151
Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и кюжет использоваться для фазового анализа материалов,
Цель изобретения - повышение чувствительности при сохранении возможности применения дпя исследования различных по размерам образцов и изделий.
На чертеже показана схема устройства для рентгеновского фазового анализа.«
Устройство содержит рентгеновскую трубку 1 с анодом 2,- катодом 3, встроенным между Н1|ми монохромато- ром 4 с отверстием 5 для прохода эле тронного пучка на анод 2, расположенным параллельно аноду 2 и симметрично относительно электронного пучка, и двумя выходными окнами 6 и 7, рядо с которыми установлены шторки 8 и 9 для экранирования рентгеновского излучения, проходящего через окна 6 и 7 непосредственно от фокуса F анода 2. Образец 10 установлен на держателе 11, а эталон 12 - на держателе 13 с возможностью перемещения посредством приводов 14 и 15. Держатели И и 13 снабжены, как обычно, базовыми поверхностями. Позидионно- чувствительный детектор 16, к которому подключен блок 17 обработки, установлен на пути дифрагированного образцом 10 и эталоном 12 излуче- ния. При этом образец 10, позицион- но-чувствительный детектор 16 и мнимый фокус F оптической системы, образованной фокусом F анода 2 рентгновской трубки 1 и монохроматором 4, расположены на фокусирующей окружности 18, а эталон 12, детектор 16 и мнимый фокус F - на фокусирующей окружности 19, реализуют две симметричные схемы фокусировки по Зееману- Болину. Устройство может содержать также защитный корпус 20,
Устройство для рентгеновского фазового анализа работает следующим образом.
Рентгеновское излучение из фокуса F анрда 2 рентгеновской трубки монохроматизируется мохроматором 4 и в виде двух монохроматических пучков выходит через окна 6 и 7, падает на эталон 12 и образец 10, дифрагируется на них и направляется на пози днонно-чувствительный детектор 16, сигналы которого обрабатываются блок
17. Посредством Приводов 15 и 14 эталон 12 и образец 10 можно настроить на другие углы дифракции.
Использование двух симметричн||К схем фокусировки по Зееману-Болину для образца 10 и эталона 12 позволяет повысить чувствительность фазового анализа вследствие более высокой светосилы устройства. При этом такое размещение элементов устройства позволяет сохранить его компактность и возможность исследования образцов весьма различных размеров или производить исследования непосредственно на изделиях вследствие возможности приставления устройства к изделию или большераз«- мерному образцу в соответствии с базовой поверхностью, выполненной в устройстве. Предлагаемое устройство может использоваться, например, при контроле остаточного аустенита в сталях.
Формула изобретения
Устройство для рентгеновского фазового анализа, содержащее рент геновскую трубку, средство формирования двух пучков рентгеновского излучения, держатель образца или средство крепления устройства на изделия с базовой плоскостью на пути одного пучка рентгеновского излучения держатель эталона с базовой плоскост на пути другого пучка рентгеновского излучения, позиционно-чувствительный детектор на пути дифрагированного излучения,отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности при сохранении возможности применения для исследования различных по размерам образцов и изделий, средство формирования двух пучков рентгеновского излучения выполнено в виде встроенного в рентгеновскую трубку между анодом и катодом монохро матора, снабженного отверстием для прохождения электронного пучка и расположенного параллельно поверхности анода, причем фокус оптической системы, образованной монохроматором и фокусом рентгеновской трубки, базовая плоскость держателя образца или средства крепления устройства на изделии, базовая плоскость держателя эталона и позиционно-чувствительный детектор расположены на двух фокуси 1516916в
руюп1их окружностях, пересекающихся чую поверхность позиционно-чувстяи- в мнимом фокусе и пересекающих рабо- тельного детектора.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Рентгеновский дифрактометр по схемезЕЕМАНА-бОлиНА | 1979 |
|
SU851211A1 |
Устройство для рентгеноструктурного анализа (его варианты) | 1981 |
|
SU1035488A1 |
Способ рентгеновской дифрактометрической съемки поликристаллических материалов | 1989 |
|
SU1733987A1 |
Рентгеновский дифрактометр | 1988 |
|
SU1599733A1 |
Рентгеновский гониометр | 1978 |
|
SU702280A1 |
Рентгеновский дифрактометр | 1986 |
|
SU1427263A1 |
Рентгеновский дифрактометр по схеме Гинье для исследования поликристаллических материалов | 1984 |
|
SU1245966A1 |
Неразрушающий способ определения толщины покрытия на кристаллической подложке | 1984 |
|
SU1249414A1 |
ДЕТЕКТИРУЮЩИЙ УЗЕЛ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ | 2003 |
|
RU2242748C1 |
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР | 2002 |
|
RU2216010C2 |
Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению и может использоваться для фазового анализа материалов. Цель изобретения - повышение чувствительности при сохранении возможности применения для исследования различных по размерам образцов и изделий. Для этого параллельно аноду 2 рентгеновской трубки 1 встроен монохроматор 4 с отверстием 5 для прохождения электронов. Сформированные монохроматором 4 пучки падают на образец 10 и эталон 12, а диафрагированные ими пучки регистрируются позиционно-чувствительным детектором 16 в соответствии с двумя симметричными схемами фокусировки по Зееману-Болину. Соответствующие фокусирующие окружности 18 и 19 пересекаются в мнимом фокусе F1 оптической системы, образованной фокусом F анода 2 и монохроматором 4, и пересекают рабочую поверхность детектора 16. 1 ил.
Русаков А.А.Рентгенография металлов | |||
Ч | |||
II, М., МИФИ, 1969, с | |||
Способ изготовления звездочек для французской бороны-катка | 1922 |
|
SU46A1 |
Рентгеновская камера для контроля поверхности стальных изделий на остаточный аустенит | 1959 |
|
SU127133A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1989-10-23—Публикация
1987-12-29—Подача