Способ магнитографического контроля изделий Советский патент 1982 года по МПК G01N27/85 

Описание патента на изобретение SU945764A1

(5) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ

Похожие патенты SU945764A1

название год авторы номер документа
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1975
  • Зайцев Александр Фролович
  • Петренко Владимир Петрович
SU954868A1
Способ магнитографического контроля сварных соединений 1990
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Романов Вячеслав Анатольевич
SU1767408A1
Способ магнитографического контроля сварных швов 1990
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Романов Вячеслав Анатольевич
SU1755169A1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1975
  • Зайцев Александр Фролович
  • Петренко Владимир Петрович
SU602845A1
Способ магнитографического контроля стыковых сварных соединений 1987
  • Новиков Владимир Алексеевич
SU1506346A1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1991
  • Романов Вячеслав Анатольевич
  • Новиков Владимир Алексеевич
SU1797032A1
СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ МНОГОСЛОЙНЫХ СВАРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ 1991
  • Новиков В.А.
  • Романов В.А.
  • Волченков А.В.
RU2029297C1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1988
  • Новиков Владимир Алексеевич
SU1608566A1
Способ магнитографического контроля 1988
  • Выборненко Сергей Иванович
  • Шарова Александра Михайловна
  • Лаврентьева Виктория Михайловна
SU1562836A1
Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов 1988
  • Новиков Владимир Алексеевич
  • Кублицкая Лада Владимировна
  • Киселева Татьяна Михайловна
SU1534380A1

Реферат патента 1982 года Способ магнитографического контроля изделий

Формула изобретения SU 945 764 A1

1

Изобретение относится к магнитографическому контролю и может быть использовано для контроля качества изделий из ферромагнитных материалов.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что изделие намагничивают совместно с размещенным Q на его поверхности носителем, считают с носителя магнитограмму и по ней судят о наличии дефектов

Недостаток известного способа заключается в отсутствии эталонированияJ5 контраста магнитной записи на носителе, что снижает достоверность контроля.

Цель изобретения - повышение достоверности контроля..20

Указанная цель достигается за счет того, что на «магнитном носителе получают немагнитные участки, измеряют сигнал, обусловленный этими участками , и по величине этого сигнала суДят о контрасте магнитной записи.

Способ осуществляется следующим образом.

На магнитном носителе получают не- магнитные участки, например .вырезают отверстие или на небольшом участке ленты оставляют только узкую полоску магнитного слоя. Накладывают магнитный носитель на изделие так, чтобы отверстие было расположено в исследуемой зоне. Измеряют сигнал, обусловленный немагнитным участком носителя, и по величине этого сигнала судят о контрасте магнитной записи на носителе.

Для выбора режима намагничивания при осуществлении магнитографического контроля носитель накладывают на бездефектный участок изделия. Затем намагниченность изделия меняют до тех пор, пока в изделии не наступит магнитное насыщение, а скорость роста подмагничиванияносителя, кото3Эрую определяют по сигналу от немагнитного участка, не сделается максимальной. Тогда намагниченность носителя соответствует ее максимальной чувствительности. Затем осуществ- , ляют магнитографический контроль изделий. Предлагаемый способ позволяет получить информацию об интенсивности подмагниченности носителя и, тем самым, повысить надежность при магнитографическом контроле. Формула изобретения Способ магнитографического контроля изделий из ферромагнитных материа v.-i. . лов, заключающийся в том, что изделие намагничивают совместно с размещенным на его поверхности носителем, считывают с носителя магнитограмму и по ней судят о наличии дефектов, о т ли чающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, на магнитном носителе получают немагнитные участки, измеряют сигнал, обусловленный этими участками, и по величине этого сигнала судят о контрасте магнитной записи. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Козлов B.C. Физика магнитографической дефектоскопии. М., Машиностроение, 1968, с. tO-SI (прототип).

SU 945 764 A1

Авторы

Акулов Николай Сергеевич

Козлов Валерий Сергеевич

Жолнерович Олег Антонович

Шарова Александра Михайловна

Даты

1982-07-23Публикация

1971-01-11Подача