СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ВОЛОКНИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1969 года по МПК G01N33/36 

Известен способ исследования внутренней структуры волокнистых материалов путем изучения их срезов, изготовленных на микротомах.

Предлагаемый способ позволяет исследовать структуру .материалов яа любой глубине и в любой -плоскости без нарушения пространственно-геометрического расположения элементов структуры.

Образец исследуемого материала пропитывают вяжущим отвердителем, который при отвердении придает образцу монолитные свойства. Это дает возможность получать микросрезы любыми механическими способами (шлифованием, резанием и т. п.). Соответствуюшая обработка материала позволяет получить препарат любой толщины.

Препарат приготовляют следуюш:им образом.

Исследуемый образец пропитывают вяжущим отвердителе.м и накладывают па предметное стекло. После отвердения образца механическим способом получают необходимый для исследования срез и на него наклеивают тем .- же вяжущим составом покровное стекло.

Во избежание искажений при исследовании структуры срезов применяется вял ;ущий отвердитель с коэффициентом преломления света при отвердении близким к коэффициенту преломления стекла, на которое наклеивается пропитанный образец в процессе приготовления препарата.

Предмет изобретения

Способ исследования :внутренней структуры волокнистых материалов по их срезам, отличающийся тем, что, с целью Исследования структуры материалов да любой глубине и в любой нлюскости без нарушения пространственно-геомет1рическО|ГО расположения элементов структуры, образец исследуемого материала пропитывают вялсущим отвердителем и накладывают на стекло, после отвердения образца делают необходимый срез, на .который наклеивают тем же отвердителем покровное стекло.