Контрольный образец для дефектоскопов Советский патент 1991 года по МПК G01N27/82 

Описание патента на изобретение SU1693522A1

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для оперативной проверки работоспособности и чувствительности дефектоскопа.

Целью изобретения является повышение информативности контроля за счет однозначности соответствия числа регистрируемых дефектов глубине их залегания.

На фиг. 1 показан образец, общий вид; на фиг. 2-то же, поперечный разрез; на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2.

Контрольный образец (фиг. 1) состоит из двух элементов 1 и 2, имеющих форму треугольных призм. Во внутренней поверхности одной из призм, т.е. грани призмы, которая образуется ребрами призмы и гипотенузами прямоугольных треугольников оснований призмы, выполняются пазы 3. площадь поперечного сечения которых (фиг. 2) соответствует площади сечения минимального

выявляемого дефекта. Пазы 3 могут быть изготовлены не по всей длине (пунктир, фиг. 3), хотя это не технологично, и лучше их изготавливать по всей длине грани (фиг. 3), однако в дальнейшем эти пазы 3 должны быть защищены диамагнитным материалом (не показан) от попадания в них в процессе эксплуатации посторонних ферромагнитных предметов. Пазы 3 следуют друг за другом на расстоянии I (фиг. 2), которое берется в 1,5-2 раза больше разрешающей способности дефектоскопа (не показан). Число пазов определяется как отношение ширины образца а к расстоянию I (фиг. 2)

n-f-1.

После изготовления пазов 3 на одной из призм оба элемента 1 и 2 (обе призмы) жестко соединяются между собой, образуя прямоугольный параллелепипед. Соединение может производиться любым способом: сварка, склеивание и т.д.

сл С

о ч

00

сл ю

КЗ

Длина Ь (фиг, 3) и ширина а (фиг. 2) образца выбираются равными или чуть больше размеров матричного преобразователя дефектоскопа. Высота h (фиг. 2) образца выбирается такой, чтобы глубина залегания самого глубокого дефекта соответствовала максимальной глубине выявля- емого дефекта дефектоскопом.

Оперативная метрологическая аттестация дэфектоскопа производится следующим образом.

Матричный преобразователь (не показан) накладывается на контрольный образец, и на экране дефектоскопа появляются полоса количество которых соответствует количеству выявленных пазов, Поскольку

0

5

глубина залегания каждого пэза заведомо известна, то по количеству полос на экране определяется наибольшая глубина выявляемого дефекта.

Формула изобретения Контрольный образец для дефектоскопов, состоящий из двух жестко соединенных элементов и искусственного дефекта, о т- личающийся тем, что, с целью повышения информативности контроля, элементы имеют форму прямых треугольных призм, образующих при соединении прямоугольный параллелепипед, дефект выполнен в виде идентичных продольных пазов, расположенных параллельно большим граням параллелепипеда.

Похожие патенты SU1693522A1

название год авторы номер документа
Ультразвуковой пьезопреобразователь 1982
  • Ермолов Игорь Николаевич
  • Королев Михаил Викторович
  • Карпельсон Аркадий Ефимович
  • Шевалдыкин Виктор Гаврилович
SU1019322A1
Магнитотелевизионный дефектоскоп и настроечный образец для него 1989
  • Абакумов Алексей Алексеевич
  • Борисов Михаил Васильевич
  • Чегодаев Владимир Васильевич
SU1681226A1
Процессор для неразрушающего контроля 1982
  • Щербак Виктор Иосифович
  • Щербак Владимир Иосифович
SU1109580A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ НАСТОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ 2012
  • Иванов Эдуард Петрович
  • Источинский Данила Андреевич
  • Охотин Игорь Петрович
RU2538053C2
Способ электромагнитной дефектоскопии ферромагнитных объектов 1985
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Домашевский Борис Наумович
  • Колыхалов Владимир Константинович
SU1293620A1
СПОСОБ ИМИТАЦИИ ДЕФЕКТОВ ПРИ УЛЬТРАЗВУКОВОМ КОНТРОЛЕ ИЗДЕЛИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2004
  • Марков Анатолий Аркадиевич
RU2278377C2
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ МНОГОКАНАЛЬНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП 2001
  • Паврос С.К.
  • Пряхин Е.Г.
  • Ромашко Р.В.
  • Топунов А.В.
  • Жмылев А.Б.
  • Елютин Н.И.
RU2217740C2
УСРОЙСТВО ДЛЯ НАСТРОЙКИ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ - ДЕФЕКТОСКОПОВ 2005
  • Пудов Владимир Иванович
  • Соболев Анатолий Сергеевич
  • Бланин Валентин Алексеевич
RU2310838C2
СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ СТЫКОВЫХ, НАХЛЕСТОЧНЫХ И ТАВРОВЫХ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ ТОНКОСТЕННЫХ ТРУБ МАЛОГО ДИАМЕТРА 2011
  • Стеблев Юрий Иванович
  • Сусарев Сергей Васильевич
  • Тимохин Александр Владимирович
  • Модин Андрей Юрьевич
RU2488108C2
Магнитотелевизионный дефектоскоп и образец для него 1989
  • Абакумов Алексей Алексеевич
  • Борисов Михаил Васильевич
  • Чегодаев Владимир Васильевич
SU1765760A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 693 522 A1

Реферат патента 1991 года Контрольный образец для дефектоскопов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для оперативной проверки работоспособности и чувствительности дефектоскопа. Целью изобретения является повышение „информативности контроля за счет однозначности соответствия числа регистрируемых дефектов глубине их залегания. В случае телевизионного дефектоскопа его матричный преобразователь накладывается на образец, и по числу полос, высвечиваемых на экране дефектоскопа, определяется его чувствительность. Аналогично для любых других типов дефектоскопов определяется чувствительность по числу зарегистрированных дефектов. 3 ил.

Формула изобретения SU 1 693 522 A1

2

Фиг.З

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1991 года SU1693522A1

Контрольный образец для магнитной дефектоскопии 1981
  • Федюкович Геннадий Иванович
SU1018001A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии 1978
  • Шарова Александра Михайловна
  • Новиков Владимир Алексеевич
SU741136A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 693 522 A1

Авторы

Абакумов Алексей Алексеевич

Чегодаев Владимир Васильевич

Даты

1991-11-23Публикация

1989-07-31Подача