СПОСОБ РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛгл*к:но-!4;х<<«-:;;-кдя1О'-^ Советский патент 1971 года по МПК G01N23/02 

Известен способ рентгенорадиометрического анализа элементного состава вещества, основанный на измерениях интенсивности характеристического излучения анализируемого эле.мента и обратного бета-рассеяния от исследуемых проб.

Согласно настоящему способу концентрацию хи.мического элемента в веществе определяют по результатам измерений двух величин: интенсивности характеристического излучения аналИзируеМОго вещества и интенсивности обратного бета-рассеяния от анализируемого элемента с помощью предварительно построенной градуировочной палетки. Это повыщает точность и -экспрессность анализа.

Для построения палетки подбирают или изготовляют эталонные пробы с известной концентрацией анализируемого элемента и с наполнителем различного состава. Свойства наполнителя, характеризующие его влияние на интенсивность характеристического излучения ;и обратного бета-рассеяния, т. е. массовый коэффициент поглощения .и аффективный атомный номер, в эталонных пробах должны изменяться в пределах, совпадающих с пределами их воз.можного изменения в совокупности вещества, подлежащих анализу.

СКОСТИ, где одной координатой служит концентрация анализируемого элемента, а другой - интенсивность его характеристического излучения, отмечают точки, соответствующие одному и тому же значению .интенсивности обратного бета-рассеяния, :и проводят линию, проходящую посередине получивщегося множества точек. Такие линии проводят для различных значений интенсивности обратного бета-рассеяния и помечают ее значениями.

Чтобы определить концентращию, нужно измерить для пробы интенсивность обратного бета-рассеяния и характеристического излучения, найти на палетке линию, помеченную

значением интенсивности обратного бета-рассеяния, равным измеренно.му значению, и отыскать на этой линии точку, в которой интенсивность характеристического излучения имеет значение, равное .измеренному для пробы. Значение концентрации в этой точке дает искомое значение концентрации в пробе. Если линия, соответствующая измеренному значению обратного бета-рассеяния, не нанесена на палетку, следует провести интерполяцию.

.Палетку можно строить и в координатах интенсивность обратного бета-рассеяния - концентрация анализируемого элемента. Тогда на нее наносят средние линии множества точек с одинаковыми значениями интенможет облегчить отсчеты за счет иного соотношения геометрических размеров палетки.

Палетку, построенную при одинаковых условиях облучения и измерения, можно использовать и при других условиях. Для этого нужно измерить и зафиксировать интенсивности излучений для контрольного образца и промерять этот образец при построении палетки и анализах. При этом для построения палетки и отсчетов по ней нужно использовать не измеренньге значения интенсивностей излучений для пробы, а их приведенные значения, получаемые умножением измеренных значений на коэффициент, равный отношению зафиксированной интенсивности соответствующего вторичного излучения от контрольного образца к его интенсивности в условиях, когда обмерялась данная эталонная или анилизируемая проба. Это расширяет область применения методов экспрессанализа.

Предмет .изобретения

1. Способ рентгенорадиометрического анализа элементного состава вешества, основанный на измерениях интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента и интенсивности обратного бета-рассеяния от исследуемых проб, отличающийся тем,

что, с целью повышения точности и экспрессности анализа, строят градуировочную палетку, представляюш.ую собой семейство кривых зависимости интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента

от его концентрации при различных фиксированных значениях интенсивности обратного бета-рассеяния, измеряют -интенсивности характеристического излучения и обратного бета-рассеяния в анализируемой пробе и определяют искомую концентрацию анализируемого элемента.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что палетку строят в виде семейства кривых зависимости интенсивности обратного бета-рассеяния от концентрации анализируемого элемента при различных фиксированных значениях интенсивности характеристического излучения.