Устройство для рентгеновского фазового анализа Советский патент 1989 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU1516916A1

151

Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и кюжет использоваться для фазового анализа материалов,

Цель изобретения - повышение чувствительности при сохранении возможности применения дпя исследования различных по размерам образцов и изделий.

На чертеже показана схема устройства для рентгеновского фазового анализа.«

Устройство содержит рентгеновскую трубку 1 с анодом 2,- катодом 3, встроенным между Н1|ми монохромато- ром 4 с отверстием 5 для прохода эле тронного пучка на анод 2, расположенным параллельно аноду 2 и симметрично относительно электронного пучка, и двумя выходными окнами 6 и 7, рядо с которыми установлены шторки 8 и 9 для экранирования рентгеновского излучения, проходящего через окна 6 и 7 непосредственно от фокуса F анода 2. Образец 10 установлен на держателе 11, а эталон 12 - на держателе 13 с возможностью перемещения посредством приводов 14 и 15. Держатели И и 13 снабжены, как обычно, базовыми поверхностями. Позидионно- чувствительный детектор 16, к которому подключен блок 17 обработки, установлен на пути дифрагированного образцом 10 и эталоном 12 излуче- ния. При этом образец 10, позицион- но-чувствительный детектор 16 и мнимый фокус F оптической системы, образованной фокусом F анода 2 рентгновской трубки 1 и монохроматором 4, расположены на фокусирующей окружности 18, а эталон 12, детектор 16 и мнимый фокус F - на фокусирующей окружности 19, реализуют две симметричные схемы фокусировки по Зееману- Болину. Устройство может содержать также защитный корпус 20,

Устройство для рентгеновского фазового анализа работает следующим образом.

Рентгеновское излучение из фокуса F анрда 2 рентгеновской трубки монохроматизируется мохроматором 4 и в виде двух монохроматических пучков выходит через окна 6 и 7, падает на эталон 12 и образец 10, дифрагируется на них и направляется на пози днонно-чувствительный детектор 16, сигналы которого обрабатываются блок

17. Посредством Приводов 15 и 14 эталон 12 и образец 10 можно настроить на другие углы дифракции.

Использование двух симметричн||К схем фокусировки по Зееману-Болину для образца 10 и эталона 12 позволяет повысить чувствительность фазового анализа вследствие более высокой светосилы устройства. При этом такое размещение элементов устройства позволяет сохранить его компактность и возможность исследования образцов весьма различных размеров или производить исследования непосредственно на изделиях вследствие возможности приставления устройства к изделию или большераз«- мерному образцу в соответствии с базовой поверхностью, выполненной в устройстве. Предлагаемое устройство может использоваться, например, при контроле остаточного аустенита в сталях.

Формула изобретения

Устройство для рентгеновского фазового анализа, содержащее рент геновскую трубку, средство формирования двух пучков рентгеновского излучения, держатель образца или средство крепления устройства на изделия с базовой плоскостью на пути одного пучка рентгеновского излучения держатель эталона с базовой плоскост на пути другого пучка рентгеновского излучения, позиционно-чувствительный детектор на пути дифрагированного излучения,отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности при сохранении возможности применения для исследования различных по размерам образцов и изделий, средство формирования двух пучков рентгеновского излучения выполнено в виде встроенного в рентгеновскую трубку между анодом и катодом монохро матора, снабженного отверстием для прохождения электронного пучка и расположенного параллельно поверхности анода, причем фокус оптической системы, образованной монохроматором и фокусом рентгеновской трубки, базовая плоскость держателя образца или средства крепления устройства на изделии, базовая плоскость держателя эталона и позиционно-чувствительный детектор расположены на двух фокуси 1516916в

руюп1их окружностях, пересекающихся чую поверхность позиционно-чувстяи- в мнимом фокусе и пересекающих рабо- тельного детектора.

