Устройство для уменьшения самообращения спектральных линий Советский патент 1981 года по МПК G01N21/67 

Описание патента на изобретение SU894495A1

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ УМЕНЫЛЕНИЯ САМООБРАЩЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ

Похожие патенты SU894495A1

название год авторы номер документа
Дуговой способ возбуждения спектра исследуемого образца 1980
  • Янковский Антон Антонович
  • Каган Леонид Маркович
SU922599A1
СПОСОБ АНАЛИЗА ФАЗОВОГО СОСТАВА ПОРОШКОВЫХ ПРОБ МИНЕРАЛОВ 1992
  • Аполицкий В.Н.
RU2057323C1
Способ эмиссионного спектрального анализа неорганических летучих хлоридов на примеси щелочных элементов 1983
  • Максимов Дмитрий Евгеньевич
  • Рудневский Александр Николаевич
  • Шишов Владимир Николаевич
SU1122944A1
СПОСОБ ФАЗОВОГО АНАЛИЗА СОСТАВА МИНЕРАЛЬНЫХ ОБРАЗОВАНИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1992
  • Хохлов В.В.
RU2056629C1
Способ подготовки нефти и нефтепродуктов к спектральному определению азота 1989
  • Рыженко Ирина Ивановна
  • Биктимирова Тамара Габдулловна
  • Замилова Любовь Михайловна
SU1651141A1
Компаратор-микрофотометр 1976
  • Ковалев Виктор Иванович
  • Кононов Эдуард Яковлевич
SU601579A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ МАССОВЫХ ДОЛЕЙ ЭЛЕМЕНТОВ В МАТЕРИАЛАХ И СПЛАВАХ 1990
  • Никитенко Б.Ф.
  • Одинец А.И.
  • Казаков Н.С.
  • Кузнецов В.П.
  • Кузнецов А.А.
RU2035718C1
СПОСОБ АНАЛИЗА СОСТАВА МАТРИЦЫ КОМПОЗИЦИОННОГО МАТЕРИАЛА 1991
  • Твердохлебова Светлана Васильевна[Ua]
  • Спиридонова Ирина Михайловна[Ua]
  • Жудра Александр Павлович[Ua]
  • Белый Александр Иванович[Ua]
RU2030734C1
Способ определения химического состава поликомпонентных минеральных веществ 1977
  • Смоляк Иннокентий Иванович
  • Паршин Александр Константинович
  • Лонцих Самуил Владимирович
SU763697A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА 1991
  • Одинец А.И.
  • Никитенко Б.Ф.
  • Кузнецов В.П.
  • Копелев О.Н.
RU2031375C1

Иллюстрации к изобретению SU 894 495 A1

Реферат патента 1981 года Устройство для уменьшения самообращения спектральных линий

Формула изобретения SU 894 495 A1

1

Изобретение относится к спектроскопни и может быть использовано, например, при спектральном анализе состава различных вицеств.

Известно устройство, содержащее герметичную камеру, в которой создано пониженное давление и электроды, расположенные в камере один напротив другого с зазором, в котором горит электрический разряд. Благодаря применению атмосферь с пониженным давлением происходит уменьшение самообращения спектральных линий, возбуждающихся в электрическом разряде 1.

Недостатками этого устройства является его сложность, вызванная наличием герметичной камеры с окошком из оптически прозрачного кварца для выхода излучения, а также необходимостью подключения дополнительных устройств для создания пониженного давления. Кроме того, при эксплуатации такого устройства существуют значительные неудобства, связанные с необходимостью многократного разбора, камеры и изменения в ней давления при замене электродов.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройство для уменьшения самообращения спектральных линий, включающее основные электроды, установленные один напротив другого с зазором, и дополнительный электрод для создания дополнительного электрического поля, выполненный в виде пластины, установленной в камере вне зазора параллельно одному из основных электродов 21 .

10

К недостаткам этого устройства относится как сложность конструкции, вызванная применением герметичной камеры с дополнительными устройствами для создания разрежения, так и

15 неудобства эксплуатации в связи с необходимостью разборки и сборки камеры при замене электродов.

Цель изобретения - повышение удоб20ства эксплуатации и упрощение конструкции .

