Ассоциативное запоминающее устройство Советский патент 1980 года по МПК G11C15/00 

Описание патента на изобретение SU731474A1

Устройство содержит матрицу / запоминающих элементов на МДП-транзисторах, дешифратор 2 кода адреса, логический блок 8, индикаторы. 4, запоминающие элементы 5, регист.р 6 сдвига, шины 7 выбора слов, шины 8 опроса разряда, нрямые шины 9 и инверсные шины 10, шины 11 «несовпадения единицы, шины /2 «несовпадение нуля, адресные транзисторы 1,3, логические транзисторы 14, нагрузочные транзисторы 15, контрольны.е транзисторы /, индикаторные транзисторы 17, вентили 18, блок 19 коммутации, первые вентильные транзисторы 20, вторые вентильные транзисторы 21, шину 22 питания, транзисторы 23 опроса.

В устройстве матрица ./ заноминаюших элементов на МДП-транзисторах, дешифратор 2 кода адреса соединены шинами 7 выбора слов с первыми входами запомпнаюших элементов, т. е. с затворами адресных транзисторов 13. Логический блок 3 соединена прямыми 9 и инверсными 10 разрядными шинами с вторыми и третьими входами запоминающих элементов, т. е. с затворами контрольных транзисторов 16, входы индикаторов 4 шинами // «несовпадения единицы и шинами 12 «несовиадение нуля - с вторыми и третьими выходами запоминающих элементов, т. е. со стоками соответствующих контрольных транзисторов 16, а иервые .входы веитилей /8, т. е. затворы транзисторов 23 оироса каждого за1по1минающего элемента 5 шинами 8 опроса разряда - с .выходами блока коммутации, т. -е. первыми 20 и вторыми 21 вентильными транзисторами. Входы блока 19 коммутации связаны с выходами регистра & сдвига.

Работает устройство следующим образом.

В иоиск по критерию (больще или меньще заданного значения) на разрядные щины 9 и 10 из логического блока 3 поступа, инверсный код опроса. При иаложении маски на разряд обе шины остаются под нулевым потенциалом. На вход регистра 6 сдвига подается импульс запуска. На затворы первых вентильных транзисторов 20 подается потенциал, открывающий эти транзисторы на все время «поиска большего или меньщего. Производится предварительный заряд паразитных емкостей щин // и 12 несовпадения. Затем € выхода регистра 6 сдвига на шину .8 опроса первого (старшего) разряда через блок 19 коммутации поступает им-пульс опроса, попадающий на первые ВХОДЫ вентилей 18 во всех элементах 5 первого разряда. В тех элементах 5, где несовпадение хранимой информации с кодом опроса, происходит |разряд одной из шин несовпадения через соответствующие контрольный .16 и индикаторный 17 транзисторы и транзистор 23 опроса. Если элемент 5 хранит «1, то 1при несовпадении разряжается шина Л (сигнал .больше), если элемент хранит «О, то при несовпадеНИИ разряжается вторая шина 12 (сигнал меньше). В случае совпадения кода опроса (с учетом маски) с хранимой информации обе шины несовпадения (// и 12) в соответствующем слове хранят предварительный заряд. При несовпадении индикатор 4 блокируется в состоянии, .соответствуюшем сигналу больше или меньше, и при опросах последующих разрядов своего состояния не меняет.

Затем происходит предварительный заряд шин «песовпаде шя единицы // и «нуля 12, после чего с второго выхода регистра 6 сдвига на шину 8 опроса второго разряда через блок 19 коммутации поступает импульс опроса. Сравпение хранидюй в запоминающем элементе второго разряда информации с кодом опроса проводится так

же, как и в первом разряде. Подобным же образом осуществляется последовательный опрос всех остальных разрядов матриды 1. После опроса всех разрядов индикаторы 4 будут иаходиться в состояниях, соответствующих сигналам больше, меньше или равно.

В режиме «поиск совпадения первые вентильные транзисторы 20 закрыты, а на

затворы вторых вентильных транзисторов 2/ после окончания предварительного заряда шин 11 и 12 несовпадения подается открывающий потенциал и все шины опроса разряда 8 подключаются к шине 22 питаиия. Во всем остальном устройство работает так же, как и в режиме «поиск большего или меньшего.

