Контрольный образец для магнитной дефектоскопии Советский патент 1991 года по МПК G01N27/82 

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является расширение области использования за счет расширения диапазона имитируемых дефектов и повышение точности имитации за счет снижения искажений поля рассеяния в зоне имитируемого дефекта.

На фиг.1 показан контрольный образец, общий вид; на фиг.2 - то же, с пластинами, выполненными в виде клиньев; на фиг.З - контрольный образец, поперечное сечение.

Контрольный образец содержит пластину из двух сопрягаемых частей 1 и 2, каждая из которых представляет пленку с имитатором сварного шва. На предназначенной для сопряжения стороне каждой части пластины выполнена ступенька 3, имитирующая дефект. Сопрягаемые части образца установлены с возможностью взаимного перемещения в направлении, совпадающем г направлением искусственного дефекта, и и перпендикулярном направлении. Не боковых частях пластин образца нанесены шкалы 4 и 5.

Для имитации дефектов различной глубины залегания части 1 и 2 выполнены в виде клиньев. Глубина залегания дефекта определяется шкалой 5. нанесенной рядом с имитатором сварного шва.

Контрольный образец используется следующим образом.

При контроле качества сварного шва сигнал, обусловленный дефектом, сравнивают с сигналом, полученным с контрольноО

ел

00 О

Os

ю

го образца, В результате сравнения определяют качество сварного шва.

Пример. Контролировали изделие с двухсторонним сварным швом, имеющим непровар между валиками швов. Изделие сваривалось с зазором 1 мм. Контроль осу- щёйтЩйли магнитографическим методом с помощью дефектоскопа МД-11Г и магнитной ленты И-4701.

Измеряли расстояние между экстрему- мами нормальной составляющей поля дефекта, которое составило 5 мм.

Затем контролировали контрольный образец, предварительно установив зазор Д 1 мм. В этом месте образца, где рассто- яние между экстремумами нормальной составляющей равнялось 5 мм, по шкале определили глубину залегания дефекта 4 мм. Таким образом, глубина залегания дефекта в изделии равняется также 4 мм. Затем сравнивали максимумы тангенциальной составляющей напряженности иагнитного поля дефекта изделия и образца. Большое значение максимума у изделия свидетельствует о большей величине де- фекта в нем. Величина искусственного дефекта в контрольном образце составляла 1,5 мм, следовательно, в изделии дефект имеет величину, большую чем 1,5 мм.

Применение изобретения позволит расширить технологические возможности контрольного образца за счет имитации большего диапазона различных дефектов.

Формула изобретения

1.Контрольный образец для магнитной дефектоскопии, содержащий пластину из двух сопряженных одна с другой частей и имитатор дефекта, отличающийся тем, что, с целью расширения области использования за счет расширения диапазона имитирующих дефектов и повышения точности имитации, поверхность сопряжения каждой части выполнена со ступенькой, а части установлены с возможностью взаимного перемещения в направлении, совпадающем с направлением искусственного дефекта.

2.Контрольный образец по п. 1, о т л и- чающийся тем, что пластины сопрягаемых частей выполнены в виде клиньев и установлены с возможностью перемещения также и в направлении, перпендикулярном направлению искусственного дефекта.

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, Целью изобретения является расширение области ИСПОЛЬЗОВАНИЯ и точности имитации за счет расширения диапазона имитируемых дефектов и снижения полей рассеяния в зоне имитируемого дефекта. Цель достигается тем, что каждая из двух сопрягаемых частей образца выполнена со ступенькой на поазрхио предназначенной для сопряжения, а сип. гаемые части установлены с вээможнзст взаимного перемещения в маправтеьии, совпадающем с направлением искусственного дефекта. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

Фиг.1

Фиг. 2

Физ.З