Поставленная цепь достигается тем, что в известном устройстве для уменьшения самообращения спектральных ли25ний, включающем основные электроды, установленные один напротив другого с зазором, и дополнительный электрод для создания дополнительного электри ческого поля, основные электроды

30 установлены внутри дополнительного

электрода, имеющего сквозное отверстие для выхода излучения,

В предлагаемом устройстве основные электроды с горящим между ними разрядом установлены внутри дополни,тельного электрода так,что дополнительное электрическое поле непосредственно влияет на плазму разряда, вызывая уменьшение самообращения - спектральных линий. В устройстве - прототипе, вследствие описанного расположения дополнительного электрода, дополнительное электрическое поле создается в одной части камеры, а разряд горит в другой, поэтому дополнительное поле не воздействует на плазму разряда,

На фиг. 1 показана схема предлагаемого устройства; на фиг, 2 ре- гистрограмлш провалов в центре спектральных линий, полученные без наложения дополнительного электрического поля и с его наложением.

Устройство содержит (фиг, 1) основные электроды 1, мезкду KOTO| iiMH горит электрический разряд 2, Основные электроды 1 устанавливают внутри дополнительного электрода 3, выпол неннрго, например, в внде цш ЕИадра, котором сделано сквозное отверстие 4 для выхода излучения. На дополни-тельный электрод 3 посрбйСтвоМ клеммы 5 подают потенциал относительно клеммы б, соединенной через регйсто- ры 7, имекздие большое сопротивление , с основньши электродам 1,

Пример, Медные электроды диаметром 6 мм затачиваются на усеченный конус с площадкой диаметром 2 мм. Между ними зажигается дуга постоянного тока (ток 4 А), Применяется стандартное оборудование фирма Кар Цейс, Йоиа: генератор UBj - I, штатив FS - II, спектрограф PGtf 2 (однократное прохождение лучей, обратная линейная дисперсия 0,74 ям/мм реле времени Z6 - 1. Ширина щели спектрографа 0,02 мМ, система освещения трехлинзовая, промежуточная диафрагма 2 мм, время экспозиции 41 с. Спектры регистрируются на фотопластинках (тип I) чувствительностью 5 ед, ГОСТа, Обработка фотопластинок стандартйая.

Измерение почернений линий производится на микрофотометре МФ-2 при ширине щели 0,02 мм. Для записи регрстрограмм линий используется скоростной микрофотометр G II (ширина щели 0,005 мм) со стандартным самописцем G1B1 фирмы Карл Цейс, Иона (ГДР), Скорость движения бумаги 30 мм/мин, скорость вращения приводного Всша 0,02 об/мин.

Дополнительный электрод имеет диаметр 11 мм, высоту 15 мм и отверстие 4X4 мм. На этот электрод подается постоянный потенциал. Резисторы 7 (фиг, 1) имеют сопротивление

по 3 МОм. Для снижения интенсивноети спект|юв на пути лучей помещается полиэтиленова-я пленка толщиной 2 мм.

Ре льтати представлены в таблицах 1 и 2.

На фиг. 2 приведены регистрограммы провалов в центре самообращенной линии Си1 324,7 нм.Регистрограммы 1,3 5, а, 10, 11 получены без дополнительного электрического поля (потенциал ), регистрограм ы 2, 4, б, 7, 9, 12 - при включений дополнительного электрического поля (потенциал ,0 кВ).

Таблица 1

i:i:::::i

и

т а

лица

иS + (f1 d +cf

Примечание , U- потенциал иа дополнительном электроде (в киловольтах); S - почернение в центре провала самообращенной линии Си1 324.7 км; d - ширина провала (в :. ) в центре линии Си1 324,7 им, измеренная на фотопластинке при помощи микрофотометра на уровне почернения 2,00; (Г - среднее арифметическое отклонение единичного опыта.

Данные, приведенные в таблице, свидетельствуют об увеличении почернения в центре провала самообращенной линии и уменьшении ширины провала при включении дополнительного электрического поля. На фиг. 2 вид-но, что при включении этого поля уменьшается ширина и глубина провала Формула изобретения

Устройство для уменьшения самообращения спектральных линий, включаю.щее основные электроды, установлен;ные один напротив другого с зазором, к дополнительный электрод для создания дополнительного электрического поля, от л ича ющ е е с я тем, что, с целью повышения удобства эксплуатации и упрощения конструкции, основные электроды установлены внутри дополнительного электрода, имеющего сквозное отверстие для излучения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Королев Н.В. и др. Эмиссионный спектральный микроанализ. Л., 1971, с. 148;2.Ландсберг Г.С. Оптика, М.,

i Наука, 1976, с. 631 (ЛротОтип) ,

4

Л/ лгл/- ЛГ

Г2

SU 894 495 A1

Авторы

Янковский Антон Антонович

Каган Леонид Маркович

Даты

1981-12-30Публикация

1980-03-07Подача