СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩЕГО МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ФОТОПРИЕМНИКА НА ОСНОВЕ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР InGaAs/InP Российский патент 2008 года по МПК H01L31/18 

Описание патента на изобретение RU2318272C1

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых фотоприемников и может быть использовано для создания многоэлементных линеек pin-фотодиодов на основе гетероструктур InGaAs/InP, предназначенных для применения в системах лазерной локации, обнаружения лазерного излучения, ИК-спектрометрии, многоспектральных ВОЛС, а также нового поколения систем ночного видения. Кроме этого изобретение может быть использовано в технологии изготовления многоэлементных матричных pin-фотодиодов с любым количеством элементов на основе соединений А3В5.

Известен способ изготовления многоэлементного фотоприемника на основе InGaAs (Marshall J.Cohen et. al. Commercial and Industrial Applications of Indium Gallium Arsenide Near Infrared Focal Plane Arrays, описанный в Part of the SPIE Conference on Infrared Technology and Applications XXV Orlando, Florida, April 1999 SPIE Vol.3698), no меза-планарной технологии с использованием эпитаксиальной структуры n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP, разработанный фирмой Sensor Unlimited, Inc. (США). Единичные фотодиоды являются планарными, и все процессы диффузии проводятся с маской из пассивирующей пленки нитрида кремния (Si3N4). Фотодиодная матрица изолируется с помощью меза-травления эпитаксиальных слоев n-InP и n-In0,53 Ga0,47 As до подложки n+-InP, при этом формируется электрический контакт к n+-InP, т.н. общий вывод. Технология способа изготовления включает в себя следующие процессы:

- пластину покрывают пленкой Si3N4. для хорошей пассивации поверхности;

- фотолитографическим способом в пленке вскрывают окна под диффузию с помощью плазмо-химического травления;

- p-n-переход формируют диффузией цинка в замкнутой трубе из источника ZnAs. Время и температура диффузии подбирается так, чтобы диффузионный фронт находился на глубине около 2500А в активном слое InGaAs;

- пластины покрывают вторым слоем пленки Si3N4;

- во втором слое Si3N4 вскрывают контактные окна и создают омические контакты металлизацией золото/цинк (Au/Zn);

- фотодиодную матрицу изолируют меза-травлением, и образуется контакт к подложки n+-InP;

- омический контакт золото/германий (Au/Ge) наносят на подложку и, таким образом, формируют оба контакта на пластине;

- с обратной стороны наносят антиотражающее покрытие;

- металлизацию золото/титан (Au/Ti) наносят в качестве верхнего слоя как на омические контакты к р-области, так и на омические контакты к подложке n+-InP;

- индиевые столбики наносят на контакты как к р-области, так и на контакты к подложке n+-InP;

- пластины разбраковывают и режут на кристаллы.

Недостатками указанного способа является:

- формирование контактной системы на двух уровнях рельефной пластины, что чревато обрывом металлизации на ступеньке, что в свою очередь приводит к снижению процента выхода годных и надежности фоточувствительного элемента;

- при засветке кристалла с обратной стороны (при эксплуатации в составе фотоэлектронного модуля) большая вероятность боковой засветки вне области пространственного заряда (ОПЗ), что приводит к снижению быстродействия фоточувствительного элемента за счет диффузионной составляющей времени собирания генерированных светом носителей заряда.

В общем случае скорость фотоответа pin-ФД (τ) ограничивается тремя факторами:

- постоянной времени RC-цепи (τRC);

- временем пролета, которое определяется дрейфом фотоносителей, генерированных в ОПЗ структуры (τ др);

- задержкой, связанной с диффузией фотоносителей, генерированных в квазинейтральных р- и n-областях pin-структуры (τ диф).

Постоянная времени RC-цепи τRC=Rн×С,

где Rн - сопротивление нагрузки, С - емкость р-n-перехода.

При учете того, что в быстродействующих системах сопротивление нагрузки Rн обычно составляет 50 Ом, последовательное сопротивление ФД (определяемое, главным образом, сопротивлением омических контактов) Rs<<Rн, а емкость р-n-перехода для площадки 60×60 мкм и концентрации носителей заряда в гетероструктуре менее 2×1015 см-3 не превышает 1 пФ, τRC=50×1×10-12=50×10-12с=50 пс.

Время собирания фотоносителей определяется временем дрейфа носителей, генерированных в ОПЗ, через эту область τдр, а также временем диффузии фотоносителей, генерированных вне ОПЗ, τдиф. Скорость дрейфа носителей при напряженности поля 104 В/см (создаваемой напряжением смещения ˜5-10 В) ограничивается рассеянием и в соединениях In1-XGaX As1-Y PY составляет ˜107 см/с [1]. Тогда, при Wопз=2 мкм τдр=20 пс.

