Изобретение относится к способам определения физико-механических свойств в поверхностных слоях различных твердых тел и предназначено 5 для микромеханических испытаний, например на микротвердость.
Известен способ измерения глубины отпечатка при микроиндентировании, заключающийся в том, что в испытывав- 10 мый образец непрерывно вдавливают алмазную пирамиду и записывают диаграмму вдавливания Ы
Однако в этом способе при измерении глубины отпечатка не учитывают j величину упругой податливости системы образец-прибор.
Цель изобретения - повышение точ- . ности измерений.
Указанная цель достигается тем, 20 что повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определяют величину упругой податливости системы образец-прибор с учетом их упругого сближения по Герцу,, и по 25 разности перемещения алмазной пирамиды и величины упругой податлибости системы образец-прибор определяют истинную глубину отпечатка индентора.30
Способ осуществляется следующим образом.
На приборе с непрерьшным вдавливанием индентора записывают диаграмму вдавливания алмазной пирамиды Виккерса в поверхность испытуемого образца. По этой диаграмме определяют величину перемещения h пирамиды при данной нагрузке. Затем записывают диаграмму вдавливания сферы. Диаметр сферы подбирается таким, чтобы вдавливание происходило без образования остаточного отпечатка, т. е. чтобы процесс вдавливания был чисто упругим. При выполнении этого условия на диаграмме вдавливания сферы линии нагруЛения и разгрузки должны совпадать, если этого не происходит, то следует взять сферу большего диаметра. По дйс1гра1 ме вдавливания сферы определяют перемещение h. сферы при данной нагрузке и по ней с учетом величины упругого сближения о; сферы с плоскостью образца (подсчитанной по формуле Герца,при той же нагрузке) определяют упругую податливость системы образец-прибор hQoa. сф, - f
ТЙс Шй1Ш ШуВ11 на от печаткапирамиды равна разности перемещений пирамиды и сферы
hp h - cf,
где hj - истинная глубина внедрения пирамиды пол нагрузкой;h - перемещение пирамиды по диаграмме вдавливания;
сф. перемещение сферы по диаграмме вдавливания;
сГ упругое сблих(ение сферы с плоскостью образца (по формуле Герца
4Vf(v
где Р - нагрузка на сферу;
ijjju,, Е,Е, - коэффициенты Пуанссона и модули упругости ис;: ;;-:г. . пытуемого материала и материала сферы соот,v. ,.,.,: ветственно,.
R - радиус вдавливаемой сферы).
Формула изобретения
Способ измерения глубины отпечатка при микроиндентированйи, заключакяций, ся в том, что в испытываемый образец - непрерывно вдавливают алмазную пира МИДУ и записывают диаграмму вдавливания, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, повторно вдавливают сферический индентор, по его перемещению определяют величину упругой податливости системы образец-прибор с учетом их упругого сближения по Герцу, и по разности перемещения алмазной пирамиды и величины упругой 5 -податливости системы образец-прибор определяют истинную глубину отпечатка индентора.
Источники информации, 0 принятые во внимание при экспертизе
1, Геллер Ю/ А. и др. Материаловедение. М., Металлургия, 1975, с. 179 (прототип).
