Способ изготовления образца с имитатором подповерхностного дефекта для неразрушающего контроля с помощью зондирующего поля Советский патент 1988 года по МПК G01N27/82 

Описание патента на изобретение SU1439479A1

4

Од СО

4;ih со

Изобретение относится к иеразру- шающему контролю и может быть использовано для настройки, поверки и градуировки средств неразрушающего конт роля, преимущественно электромагнитных.

Цель изобретения - повышение точности имитации за счет исключения влияния переходного сопротивления меж,а,у слоями.

На фиг.1 показана схема контроля призматических изделий индукционным методом на фиг.2 - картина силовых линий в образце с подповерхностным дефектом} на фиг.З - образец с имитатором подповерхностного дефекта. I Схема контроля состоит из генера- I тора 1 переменного тока, зажимов 2 и 3, соединенных с генератором 1, ин- I дукционного преобразователя 4 и элек I тронного блока 5. Образец 6 устанав- Iливается между зажимами 2 и 3 и че- рез него пропускается переменньй Ток Поверхность образца 6 сканируется I индукционным преобразователем 4, вы-- I полненным например, в виде системы j накладных катушек индуктивности, и I по характеру полученных сигналов определяется наличие и характер дефектов в образце. Вв;шчина регистрируемых сигналов зависит от распределения зовдирующего поля в образце 6, При наличии подповерхностного дефек- I та 7 происходит его обтекание линия- I ми электрического тока, так как это i показано на фиг.2. Искаже1ше сшю- вых линий зондирующего поля приводит I к изменению топографии магнитного по I ля над поверхностью образца 6, что и : определяет изменение сигнала индукционного преобразователя 4. Для создания полости, -соответствующей иьм- тируемому дефекту 7,-необходимо обеспечить к ней доступ режущего инструмента, что невозможно сделать без предварительного разделения образца на частио Однако наличие поверхности сопряжения вносит искажения в распределение зондирующего поля. Этого удается избежать, вьшолняя поверхность сопряжения между руслами пото ка зондирукщего поля, обтекающшш дефект 7 с противоположных сторон.

Таким образом, выполнение образца с имитатором подповерхностного дефекта включает следующие этапы.

Определяют поверхность В, прохо- дят,ую вдоль силовых ли}1ий зондирузоo

s

0

5

0

5

0

5

0

5

щего поля мелоду руслами его потока, обтекающими дефект с противоположных сторон. Это достигается путем цифрового или аналогового моделирования, позволяющ его получить картину поля силовых линий в образце с подповерхностным дефектом. В частных случаях поверхность сопряжения определяется из соображений симметрии. Так, например, если грани дефекта равноудалены от поверхностей образца, то искомая поверхность сопряжения совпадает с плоскостью симметрии образца, проходящей через его ось.

Способ изготовления образца осуществляется следующим образом.

Вьшолняют образец из двух частей 9 и 10, сопряженных по полученной поверхности сопряйсения. Рекомендуется, если это возможно, выполнять обе части образца из одной заготовки, для большей однородности материала сопрягаемых частей. Сопрягаемые поверхности обеих частей 9 и 10 обрабатывают для их плотного прилегания.

Вьтолняют первую часть 11 полости, соответствующей имитируемому дефекту 7, со Стороны поверхности сопряжения в части 9 образца,а вторую часть 12 полости - со стороны поверхности сопряжения в части 10 образца.

Составляют образец из полученных частей 9 и 10, так, чтобы примыкаю- щие части 11 и 12 полости соответствовали имитируемому дефекту.

Предлагаемьм способ позволяет выполнять образцы с имитаторами подповерхностных дефектов с высокой точностью воспроизводящими реакцию дефектов, что невозможно достигнуть существуюарми способами. При этом параметры дефекта могут быть метро- логированы.

Это обеспечивает настройку, поверку и градуировку аппаратуры, предназначенной для выявления подповерхностных дефектов.

