пор, пока амплитуда сигнала на его выходе не примет значения 0,707 измеряют смещение Р преобразователя 3 относительно первоначального положения. Величина смещения Р(ч определяет радиус зоны максимального значения регистрируемого сигнала и связана с радиусом в дисковом дефекте 4 и расстоянием Z от него до приемного преобразователя 3 выражением:

(1)

5

где А - длина волны УЗ. колебаний в материале контролируемого изделия.

Затем смещают в том же направлении приемньй преобразователь 3 до тех пор, пока амплитуда сигнала на его выходе не примет минимального значения Ад,и измеряют смещение Р преобразователя 3 относительно первоначального положения. - Величина смещения Р определяет радиус физической тени и связана с радиусом b дискового дефекта 4 и расстоянием Z от него до приемного преобразователя 3 выражением

(2)

Изобретение относится к области акустических методов неразрушающего контроля. Целью изобретения является расширение области применения и повышение информативности за счет одновременного определения глубины залег гания и размера дискового дефекта благодаря измерению дифракционной картины тени, образованной дефектом.На противоположных поверхностях изделий соосно располагают ультразвуковые (УЗ) преобразователи.Излучают и принимают с помрщью преобразователей УЗ колеба- ния. Измеряют амплитуду принятых колебаний и по ее уменьшен1по регистрируют наличие дефекта. Преобразователи фиксируют в положении, при котором принятый сигнал принимает значение, равное . локальному максимуму, образуемому на оси дефекта. Смещают приемньй преобразователь в точку, в которой амплитуда принятых колебаний равна О,707 от локального максимума, и измеряют смещение. Затем смещают приемный преобразователь в точку, в которой ампли-с туда принятых колебаний равна мини- муму, и вновь измеряют смещение. По измеренным величинам смещений определяют размер и глубину залегания дефекта. 2 ил. (Л

cfJus. 2