Оптический штихмасс Советский патент 1942 года по МПК G01B13/12 G01B9/04 

Описание патента на изобретение SU61932A1

В основном авт. св. XQ 25271 описано устроГютво для измерения перемещемни поверхности но нормали.

Предметом ониеываемого нзобретения является оптический штихмасс для измерения расстояния между двумя повер..

bia чертеже изображена оптическая схема штихмасса.

Лучи евета выходят из щели S, помещеи} ои в точке изображения объектива Oi микроскопа, и на одной из измеряемых поверхностей P| дают изображение Si н.ели S. Это изображение находится в главном фокусе второго объектива Ог, откуда лучи выходят параллельными, отражаются зеркалами Mi и Ма и е номондыо объектива О., дают изображение S2 щели на второй измеряемой поверхности Ро. Это изображение рассматривается микроскопом, состояние из объектива О.; и окуляра О |.; . Ход лучей в этом микроскопе ире,:омл5;ется зеркалом М.

Объективы Oi и Оз, Сз и O.i составляют равные )i с порерхностями PI и Ро, в частном углы в 45.

По свойствам двойного мнкроскоиа сментение каждой из поверхностей PI и р2 вызывает перемещение изображения S.f 1г,ол1 S перед окуляром OK . Это еменеиие может бв1ть измерено по сетке. При указанной ехеме одинаковое неременение в одну и. TV же сторону поверхностей PI и Ра, соответетвуюн ее неизменности расстояния между ними в известных иределах, не смещает изображение, так как емещение поверхности PZ компенсирует перемещение изображеипя S.., вызваппое смещением новерхпости Pi. Наоборот, изменение расстояния между поверхностями PI и Рг сразу дает суммарное смещение изображения S/, в S.,, которое можно измерить по сетке.

Оптический щтихмасс может служить для контроля и нзмеренпя расстояния между двумя плоскими или ннлипдрнческнми новерхностями, например для измерения внутренних диаметров гллиидров и глу.№61932- 2 -

боких отверстий. Он удобени тем, что не точной центрировки относительно оси симметрии.И31меряемого размера и пригоден для контроля деталей, вращающихся-относительно оси, несколько не совпадающей с осью их симметрии. Несколько видоизмененный штихмасс применим для измерения наружных диаметров.

Предмет изобретения

Оптический штихмасс для измерения расстояния между двумя поверхностями, отличающийся тем, что он выполнен из двух соединенных последовательно измерителей перемещения поверхности по нормали по авт. св. № 25271 с параллельным ходом лучей между ними.

Похожие патенты SU61932A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения перемещения поверхности по нормали 1937
  • Линник В.П.
SU59260A2
Интерференционный способ наблюдения микропрофиля поверхности в заданном ее сечении и прибор для осуществления способа 1944
  • Линник В.П.
SU72947A1
Микроскоп, предназначенный для наблюдения малоконтрастных прозрачных объектов 1937
  • Линник В.П.
SU58495A1
Устройство для измерения перемещений поверхностей по нормали 1929
  • Линник В.П.
SU25271A1
Прибор для контроля формы асферических поверхностей 1981
  • Контиевский Юрий Петрович
  • Липовецкий Лев Ефимович
  • Хуснутдинов Амирхан Гильмутдинович
SU1024706A1
Интерферометр для определения углов и расстояний 1950
  • Линник В.П.
SU97966A1
Оптический микрометр 1954
  • Байбазаров А.А.
  • Коломийцев Ю.В.
SU104421A1
ПОЛЯРИЗАЦИОННОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1968
SU211824A1
Светопроекционный дальномер 1983
  • Грейм Игорь Александрович
  • Махов Евгений Михайлович
  • Прошин Игорь Анатольевич
SU1080013A1
Устройство для определения расфокусировки съемочной камеры (его варианты) 1982
  • Санников Петр Алексеевич
SU1114909A1

Иллюстрации к изобретению SU 61 932 A1

Реферат патента 1942 года Оптический штихмасс

Формула изобретения SU 61 932 A1

SU 61 932 A1

Авторы

Линник В.П.

Поляков Н.Ч.

Даты

1942-01-01Публикация

1941-06-02Подача