ИЗОТОПНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ Советский патент 1972 года по МПК G01B15/02 

Описание патента на изобретение SU327703A1

Пзоб,ретение относится к области измерения толщин при помощи иронпкающего излучения.

Известны изотоиные измерители толщины покрытий, содержащие источиик бета-лучей и детектор рассеянного излучения.

Пх иедостатком является наличие сравиительно высокой иогреи1ности измерения, онределяемой значительной величиной отношения фон/полезный сигнал.

Цель изобретения - умеиьшение иогрешкости измерения. Для этого в предлагаемом измерителе источиик и детектор расположены асимметрично относительно перпендикуляра, восстановленного в центре зоны облучения.

Па чертеже показана геометрия раснололсення источника и детектора бета-излучення относительно контролируемого изделия.

Р1змеритель работает следующим образом.

Источинк / излучения, рагположенньп под углом, не превышающим 25°, к нериеидикуляру 2, восстановленному в центре зоны облучення, и имеющий возможность изменять свое ноложеиие на лниии излучеиия, облучает контролируемое изделие 3, несущее на себе покрытие 4. Прошедп1ее через покрытие 4 бета-нзлучение рассеивается изделием и регистрируется детектором 5.

Величина сигнала, снятого с детектора,

определяет значение толщины покрытия. Для

улгеиьшення ногрешиости измерения ось детектора располагают под углом 30-60° относнтельно оси источника.

Предмет и з о б р е т е и и я

Пзотоииыи измеритель толии1иы покрытии, содержащий нсточннк бета-лучей и детектор рассеяиного излучения, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности нзмереиия, источиик и детектор излучения расиоложеиы асимметрично относительно иериендикуляра, восстановленного в центре зоны облучения.

,J f+

Похожие патенты SU327703A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПОРИСТОСТИ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1994
  • Анциферов В.Н.
  • Макаров А.М.
  • Карасик А.С.
  • Шевцов Ю.В.
RU2097741C1
Способ получения тонкослойных детекторов ионизирующих излучений для кожной и глазной дозиметрии 2020
  • Мильман Игорь Игориевич
  • Сюрдо Алекандр Иванович
  • Абашев Ринат Мансурович
RU2747599C1
Способ получения тонкослойных детекторов ионизирующих излучений для кожной и глазной дозиметрии, использующий стандартный детектор AlO:С на базе анион-дефектного корунда 2018
  • Сарычев Максим Николаевич
  • Мильман Игорь Игориевич
  • Сюрдо Александр Иванович
  • Абашев Ринат Мансурович
RU2697661C1
РЕНТГЕНОВСКИЙ РЕФЛЕКТОМЕТР 1998
  • Турьянский А.Г.
  • Великов Л.В.
  • Виноградов А.В.
  • Пиршин И.В.
RU2129698C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЙ, ОСНОВАННЫЙ НА ИСПОЛЬЗОВАНИИ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2021
  • Филиппов Андрей Владимирович
  • Воронцов Андрей Владимирович
  • Шамарин Николай Николаевич
  • Денисова Юлия Александровна,
  • Москвичев Евгений Николаевич
  • Княжев Евгений Олегович
RU2772247C1
СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО КОНТРОЛЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ИЗДЕЛИЯ 2019
  • Седнев Дмитрий Андреевич
  • Ларионов Виталий Васильевич
  • Гаранин Георгий Викторович
  • Лидер Андрей Маркович
  • Оздиев Али Хосенович
RU2718406C1
Способ измерения толщины покрытия 1987
  • Выстропов Владимир Иванович
SU1422000A1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ толщины ПОКРЫТИЯИЗДЕЛИЯ 1969
SU254113A1
Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий 1983
  • Макаревич Леонид Антонович
  • Румак Николай Владимирович
  • Сакун Анатолий Федорович
  • Сапожников Владимир Владимирович
  • Скворцов Вадим Витальевич
  • Тишкевич Геннадий Иванович
  • Ярошевич Гилярий Болеславович
SU1087854A1
Способ измерения толщины покрытия 1985
  • Забродский Виталий Антонович
SU1245881A1

Иллюстрации к изобретению SU 327 703 A1

Реферат патента 1972 года ИЗОТОПНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ

Формула изобретения SU 327 703 A1

SU 327 703 A1

Авторы

Пиостраицы Рышард Шепке Болеслав Помериы

Польска Народна Ресиублика

Ииостраииое Предпри Тие Институт Дерных Исследований Варшава

Польска Пародиа Республика

Даты

1972-01-01Публикация