ЭТАЛОННОЕ ПРИСПОСОБЛЕНИЕ ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА Советский патент 1971 года по МПК G01N23/223 

Эталонное приспособление предназначено для дифрактометрических установок рентгеноструктурного анализа и обеспечивает точный анализ количества фаз и их соотношения в многофазных системах.

Предложенное приспособление выполнено в виде двух брусков, между которыми установлен анализируемый образец. Бруски скреплены двумя планками. На внутренней стороне нижнего бруска расположена эталонная пластинка, лежащая в одной плоскости с плоскостью образца. На нижнем бруске сделан срез под углом 40-50°.

На фиг. 1, 2 изображено эталонное приспособление, общий вид и сечение по Л-А; на фиг. 3 - эталонное приспособление с образцом в держателе образцов дифрактометра УРС-50И.

Эталонное приспособление состоит из верхнего / и нижнего 2 брусков, двух планок 5, скрепляющих эти бруски, и эталонной пластинки 4. Анализируемый образец 5 расположен между верхним и нижним брусками. На нижнем бруске сделан срез под углом 40- 50°.

Эталонное приспособление крепится на держателе образца дифрактометрических установок вместе с образцом (см. фиг. 3).

Срез на нижнем бруске позволяет использовать образцы с одним прямым ребром и гранями, находящимися под углом больще 90°. Площадь эталонной пластинки занимает часть площади всей облучаемой поверхности. Доля этой площади зависит от химического состава анализируемого материала, так как высота фона флюоресцентного излучения составляющих элементов исследуемого материала и излучения, на котором ведется исследование, может быть различной.

Предмет изобретения

1.Эталонное приспособление для рентгеноструктурного анализа, отличающееся тем, что, с целью повыщения точности анализа, оно выполнено в виде двух брусков, скрепленных

между собой на выбранном расстоянии, причем один из брусков несет на себе эталонный материал.

2.Приспособление по п. 1, отличающееся тем, что, с целью расщирепия диапазона измерений, на бруске, несущем эталонный материал, имеется срез под углом 40-50°.

А-А

Фиг.1

Vuz.2