Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале Советский патент 1975 года по МПК B29C17/10 

1

Предлагаемое устройство предназначено для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотошаблонах или слоях многослойных печатных плат (МПП) определенного размера, и может быть использовано в различных отраслях техники, где требуется точная сборка слоев по базовым отверстиям.

Известны устройства для пробивки отверстий в пленочном материале, содержащие вакуумный стол и приспособление для пробивки отверстий.

Цель изобретения - обеспечение установки изделий относительно базовых меток стола с большей точностью.

Это достигается тем, что вакуумный стол выполнен в виде жестко установленной опорной плиты с подвижной центральной частью, снабженной микрометрическими приводами ее перемещения. Для осуществления же контроля за совмещением базовых меток стола с метками на изделии, над вакуумным столом установлены направляющие со смонтированными с возможностью перемещения по ним микроскопами.

На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 - разрез по А-А на фиг. 1.

Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотощаблонах или слоях МПП, состоит из микроскопного устройства, выполненного в виде четырех одинаковых микроскопов 1, которые могут перемещаться в направляющих 2 и 3 при помощи фиксирующих винтов 4 и 5, из опорной плиты 6 с расположенными на ней матрицами 7 и центральной подвижной части стола 8 с подводом вакуума в полость корпуса 9, перемещающегося от микрометрических

винтов 10, 11 с пружинными возвратами 12,

13 и поворачивающегося вокруг своей оси от

червяка 14, взаимодействующего с зубчатым

сектором 15.

Пробивка осуществляется при помощи пуансонов 16, приводимых в движение кулачками 17 при помощи валов 18 и 19 от электродвигателя 20 через редуктор 21, однооборотную муфту 22 с электромагнитом 23, конические шестерни 24 и 25.

При отключенной вакуумной системе заготовка вручную устанавливается на центральной подвижной части стола 8 таким образом, чтобы контрольные (базовые) отметки или элементы рисунка на пленке оказались под

окулярами микроскопов, визирные устройства которых выставлены относительно контрольных отметок на опорной плите 6.

Затем включается вакуум, и заготовка плотно прижимается к поверхности подвижной части вакуумного стола 8. После этого

производится точное совмещение контрольных отметок или элементов рисунка с визирами микроскопов, что обеспечивается перемещением части стола 8 с прижатой заготовкой от микрометрических винтов 10 и 11 и поворотом от червяка 14.

Затем нажимом кнопки включается электромагнит 23, замыкающий однооборотную муфту 22, которая передает движение от электродвигателя 20 пуансонам 16 через редуктор 21, две пары конических щестерен 24 и 25 и два вала 18 и 19, несущих профильные кулачки 17.

При переходе к обработке заготовок, имеющих другое расположение контрольных отметок или базовых элементов, микроскопы с помощью винтов 4 и 5 перемещают по направляющим 2 и 3 до совпадения их визиров с соответствующими отметками на опорной плите.

Предмет изобретения

1. Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале, например в фотощаблонах или слоях многослойных печатных плат, содержащее вакуумный стол и приспособление для пробивки отверстий, отличающееся тем, что, с целью обеспечения установки изделий относительно базовых меток стола с большей точностью, вакуумный стол выполнен в виде жестко установленной опорной плиты с подвижной центральной частью, снабженной микрометрическими приводами ее перемещения.

2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что, с целью осуществления контроля за совмещением базовых меток стола с метками на изделии, над вакуумным столом установлены направляющие со смонтированными с

возможностью перемещения по ним микроскопами.

Фиг 1

б Зона разрежения д --