Способ неразрушающего контроля поверхности твердых тел Советский патент 1981 года по МПК G01N31/22 G01N24/10 

Описание патента на изобретение SU894565A1

(54) СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ

Похожие патенты SU894565A1

название год авторы номер документа
Способ определения дефектов на поверхности твердых тел 1981
  • Букин Игорь Иванович
  • Гуфранов Марат Галеевич
  • Розанцев Эдуард Григорьевич
  • Халилов Радик Равилович
  • Прусакова Наталья Викторовна
SU1013830A1
Способ определения хемосорбированного кислорода 1990
  • Лунина Елена Вадимовна
  • Ребеко Алексей Геннадиевич
  • Фионов Александр Викторович
SU1792913A1
Способ определения адгезии 1984
  • Смуругов Владимир Алексеевич
  • Мышкин Николай Константинович
  • Деликатная Ирина Олеговна
SU1226226A1
Способ модифицирования кремнезема 1982
  • Брей Владимир Викторович
  • Горлов Юрий Иванович
  • Куц Владимир Сергеевич
SU1012970A1
Устройство для контроля поверхностных дефектов изделий 1988
  • Деленковский Николай Владимирович
  • Прохоренко Петр Петрович
  • Фурса Евгений Яковлевич
SU1582099A1
Способ определения степени деструкции клеток 1981
  • Иванов Леонид Викторович
  • Моисеев Виктор Алексеевич
  • Гаврилова Ирина Ивановна
  • Цымбал Лилия Васильевна
  • Василовский Вадим Юрьевич
SU1049808A1
Способ определения влажности органических растворителей 1988
  • Прохоров Сергей Григорьевич
  • Стригуцкий Виктор Петрович
  • Долидович Елена Федоровна
  • Шеремет Людмила Станиславовна
SU1636751A1
Реагент для определения хлора и его неорганических производных 1980
  • Соложенкин Петр Михайлович
  • Швенглер Филипп Александрович
  • Шалухина Любовь Михайловна
  • Зинченко Зинаида Алексеевна
SU947024A1
Способ контроля за продвижением растворов поверхностно-активных веществ, закачиваемых в нефтяной пласт 1978
  • Букин Игорь Иванович
  • Розанцев Эдуард Григорьевич
  • Заев Евгений Емельянович
  • Гарипова Галия Асгатовна
  • Розеншмидт Овадий Матвеевич
  • Мухаметов Зуфар Валеевич
SU667930A1
Калибровочный образец для ЭПР-спектроскопии 1988
  • Баранов Михаил Александрович
  • Ильгасова Надежда Петровна
  • Лесков Анатолий Сергеевич
  • Любченко Леонид Сергеевич
  • Папков Алексей Васильевич
  • Пенина Наталья Михайловна
  • Прохоров Сергей Григорьевич
  • Стельмах Вячеслав Фомич
  • Стригуцкий Виктор Петрович
SU1603266A1

Реферат патента 1981 года Способ неразрушающего контроля поверхности твердых тел

Формула изобретения SU 894 565 A1

1

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам неразрушающего контроля поверхности твердых тел, и может быть использовано для оценки качества поверхности оптических стекол и искусственных алмазов.

Оценка качества поверхности твердых тел, особенно различных монокристаллов, применяемых в оптической спектроскопии (линзы, призмы), имеет большое значение, так как именно от наличия или отсутствия на поверхности дефектов (трешин, царапин) зависит разрешающая способность оптических приборов. Оценка наличия поверхностных дефектов важна в отношении искусственных алмазов, применяемых в инструментальной технике для изготовления различного режушего инструмента (резцы, буровые коронки и т. д.). Известно, что прочность различных кристаллических веществ во многом определяется поверхностными дефектами, наличие которых уменьшает прочность в десятки и сотни раз. Поэтому оценка качества поверхности алмазов, наличия дефектов на их поверхности приобретает очень важное значение, при

этом оценка качества поверхности должна проводиться без разрушения образца.

Известен способ неразрушающего контроля поверхности твердых тел, включающий нанесение на поверхность индикатора - раствора люминофора, удаление его остатка, не заполнившего дефекты, с помощью дитолилметана, нанесение на поверхность проявителя (активированной глины «Асканит) и визуальную регистрацию дефектов 1 .

10

Однако известный способ сложен, длителен и характеризуется низкой чувствительностью.

Наиболее близким к предлагаемому по

5 технической сущности и достигаемому результату является способ неразрушаюшего контроля поверхности твердых тел, включающий нанесение на поверхность образца индикатора - люминесцентного вещества, удаление индикатора, создание над поверхностью образца вакуума для выталкивания индикатора из дефектов на поверхность и визуальную регистрацию дефектов по наличию индикатора на поверхности 2. Однако известный способ характеризуется низкой чувствительностью и отсутствием количественной оценки дефектов. Цель изобретения - повышение чувствительности определения. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу неразрушающего контроля поверхности твердых тел, включающему нанесение индикатора на поверхность твердого тела, удаление его с поверхности и последующую регистрацию поверхностных дефектов, в качестве индикатора используют стабильные нитроксильные радикалы, а регистрацию осуществляют методом электронного парамагнитного резонанса. Стабильные нитроксильные радикалы (например, 2, 2, 3, 5, 5-пентаметил-4-фенил-индазолин - 1 - оксил, 2,2,5,5 - тетраметил-4-фенил-З-имидазолин-З-оксид-1 -оксил, 2,2,6,6 - тетраметил - 4 - оксопиперидин - 1 - оксил) обладают щироким интервалом плавления (от жидких при комнатной температуре до температуры плавления 100°С и брлее), что позволяет использовать их при различных температурах. Стабильные нитроксильАые радикалы растворимы в органических и неорганических растворителях, что позволяет смывать их с поверхности изделий из любых материалов. Малые размеры молекул стабильных нитроксильных радикалов позволяют проникать этим индикаторам в очень малые полости дефектов, при этом регистрация этих индикаторов происходит непосредственно в полости дефектов. Наличие у стабильных нитроксильных радикалов неспаренного электрона позволяет регистрировать их методом ЭПР в количестве 10 г-моль. Пример. Исследуемый образец кристалла хлористого натрия помещают в жидкий стабильный нитроксильный радикал 2,2,6,6тетраметил-4-оксопиперидин-1 -оксил, выдерживают в течение 1 мин и отмывают хлороформом. Отмытые кристаллы помещают в резонатор ЭПР-спектрометра и количественно определяют наличие дефектов на поверхности. Таким образом, предлагаемый способ неразрущающего контроля поверхности твердых тел позволяет количественно оценивать наличие дефектов на поверхности с высокой чувствительностью (10 г-моль). Формула изобретения Способ неразрущающего контроля поверхности твердых тел, включающий нанесение индикатора на поверхность твердого тела, удаление его с поверхности и последующую регистрацию поверхностных дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности определения. в качестве индикатора используют стабильные нитроксильные радикалы, а регистрацию осуществляют методом электронного парамагнитного резонанса. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР 196423, кл. G 01 N 21/16, 1967. 2.Авторское свидетельство СССР 398863, кл. G 01 N 21/32, 1973.

SU 894 565 A1

Авторы

Букин Игорь Иванович

Халилов Радик Равилович

Кагарманов Нурулла Фаритович

Хамидуллин Явдат Накипович

Даты

1981-12-30Публикация

1980-04-29Подача