1
Изобретение относится к области спектрального анализа материалов, применяемых, например, Б атомной энергетике.
Известен способ спектрального анализа материалов, основанный на возбуждении анализируемой шробы и регистрации ее излучения.
В известном способе возбуждение образца осуществляют путем его испарения.
Предлагаемый способ позволяет повысить чувствительность анализа материалов, содержащих смесь трудноиспаряемых и легколетучих элементов.
Достигается это тем, что возбуждение образца осуществляют путем катодного распыления в охлаждаемом полом катоде.
Пример. Анализу подвергают цинк и окись цинка высокой чистоты на медь, железо, кадмий. Для анализа используют вакуумную установку для изотопного спектрального анализа, разрядная трубка которой состоит из двух частей, анодной и катодной.
Катодная часть представляет собой цилиндр с отростком, куда вставляют стаканчик с пробой. Внутрь цилиндра вставляют стаканчик из фторопласта, выполненный по размеру цилиндра, с отверстием, равным диаметру катода, чтобы изолировать стенки катода и получить свечение только от стаканчика с пробой.
В стаканчик из анализируемого образца цинка или алюминия высокой чистоты вводят анализируемый образец в виде порощка в количестве 20 мг. Стаканчик помещают в разрядную трубку с вакуумом до 10- мм рт. ст., после чего разрядную трубку наполняют аргоном до 0,9 мм рт. ст.
Спектры фотографировали при силе постоянного тока 200 ма и экспозиции 5 мин. Напряжение на электродах трубки колебалось в пределах 450-500 в. Катод охлаждали жидким азотом. Ширина щели спектрографа 20 мкм.
Предмет и з о б р е т е н и я
Способ спектрального анализа веществ путем возбуждения анализируемой пробы и регистрации ее излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности в присутствии труднолетучих и легколетучих элементов в пробе, возбуждение образца осуществляется путем его распыления в полом охлаждаемом катоде.