При совпадении хранимой в каком-либо слове информации -с кодом опроса шины 11

и 12 несовпадения данного слова хранят предварительный заряд и индикатор 4 фиксирует совпадения.

В режиме «запись код адреса поступает на вход дешифратора 2 кода адреса, вьгбирается соответствующая шина 7 выбора слова, на которую подается потенциал, открывающий адресные транзисторы 13, подключая логические транзисторы 14 к

разрядным шинам 9 и 10, на которых установлена записываемая информация.

В режиме «считывание проводится предварительный заряд паразитных емкостей разрядных шин 9 и 10 (схема предзаряда на чертеже не показана), .затем отк;рываются а.дресные транзисторы 13 выбранного слова и производится разряд паразитных емкостей разрядных шнн, соединенных с открытым плечом запоминающего элемента.

Регенерация информации осуществляется подачей импульса на затворы и стоки нагрузочных транзисторов 15.

В предлагаемом устройстве поиск по критерию требует меньших затрат времени

за счет исключения модификации кода опроса и произведения опроса каждого разряда за время, меньшее полного цикла АЗУ.

Формула изобретения

Ассоциативное запоминающее устройст1во, содержащее матрицу запоминающих элементов на МДП-транзисторах, дешифратор кода адреса, шины выбора слов которого .соединены с первым входом запоминающих элементов, логический блок, прямые н ннверсные разрядные шины которого соединены с вторым и третьим входами запоминающих элементов, индикаторы .и шину нулевого потенциала, отличающееся тем, что, с целью увеличения быстродействия устройства, в него введены регистр сдвига, шины «несовпадения единицы, «несовладения нуля и опроса разряда, вентили и блок коммутации, входы которого соединены с выходами регистра сдвига, а выходы - с шинами опроса разряда, соединенными с первыми входами соответствующих вентилей, вторые входы которых соединены с первыми выходами запоминающих элементов, второй и третий выходы которых подключены к шинам «несовпадения нуля и шинам «несовпадения единицы соответственно, которые соединены с индикаторами, выходы вентилей соединены с шиной нулевого потенциала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.JEEE J. of Solid-state Circuits, 1970, 5, .YO 5, стр. 208-215.

2.Старое Ф. Г. и др. Полупроводниковые интегральные ЗУ. «Энергия, 1973, с. 101 - 104.

3.The Electronic Engeneering, 1970, Л 6, с. 54-56 (прототип).

22

Похожие патенты SU731474A1

название год авторы номер документа
Оперативное запоминающее устройство на мдп-транзисторах 1974
  • Хавкин Владимир Ефимович
SU744726A1
АССОЦИАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО НА МДП-ТРАНЗИСТОРАХ 1973
  • В. Е. Хавкин
SU408374A1
Устройство для считывания информации из блоков памяти 1977
  • Гурьев Александр Юрьевич
  • Метрик Лев Михайлович
SU746718A1
Устройство для считывания информации из ассоциативной памяти 1981
  • Трусфус Валерий Михайлович
  • Тахаутдинова Светлана Леонидовна
  • Бикмухаметов Роберт Рамазанович
SU955203A1
Элемент памяти для ассоциативного накопителя 1976
  • Барашенков Борис Викторович
SU690565A1
Постоянное запоминающее устройство 1979
  • Вартанов Олег Сергеевич
SU842964A1
Ассоциативное запоминающее устройство 1982
  • Тимошенко Юрий Александрович
  • Тимошенко Сергей Александрович
SU1056269A1
Устройство для считывания информации из ассоциативного запоминающего блока 1974
  • Гурьев Александр Юрьевич
SU497636A1
Ассоциативный запоминающийэлЕМЕНТ 1979
  • Барашенков Борис Викторович
SU805412A1
ФОТОМЕТР УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 1992
  • Поляк Юрий Вольфович[Uz]
  • Пак Генадий Алексеевич[Uz]
RU2069843C1

Иллюстрации к изобретению SU 731 474 A1

Реферат патента 1980 года Ассоциативное запоминающее устройство

Формула изобретения SU 731 474 A1

SU 731 474 A1

Авторы

Гурьев Александр Юрьевич

Метрик Лев Михайлович

Даты

1980-04-30Публикация

1976-09-27Подача