Способ измерения упругих деформаций Советский патент 1976 года по МПК G01B11/16 

,,51,4244

-1

НИН на кб1тйрЪвальных стайках, заключаю-тоянию той же детали, о т п и я ю щййся Б том,что величину деформаций и и с я тем, что, с цепью ПОВЫШРНИЯ

редепяют оптическим методом как разностьточности измерений, за недеформированную

результатов измерений координат точек . поверхность детали принимают односторонформированной поверхности и поверхности,не обработанную на том же стайке поверх соответствующей не деформированному сос ность жесткой заготовки.