Недостатком этого дифрактометра является наличие углового диапазона в области малых углов дифракции, что обусловлено конической тенью гониометрической головки и в котором дифрагированное на кристалле излучение не может быть зарегистрировано детектором.
Цель изобретения заключается в том, чтобы расширить угловой диапазон регистрируемых дифракционных отражений.
Поставленная цель достигается тем, что рентгеновская трубка и детектор установлены по разные стороны от плоскости, перпендикулярной к общей оси поворота детектора и гониометрической головки, и ориентированы по отношению к ней под одинаковым углом ц, величина которого
выбрана -из условия , где фтах -
наибольший угол между второй осью поворота и прямой, проведенной из точки пересечения осей поворота гониометрической головки касательно к ней.
На чертеже дана принципиальная схема предлагаемого дифрактометра.
Гониометрическая головка 1 может вращаться вокруг оси Ф, расположенной в экваториальной плоскости и вокруг главной оси гониометра со. Счетчик 2 и рентгеновская трубка 3 установлены так, что при нулевом положении счетчика оси первичного луча и счетчика совпадают, образуя с экваториальной плоскостью постоянный угол.
Величина угла |j, при сборке дифрактометра выбирается так, чтобы первичный луч, будучи совмещенным с вертикальной плоскостью, содержащей оси м и Ф, не перекрывался деталями гониометрической головки, что соответствует условию ,
где фтах - наибольший угол между осью Ф и прямой, проведенной из точки -пересечения осей поворота гониометрической головки касательно к ней.
Предлагаемый дифрактометр позволяет расширить угловой диапазон регистрируемых отражений на область малых углов дифракции, что существенно расширяет его возможности и сокращает время, необходимое для исследования. Дифрактометр легко может быть автоматизирован.
Обеспечить один дополнительный поворот кристалла (Ф) в предлагаемом дифрактометре конструктивно много проЩб чем два поворота: трубки и счетчика - в дифрактометрах эквивалентного типа. Кроме того, жесткость конструкции (трубка и
счетчик имеют постоянный, а не переменный наклон) представляет собой явное преимущество по сравнению с конструкциями эквинаклонных дифрактометров. По сравнению с четырехкружными дифpaктoмeтjpaми экваториального типа предлагаемая конструкция имеет на одну степень свободы кристалла меньше, в результате чего практическая реализация, а также автоматизация дифрактометра много
проще.
Формула иёобретения
Рентгеновский дифрактометр, содержащий источник рентгеновского излучения, детектор, гониометрическую головку, средства поворота детектора и гониометрической головки вокруг первой общей оси с отношением угловых скоростей их поворота
2:1, средства поворота гониометрической головки вокруг второй оси, перпендикулярной к первой, отличающийся тем, что, с целью расширения углового диапазона регистрируемых дифракционных отражеНИИ, рентгеновская трубка и детектор установлены по разные стороны от плоскости, перпендикулярной к общей оси поворота детектора и гониометрической головки, и ориентированы по отношению к ней под
одинаковым углом (.1, величина которого выбрана из условия , где фтах - НаИбольший угол между второй осью поворота и прямой, проведенной из точки пересечения осей поворота гониометрической головки касательно к ней.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1.Зейкер Д. М. Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов. Л., «Машиностроение, 1973, с. 106-110.
2.Патент США № 3631240, кл. 250-51.5, опублик. 1971.
3.Выложенная заявка ФРГ № 1961648, кл. 42 Н 20/02, опублик. 1970.
4. Зейкер Д. М. Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов. Л., «Машиностроение, 1973, с. 103-104.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ рентгенодифрактометрического определения ориентировки монокристалла | 1980 |
|
SU890180A1 |
ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОРИЕНТАЦИИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В КРУПНОМ МОНОКРИСТАЛЛЕ ИЗВЕСТНОЙ СТРУКТУРЫ | 1993 |
|
RU2085917C1 |
РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТРВСЕСОЮЗНАЯ | 1972 |
|
SU328377A1 |
Дифрактометр для исследования тонкой структуры кристаллических материалов | 1980 |
|
SU873069A1 |
Рентгеновский дифрактометр | 1981 |
|
SU1004834A1 |
Способ рентгеновской дифрактометрии | 1980 |
|
SU911264A1 |
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических объектов с аксиальной текстурой | 1982 |
|
SU1062579A1 |
Дифрактометрический способ определения ориентировки монокристалла | 1980 |
|
SU890179A1 |
Способ юстировки дифрактометра | 1983 |
|
SU1144040A1 |
Установка для ориентированной резки монокристаллов | 1989 |
|
SU1766685A1 |
Авторы
Даты
1979-01-30—Публикация
1977-06-14—Подача