Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей Советский патент 1978 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU637705A2

Изобретение относится к контрольноиэксерительной .

Известно устройство для контроля качества обработки отверсти} деталей, содержащее последовательно расположенные по одной оси источник света, коллиматор, неподвиж тую кольцевую ДJ aфpaг fy, зеркало, представляющее собой конус с зеркальной наружной поверхностью, съемную кольцевую диас(}рагму, фотоприемник и узел для перемещения детали вдоль этой оси. Зеркало жестко связано с фотопри- емником l J .

Однако с помощью этого устройства невозможно осуществлять контроль качества обработки iнециликдрическюс отверстий (конических, овальной формы и т. п.)

Целью изобретения является расширение г)ункциональных возможностей устройства.

Цель достигается тем, что предлагаемое устройство снабжено двумя дополнительными соосными конусами, установленными между кольцевой диафрагмой и зеркалок с возможностью осевого переч ешения относитешзно друг друга, и один из которых выполнен с внутренней зеркальной поверхностью, а другой - с наружной.

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройстЕга.

Устройство содержит основание 1, на котором расположены источник 2 параллельного пучка света, например лазер, коллиматор 3, направляющие 4 конуса 5 с внутренней зеркальной поверхностью, направляюише 6 каретки 7, реверсивный привод 8 поступательного перемещения каретки с установленной на ней контролируемой деталью 9, привод 10 .поступательного перемещения конуса 5, связанный с приводом 8, и корпус 11.

На коллиматоре 3 установлены кольцевая диафрагма 12 и конус 13с наружной зеркальной поверхностью. В корпусе 11 находится фотопрнемник 14, на корпусе расположен наконечник 15с зеркалом 16, представляющим собой конус с зеркальной наружной поверхностью.

Похожие патенты SU637705A2

название год авторы номер документа
Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей 1980
  • Кузнецов Александр Николаевич
  • Калинушкин Евгений Павлович
  • Кондрашов Юрий Николаевич
  • Денисенко Александр Иванович
  • Однороженко Василий Борисович
  • Сабокар Александр Иванович
SU934219A2
Устройство для контроля качестваОбРАбОТКи ОТВЕРСТий дЕТАлЕй 1979
  • Гаркуша Игорь Павлович
  • Кузнецов Александр Николаевич
SU796661A2
Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей 1976
  • Сушко Владимир Васильевич
  • Голубев Юрий Михайлович
SU577399A1
Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей 1986
  • Корс Александр Владимирович
SU1401272A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОТВЕРСТИЙ ДЕТАЛЕЙ 2003
  • Чугуй Ю.В.
  • Финогенов Л.В.
  • Завьялов П.С.
  • Никитин В.Г.
  • Саметов А.Р.
RU2245516C2
Устройство для контроля шероховатости поверхности объекта 1976
  • Носов Виктор Петрович
  • Пасько Юрий Борисович
  • Полянский Вячеслав Константинович
  • Полянский Виктор Вячеславович
SU557264A1
Система для контроля качества внутренних поверхностей 1985
  • Суминов Вячеслав Михайлович
  • Гребенюк Елена Ивановна
  • Витман Александр Дмитриевич
  • Кречман Геннадий Ричардович
SU1298546A1
УСТРОЙСТВО ЛОКАЛИЗАЦИИ В РЕАЛЬНОМ ВРЕМЕНИ ИСТОЧНИКОВ РАДИАЦИИ 1995
  • Юбер Каркрефф
  • Жий Теллье
RU2138832C1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ОБЪЕКТА 1993
  • Солоухина Е.Н.
  • Марков И.А.
  • Солоухин Н.Д.
RU2095752C1
Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий 1989
  • Шиляев Валерий Николаевич
SU1714351A1

Иллюстрации к изобретению SU 637 705 A2

Реферат патента 1978 года Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей

Формула изобретения SU 637 705 A2

SU 637 705 A2

Авторы

Сушко Владимир Васильевич

Голубев Юрий Михайлович

Даты

1978-12-15Публикация

1977-05-05Подача