Имитатор для настройки дефектоскопов Советский патент 1981 года по МПК G01N27/90 

(54) ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПОВ

Изобретение относится к контроль но-измерительной технике и может быть использовано для настройки дефектоскопов с преобразователями, вращаюш имися вокруг контролируемого изделия. По основному авт. св. № 739391 из вестен имитатор для настройки дефектоскопов, выполненный в виде протяженного цилиндра, составленного из нескольких концентричных слоев, а искусственный дефект на цилиндре выполнен в виде сквозной прорези вдоль образукщей цилиндра по крайней мере в одном из слоевСП. Однако с помощью данного имитатора можно осуществлять настройку дефектоскопа лишь для измерения дефектов одной определенной глубины, а дл полного нетоологического обеспечёдая дефектоскопа необходим комплект различных имитаторов. Кроме того, для воспроизведения слоя с заданной глубиной дефекта требуется изсотовлять слой листа с большой точностью. Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измеряемых дефектов с помощью одного и того же имитатора. Указанная цель достигается тем, что слои цилиндра вдоль продольной оси выполнены переменной толщины, изменяющейся равномерно вдоль образующей слоев. Разомкнутый слой переменной толщины воспроизводит дефект в виде несплошности переменной глубины и содержит все значения глубин дефекта, определяемые толщиной данного слоя. На чертеже приведено предлагаемое устройство. Имитaтop составлен из двух частей 1 и 2. Каждая часть имитатора выполнена в виде конического цилиндра, у которых толщина стенки изменяется в направлении продольной оси. Части имитатора 1 и 2 соединяются так.