Формула изобретения

Способ изготовле1шя образца с имитатором подповерхностного дефекта для неразруй ающего контроля с помо щью зондирующего поля, заключающийся в том, что составляют образец из сопрягаемых одна с другой частей,

а дефект выполняют в риде полости, выходящей на сопрягаемую поверхность, отличающийся тем, что, с целью повышения точности ими- таш1и, поверхность сопряжения частей выбирают в сечении, проходящем вдоль силовых линий зондирующего поля между руслами его потока, обтекаю цими

дефект с противоположных сторон,первую часть полости, соответствующую имитируемому дефекту, выполняют со стороны поверхности сопряжения в первой части образца,а вторую часть полости выполняют со стороны поверхности сопряжения во второй части образца.

Похожие патенты SU1439479A1

название год авторы номер документа
Образец с имитатором подповерхностного дефекта для вихретокового дефектоскопа с накладным преобразователем 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Шишкарев Александр Анатольевич
SU1439480A1
Имитатор воздействия подповерхностных дефектов для вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями 1988
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шишкарев Александр Анатольевич
  • Касимов Геннадий Анатольевич
  • Палеес Евгений Эммануилович
SU1619151A1
Настроечный образец с имитатором подповерхностного дефекта для магнитной дефектоскопии 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Домашевский Борис Наумович
  • Колыхалов Владимир Константинович
SU1467488A1
СПОСОБ ИМИТАЦИИ ДЕФЕКТОВ ПРИ УЛЬТРАЗВУКОВОМ КОНТРОЛЕ ИЗДЕЛИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2004
  • Марков Анатолий Аркадиевич
RU2278377C2
Способ имитации воздействия дефекта на электропотенциальный дефектоскоп 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Давыдов Николай Владимирович
SU1578626A1
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии 1989
  • Шарова Александра Михайловна
  • Давыдков Алексей Алексеевич
  • Тетерко Анатолий Яковлевич
  • Выборненко Сергей Иванович
  • Магилинский Анатолий Петрович
SU1658069A1
Устройство для имитации магнитных потоков рассеяния при электромагнитной дефектоскопии 1985
  • Шкатов Петр Николаевич
SU1298624A1
СПОСОБ ПОВЕРКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ РАСХОДОМЕРОВ И ИМИТАТОР РАСХОДА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2010
  • Жевакин Сергей Геннадьевич
  • Будашов Владимир Викторович
RU2442966C2
Способ калибровки магнитных дефектоскопов 1991
  • Шарова Александра Михайловна
  • Синица Александр Николаевич
  • Лехнович Галина Анатольевна
SU1797029A1
Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шишкарев Александр Александрович
  • Касимов Геннадий Анатольевич
  • Палеес Евгений Эммануилович
SU1578625A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 439 479 A1

Реферат патента 1988 года Способ изготовления образца с имитатором подповерхностного дефекта для неразрушающего контроля с помощью зондирующего поля

Изобретение относится к нераз- рушающему контролю и может быть использовано для настройки, проверки и градуировки средств неразрушакнцего контроля, преимущественно электромагнитных. Повьшение точности имитации подповерхностных дефектов достигается за счет выполнения поверхности сопряжения вдоль силовых линий зондирующего поля между руслами его потока, обтекающими дефект с противоположных сторон. Для создания полости, соответствующей имитируемому дефекту, необходимо обеспечить к ней доступ режущего инструмента, что невозможно сделать без предварительного разделения образца на части. Выполняя поверхность сопряжения частей образца по поверхности, расположенной между руслами потока зондирующего поля, удается избежать его искажений и обеспечить высокую точность имитации. 3 ил. S (Л

Формула изобретения SU 1 439 479 A1

/

Фиг.1

/

Фиг. 2

ю

Фие.З

W/////////////M

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1439479A1

Настроечный имитатор для вихретоковых дефектоскопов (его варианты) 1981
  • Вяхорев Виктор Григорьевич
  • Никульшин Виктор Сергеевич
  • Олейников Петр Петрович
SU1006992A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
, (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦА С ИМИТАТОРОМ ПОДПОВЕРХНОСТНОГО ДЕФЕКТА ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ С ПОМОЩЬЮ ЗОНДИРУЮЩЕГО ПОЛЯ

SU 1 439 479 A1

Авторы

Шкатов Петр Николаевич

Шишкарев Александр Анатольевич

Даты

1988-11-23Публикация

1987-04-24Подача