ЭТАЛОН ДЛЯ ПРОМЫШЛЕННОЙ РАДИОГРАФИИ Советский патент 1997 года по МПК G01N23/18 

Описание патента на изобретение SU1814376A1

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества сварных соединений методом радиографии и может быть использовано в различных отраслях народного хозяйства, использующих метод радиографии для контроля качества сварки.

Цель изобретения повышение надежности обнаружения дефектов сварки, сокращение непроизводительных затрат времени и расхода фотоматериалов.

Поставленная цель достигается тем, что пучок излучения, например рентгеновского, направляют в плоскости наиболее вероятного пространственного распределения внутренних дефектов, а направление излучения контролируют по изображению на снимке эталона, представляющего собой набор металлических призм, уложенных вплотную друг к другу.

Достижение поставленной цели обеспечивается тем, что при выявлении дефекта и щелей эталона одновременно на снимке можно судить о пространственном расположении дефекта, о направлении просвечивания, а при совпадении плоскости, в которой расположен дефект, с направлением излучения выявить его можно, если его протяженность в направлении излучения не меньше чувствительности радиографии.

В случае несовпадения или частотного совпадения плоскостей щелей эталона с наибольшей пространственной плоскостью дефекта после просмотра первого рентгеновского снимка возникает возможность достаточно точной корректировки геометрии просвечивания.

Критерием выявляемости дефектов в направлении просвечивания является изображение на пленке щелей эталона.

На фиг. 1 показана схема рентгенографии с использованием эталона, где 1
анод рентгеновской трубки; 2 направления излучения; 3 объект контроля; 4 - рентгеновская пленка; 5 эталон; 6 эталон чувствительности по ГОСТ 7512-82; на фиг. 2 предлагаемый эталон для промышленной радиографии, состоящий из набора призм. Способ их скрепления значения не имеет (клей, хомут). Размер призм "b" в направлении просвечивания должен быть не меньше толщины используемого канавочного эталона чувствительности по ГОСТ 7512-82 с целью уверенного выявления изображения призм на пленке. Остальные размеры "a" значения не имеют. Плоскости сопряжения граней призм эталона являются имитаторами протяженного дефекта в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Выявление имитаторов на снимке одновременно с изображением дефекта указывает на то, что была обеспечена чувствительность при радиографии для выявления аналогичных и всех более крупных дефектов, лежащих в плоскости имитаторов.

Изобретение иллюстрируется следующим примером. Проводилась рентгенография сварного стыкового соединения толщиной 8 мм из стали аппаратом МИРА-2Д. Цель радиографии выявление непровара в корне шва. Рентгенография проводилась под различными углами по отношению к плоскости расположения дефекта. Эталон, представляющий собой набор из 9 прямоугольных призм общим размером 10х10х6 мм, устанавливался на контролируемом участке. Просвечивание велось на пленку РТ-1, фокусное расстояние 300 мм, время экспозиции 50 с.

Результаты приведены в таблице.

Из данных примера видно, что заявляемое устройство в сочетании с канавочным эталоном чувствительности позволяет с высокой степенью вероятности судить о качестве сварного соединения, что подтверждается данными металлографического анализа (фотографирование шлифов на микроскопе МИМ-7 при увеличении в 70 раз).

Применение предложенного эталона для контроля качества сварных швов позволит повысить надежность обнаружения дефектов и, как следствие, надежность конструкции. Внедрение эталона в практику радиографии несложно в условиях механической мастерской.

Похожие патенты SU1814376A1

название год авторы номер документа
ЭТАЛОН ДЛЯ РАДИОГРАФИИ 1994
  • Епифанцев В.Н.
  • Вяткин И.В.
RU2085916C1
СПОСОБ ДЕФЕКТО-СТРУКТУРО-РЕНТГЕНОГРАФИИ 2004
  • Зуев Вячеслав Михайлович
RU2271533C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ 2006
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
RU2318204C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2009
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Табакман Рудольф Леонидович
  • Антипов Владимир Семенович
RU2392609C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2009
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
  • Шипилов Александр Валентинович
RU2399908C1
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2000
  • Зуев В.М.
RU2243541C2
СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРОВ ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ 2006
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
RU2313080C1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ С ПРИМЕНЕНИЕМ ФОСФОРНЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ ПЛАСТИН 2009
  • Зуев Вячеслав Михайлович
  • Капустин Виктор Иванович
  • Табакман Рудольф Леонидович
  • Шипилов Александр Валентинович
RU2393463C1
СПОСОБ РАДИОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ 2013
  • Добротворский Александр Мстиславович
  • Макаров Алексей Владимирович
  • Соколов Владимир Леонидович
RU2550163C1
Способ фотометрической оценки размеров дефектов в направлении просвечивания 1988
  • Зуев Вячеслав Михайлович
SU1536215A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 814 376 A1

Реферат патента 1997 года ЭТАЛОН ДЛЯ ПРОМЫШЛЕННОЙ РАДИОГРАФИИ

Использование: радиационный контроль, а именно методы и устройства для промышленной радиографии. Сущность изобретения: дефектометр выполнен в виде набора прямоугольных призм, уложенных вплотную друг к другу. Имитаторами дефектов служат плоскости сопряжения призм. Толщина призм выбирается не меньше величины чувствительности контроля. 2 ил.

Формула изобретения SU 1 814 376 A1

Эталон для промышленной радиографии, содержащий корпус с имитаторами дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности выявления протяженных дефектов с малым раскрытием, сокращения времени контроля и расхода фотоматериалов, он содержит набор прямоугольных призм, укладываемых вплотную друг к другу, причем имитаторами дефектов служат плоскости сопряжения упомянутых призм в двух взаимно перпендикулярных пространственных положениях, а каждая из призм в одном из направлений имеет размер не меньше величины абсолютной чувствительности контроля.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1997 года SU1814376A1

Кипятильник для воды 1921
  • Богач Б.И.
SU5A1
Румянцев С.В
Радиационная дефектоскопия
М.: Атомиздат, 1974, с
Деревянное стыковое скрепление 1920
  • Лазарев Н.Н.
SU162A1

SU 1 814 376 A1

Авторы

Епифанцев В.Н.

Вяткин И.В.

Даты

1997-06-10Публикация

1991-04-01Подача