Изобретение относится к рентгеновским гониометрам, используемым для определения кристаллических структур. Известны гониометры, содержащие держатель кристалла и подвижную относительно источника излучения и держателя кристалла фотокассету с пленкой. Эти гониомет ры не позволяют получить полную дифракционную картину, из которой исключены на ложенные отражения, без применения сложных методологических операций. Цель изобретения - запись полной дифра ционной картины при минимальном числе на ложенных отражений. Для достижения цели гониометр снабжен генератором равноотсаюящих импульсов, выход которого соединен с блоком подавления импульсов, формирующим вторую серию равноотстоящих импульсов с увеличенными интервалами между ними и регулирующим временные интервалы в соответствии с характеристиками иследуе мой структуры, причем выход блока подавления импульсов присоединен к системе перемещения фотокассеты. На фиг. 1 показан предложенный гониометр в общем виде; на фиг. 2 кулачковое колесо, генератор импульсов, блок подавления импульсов. Гониометр содержит источник излучения 1, вращающийся держатель 2 и кассету 3 для фотопленки. Излучение от источника проходит через коллиматор 4 к исследуемому кристаллу, который устанавливается внутри кассеты 3. Держатель 2 вместе с кассетой 3 располагается в раме 5, которая может наклоняться относительно источника изл чения, но при любом ее наклоне излучение остается направленным на кристалл, установленный на конце держателя 2. Кассета 3 может перемещаться с помощью зубчатого стержня 6 вдоль рамы. На внещнем конце держателя имеется кулачковое колесо 7, которое при вращении суппорта обеспечивает с помощью генератора 8 появление электрических импульсов через постоянные угловые интервалы. Выход генератора 8 присоединяется к блоку подавления импульсов 9, который подавляет определенные импульсы, генерируя новую серию рав
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для получения рентгеновских дифракционных топограмм монокристаллов | 1981 |
|
SU998928A2 |
Устройство для исследования совершенства структуры монокристаллических слоев | 1985 |
|
SU1396023A2 |
Устройство для исследования структуры монокристаллов | 1978 |
|
SU779866A1 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ КРИВЫХ ДИФРАКЦИОННОГО ОТРАЖЕНИЯ | 2010 |
|
RU2466384C2 |
Камера для рентгеновской топографии | 1977 |
|
SU694801A1 |
ВСЕСОЮЗНАЯ1В. Ф. Миусков, А. В. Миренский и Ю. Н. Шилинбюро института кристаллографии АН СССРnATEKTHO-TCXIHfVEGKAl | 1973 |
|
SU362233A1 |
Рентгеновский дифрактометр | 1981 |
|
SU1004834A1 |
Высокотемпературный рентгеновский дифрактометр | 1983 |
|
SU1151874A1 |
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических материалов с аксиальной текстурой | 1987 |
|
SU1509697A1 |
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР | 2002 |
|
RU2216010C2 |
Авторы
Даты
1977-08-05—Публикация
1968-07-26—Подача