Похожие патенты SU1516916A1

название год авторы номер документа
Рентгеновский дифрактометр по схемезЕЕМАНА-бОлиНА 1979
  • Дроздова Наталья Федоровна
  • Евграфов Александр Андреевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Фрейцис Григорий Давидович
  • Юшин Валентин Дмитриевич
SU851211A1
Устройство для рентгеноструктурного анализа (его варианты) 1981
  • Блудилин Евгений Николаевич
  • Гриднев Виталий Никифорович
  • Гуревич Майор Ефимович
  • Журавлев Борис Фомич
  • Лариков Леонид Никандрович
  • Минаков Вениамин Николаевич
  • Трефилов Виктор Иванович
SU1035488A1
Способ рентгеновской дифрактометрической съемки поликристаллических материалов 1989
  • Лившиц Марк Анатольевич
SU1733987A1
Рентгеновский дифрактометр 1988
  • Юшин Валентин Дмитриевич
  • Колеров Олег Константинович
  • Скрябин Валентин Григорьевич
  • Калышенко Михаил Федорович
  • Мишин Михаил Иванович
SU1599733A1
Рентгеновский гониометр 1978
  • Захаров Олег Петрович
SU702280A1
Рентгеновский дифрактометр 1986
  • Горбачева Нина Алексеевна
  • Петьков Валерий Васильевич
  • Утенкова Ольга Владимировна
  • Щербединский Геннадий Васильевич
  • Поленур Александр Вольфович
SU1427263A1
Рентгеновский дифрактометр по схеме Гинье для исследования поликристаллических материалов 1984
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Ингал Виктор Натанович
  • Комяк Николай Иванович
  • Мясников Юрий Гиларьевич
SU1245966A1
Неразрушающий способ определения толщины покрытия на кристаллической подложке 1984
  • Дроздова Наталья Федоровна
  • Евграфов Александр Андреевич
  • Назарян Николай Хачатурович
  • Полиэктов Юрий Иванович
  • Чирков Геннадий Георгиевич
SU1249414A1
ДЕТЕКТИРУЮЩИЙ УЗЕЛ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ 2003
  • Кумахов М.А.
  • Ибраимов Н.С.
  • Лютцау А.В.
  • Лихушина Е.В.
  • Булкин А.Е.
  • Никитина С.В.
RU2242748C1
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР 2002
  • Варламов А.В.
RU2216010C2

Реферат патента 1989 года Устройство для рентгеновского фазового анализа

Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению и может использоваться для фазового анализа материалов. Цель изобретения - повышение чувствительности при сохранении возможности применения для исследования различных по размерам образцов и изделий. Для этого параллельно аноду 2 рентгеновской трубки 1 встроен монохроматор 4 с отверстием 5 для прохождения электронов. Сформированные монохроматором 4 пучки падают на образец 10 и эталон 12, а диафрагированные ими пучки регистрируются позиционно-чувствительным детектором 16 в соответствии с двумя симметричными схемами фокусировки по Зееману-Болину. Соответствующие фокусирующие окружности 18 и 19 пересекаются в мнимом фокусе F1 оптической системы, образованной фокусом F анода 2 и монохроматором 4, и пересекают рабочую поверхность детектора 16. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 516 916 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1516916A1

Русаков А.А.Рентгенография металлов
Ч
II, М., МИФИ, 1969, с
Способ изготовления звездочек для французской бороны-катка 1922
  • Тарасов К.Ф.
SU46A1
Рентгеновская камера для контроля поверхности стальных изделий на остаточный аустенит 1959
  • Брусиловский Б.А.
SU127133A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 516 916 A1

Авторы

Баженова Ольга Борисовна

Байдюк Тамара Васильевна

Утенкова Ольга Владимировна

Сидохин Евгений Федорович

Петров Геннадий Николаевич

Щербединский Геннадий Васильевич

Щукин Геннадий Анатольевич

Даты

1989-10-23Публикация

1987-12-29Подача