Способ измерения величины смещения боковых поверхностей шлицев Советский патент 1990 года по МПК G01B5/14 

Описание патента на изобретение SU1581990A1

//////////////////////////////////

Изобретение относится к измерениям в инструментальном производстве, в частности к способу контроля параметров шлице- вых изделий, протяжек и т.п.

Цель изобретения - повышение точно- Сти.

На чертеже представлена схема измерения величины смещения боковых шлицев, реализующая способ.

Способ измерения величины смещения боковых поверхностей шлицев осуществляется следующим образом.

Контролируемый шлицевой вал 1 базируют относительной общей измерительной базы на базовой плите 2 ё центрах 3. Изме- рение производят в с ечении, расположенном в непосредственной близости от одного из концов шлицевого вала 1. Вал 1 устанавливают и закрепляют так, чтобы две точки 4 И 5 соответствующих ребер, образованных пересечением боковых поверхностей шлицев 6 и 7, принадлежащих к одной контролируемой шлицевой впадине 8, с их поверхностями по наружному диаметру 9 и 10 находились на одном расстоянии Н от общей измерительной базы. Затем измеряют расстояния Hi и На от измерительной

базы до точек 11 и 12, расположенных на соответствующих линиях пересечения боковых шлицев б и 7, принадлежащих к контролируемой впадине 8, с поверхностью 13 вала 1 по внутреннему диаметру.

Когда расстояния до этих точек одинаковые, это свидетельствует о том, что шлицы не имеют смещения с оси.14 шлицевой впадины 8. Разность между измеряемыми величинами означает смещение боковых поверхностей шлицев с оси 14. Величину смещения рассчитывают.

Формула изобретения Способ измерения величины смещения боковых поверхностей шлицев шлицевого вала, заключающийся в том, что устанавливают в центрах на базовой плите вал и измеряют величину смещения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, вал устанавливают так, чтобы касательная плоскость, проходящая через ребра двух смежных шлицев, была параллельна базовой плите, и измеряют расстояния от базовой плиты до линий пересечения боковых поверхностей этих шлицев с валом, по которым судят о величине смещения.

Похожие патенты SU1581990A1

название год авторы номер документа
Способ контроля профиля зуба зубчатых колес и устройство для его осуществления 1980
  • Армин Штерки
  • Герд Роберт Зоммер
  • Вальтер Негели
SU1145938A3
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОТКЛОНЕНИЯ ОСИ ПРОФИЛЕЙ ШЛИЦЕВ ДЕТАЛИ 2006
  • Мехоношин Александр Владимирович
  • Микрюков Алексей Викторович
RU2311612C1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РАЗВЕРТКИ ПЛОТНООБЛЕГАЮЩЕГО ИЗДЕЛИЯ 2004
  • Баландина Галина Валерьевна
  • Корнилова Надежда Львовна
RU2318417C2
Способ измерения среднего диаметра изделия с наружной резьбой 1987
  • Вяземский Игорь Анатольевич
  • Захаров Василий Павлович
SU1441162A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ШЛИЦЕВЫХ КОЛЕЦ-КАЛИБРОВ 1991
  • Рудич Алексей Иванович
  • Рудич Владимир Алексеевич
  • Рудич Евгений Иванович
RU2049303C1
Рычажный микрометр 1989
  • Иванько Виктор Никитович
  • Коптелов Владимир Николаевич
SU1677484A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФОРМЫ ПОПЕРЕЧНЫХ СЕЧЕНИЙ НА КРУГЛОМЕРАХ 2016
  • Никольский Алексей Анатольевич
  • Королев Владимир Викторович
RU2637368C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕСООСНОСТИ ОТВЕРСТИЙ 1992
  • Миронченко Владимир Ильич
RU2073826C1
Способ контроля углового расположения кривошипа 1981
  • Парфенов Владимир Алексеевич
  • Поцелуев Владимир Александрович
SU1663388A1
УСТРОЙСТВО для КОНТРОЛЯ основных ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКОТОЧНЫХ ШЛИЦЕВЫХ ИЗДЕЛИЙ с ПРЯМЫМЗУБОМ 1966
SU186717A1

Реферат патента 1990 года Способ измерения величины смещения боковых поверхностей шлицев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения симметричности впадин шлицевых валов. Целью изобретения является повышение точности измерения. Контролируемое изделие 1 базируют относительно общей измерительной базы на плите 2. Вал устанавливают так, чтобы две точки 4 и 5, образованные пересечением боковых поверхностей 6 и 7, принадлежащих к одной контролируемой шлицевой впадине 8, с их поверхностями по наружнему диаметру 9 и 10 находились на одном расстоянии H от общей измерительной базы. Затем измеряют расстояния H 1 и H 2 от измерительной базы до точек 11 и 12, расположенных на соответствующих линиях пересечения боковых поверхностей 6 и 7 с поверхностью 13 вала 1 по внутреннему диаметру. Величину смещения вычисляют. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 581 990 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1990 года SU1581990A1

Карцев П.Г
и др
Справочник протяжни- ка
М.: Машгиз, 1963, с
Аппарат для передачи изображений на расстояние 1920
  • Адамиан И.А.
SU171A1

SU 1 581 990 A1

Авторы

Кытманов Владимир Андреевич

Ревенко Валерий Владимирович

Даты

1990-07-30Публикация

1988-04-28Подача