Ультразвуковой импульсный зеркально- ТЕНЕВОй СпОСОб дЕфЕКТОСКОпии Советский патент 1981 года по МПК G01N29/04 

(54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ИМПУЛЬСНЫЙ ЗЕРКАЛЬНОТЕНЕВОЙ СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Изобретение относится к неразруша щему контролю и может быть использовано для контроля качества склейки неметаллических покрытий с металлическими основаниями. Известны ультразвуковой теневой импедансный и другие способы дефектоскопии, используемые для контроля качества приклейки неметаллических покрытий к металлу 1 . Недостатками этих способов являются необходимость двухстороннего , доступа к контролируемому изделию у первого или возможность контроля изделий с жесдкими покрытиями небольши толщин у второго и . Наиболее близким к предлагаемому является ультразвуковой и пульсный зеркально-теневой способ дефектоскоПИИ, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают с помощью излучателя ультразвуковые колебания, принимают с помощью прием ника донный сигнал и по ослаблению его амплитуды судят о наличии дефекта 2 . Недостатком Известного способа яв ляется невозможность контроля двухслойных изделий, скорость распростра нения ультразвуковых колебаний в нижнем по отношению к его вводу слое которых больше, чем в верхнем из-за сложности разделения в времени ультразвуковых колебаний, распространяющихся прямо по покрытию, и донного сигнала. Цель изобретения - возможность контроля двухслойных изделий, скорость распространения ультразвуковых колебаний в нижнем по отношению к его эводу слое которых больше,чем в верхнем. Поставленная цель достигается тем, что измеряют скорость распространения ультразвука в нижнем слое, а расстояние между излучателем и приемником выбирают из соотношения L - расстояние между излугде. чателем и приемником; h. - толщина покрытия; С„ , Ц - скорости распространени ультразвуковых колебани впокрытиях и материале основания соответственноf,, - длительность эондирукще го импульса-. Способ осуществляется следухяцим образом. Измеряют скорость ультразвуковых колебаний в материале основания. Излучатель и приемник устанавливают на поверхности двухслойного изделия со стороны покрытия, имеющего скорость распространения ультразвукоках колебаний меньшую, чем скорость распространения ультразвуковых колебаний в основании на расстоянии L, выбранном из указанного выще соотношения. Сканируют по поверхности покрытия системой излучатель-приемник, возбуж дая при этом с помощью излучателя ультразвуковые колебания в изделии и принимая с помощью приёмника донный сигнал, и по ослаблению его амплитуды судят о наличии дефекта. Возбужденные в двухслойном изделии ультразвуковые колебания могут прийти к приемнику или прямо по покрытию, или пройдя, сквозь покрытие в основание, отразившись от его противоположной поверхности , и пройдя обратно сквозь основание в покрытие Размещение излучателя и приемника на расстоянии L, выбранном из указан ного выше соотношения, позволяет четко разделить во времени два этих сигнала, так как донный сигнал в это случае приходит к приемнику первым, что позволяет регистрировать его ослабление. Соотнесение для определения L получено путем сравнения времени распространения сигнсшов в обоих случаях. Таким образом, использование пред лагаемого способа позволяет осуществлять контроль двухслойных изделий, у которых скорость распространения ультразвуковых колебаний в покрытии меньше скорости распространения ультразвуковых колебаний в основании при одностороннем доступе к контролируемому изделию. Формула изобретения Ультразвуковой импульсный зеркально-теневой способ дефектоскопии, заключактщйся в том, что в контролируемом изделии возбуждают с помощью излучателя ультразвуковые колебания, принимают с помощью приемника донный сигнал и по ослаблению его амплитуды судят о наличии дефекта, отличающийся тем, что, с целью возможности контроля двухслойных изделий, скорость распространения ультразвуковых колебаний в нижнем по отношению к их вводу слое которых больше, чем в верхнем; измеряют скорость распространения ультразвука в нижнем слое, а расстояние между излучателем и приемником выбирают из соотношения H-tr Сп 1 1 Сп L -.расстояние между излучателем и приемником; h - толщина покрытия; С ,-Cj, - скорость распространения ультразвуковых колебаний в покрытии и материале, основания соответственно; tj, - длительность зондирующего импульса. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Приборы для неразрушакицего контроля качества материалов и изделий. Справочник. М., Ма111иностроение, 1976, т. 2, с. 254-278. 2.-Приборы для неразрушающего контроля качества материалов и изделий. Справочник. М., Машиностроение, 1976, т. 2, с. 222-224 (прототип).