Для электронов, диффундирующих к ОПЗ через р-область активного слоя, время диффузии:

где Ln - длина диффузии электронов (в нашем случае, когда толщина р-области hp1 меньше диффузионной длины электронов [1], Ln заменяется на hp1).

При hp1=0,5 мкм и Dn=259 см2

τдиф n=(0,5×10-4)2/(2,4×259)=4×10-12с=4 пс.

Следует отметить, что для планарной структуры с обратной засветкой выражение (2) справедливо только при отсутствии засветки необедненной n-области, примыкающей к ОПЗ. При поглощении излучения в n-области еще более инерционная составляющая дырочного тока может приводить к существенному ограничению быстродействию прибора.

Для дырок диффундирующих к ОПЗ через необедненную n-область:

Lp=Ln=1-2 мкм - длина диффузии дырок [2],

Dp=13 см2/с - коэффициент диффузии дырок [2].

τдиф р=(1×10-4)2/(2,4×13)=321×10-12 с=321 пс

Следовательно,

τдиф=τдиф n+τдиф р=325 пс

Таким образом, быстродействие

τ=√(502+202+3252)=329,4 пс - для первого случая, и

τ=√(502+202+42)=54,1 пс - для второго случая.

Задачей изобретения является увеличение быстродействия фоточувствительного элемента за счет устранения возможности засветки периферийной необедненной n-области при планарной технологии изготовления многоэлементного фотоприемника.

Технический результат достигается тем, что заявляемый способ изготовления быстродействующего многоэлементного фотоприемника на основе гетероструктур InGaAs/InP включает в себя следующие процессы:

- эпитаксиальную пластину n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP покрывают пленкой нитрида кремния, как со стороны эпйтаксиального слоя n-InP, так и со стороны подложки n+-InP;

- фотолитографическим способом вскрывают окна под диффузию с помощью плазменно-химического травления в пленке Si3N4 со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As и формируют метки для дальнейшего совмещения рисунков фотошаблонов со стороны подложки n+-InP;

- в эпитаксиальных слоях n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As формируют локальный р-n-переход диффузией кадмия;

- пластину n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP покрывают вторым слоем пленки Si3N4 со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,33 Ga0,47 As;

- вскрывают контактные окна во втором слое Si3N4 и создают омические контакты золота с подслоем титана к р+-областям;

- фотолитографическим способом в пленке нитрида кремния со стороны подложки n+-InP вскрывают окна под контакт к области n+-InP с помощью плазмо-химического травления, при этом над областью р-n-переходов остается пленка нитрида кремния, которая служит просветляющим покрытием;

- напыляют в вакууме Au/Ti так, что образуется металлизация для контакта к подложки n+-InP;

- фотолитографическим способом в пленке золота с подслоем титана вытравливают рисунок, который, с одной стороны, является контактным и обеспечивает омический контакт к подложке n+-InP, а с другой стороны формирует диафрагму, ограничивающую область засветки только областью пространственного заряда многоэлементного фотоприемника.

Такая последовательность операций обеспечивает точное попадание излучения при засветке через подложку в область пространственного заряда и устранение, таким образом, диффузии дырок в n-область с периферии и, следовательно, увеличение быстродействия планарного многоэлементного фотодиода, сохраняя полностью планарную структуру. При этом способе изготовления устраняется возможность обрывам металлизации на ступеньке, как в случае с меза-планарной технологией, описанной выше.

На фигурах 1-5 показана технология изготовления быстродействующего многоэлементного фотоприемника на основе эпитаксиальных структур InGaAs.

Эпитаксиальную пластину n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP, содержащую эпитаксиальные слои n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As и подложку n+-InP, покрывают пленкой нитрида кремния (Si3N4), как со стороны эпитаксиального слоя n-InP, так и со стороны подложки n-InP (фиг.1). Фотолитографическим способом вскрывают окна под диффузию с помощью плазменно-химического травления в пленке нитрида кремния со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As и формируют метки для дальнейшего совмещения рисунков фотошаблонов со стороны подложки n+-InP. В эпитаксиальных слоях n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As формируют локальный р-n-переход диффузией кадмия в запаянной откачной ампуле из источника Cd3Р2. Пластину n-InP/n-In0,33 Ga0,47 As/n+-InP покрывают вторым слоем пленки нитрида кремния (Si3N4) со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/ n-In0,53 Ga0,47 As (фиг.2). Вскрывают контактные окна во втором слое нитрида кремния и создают омические контакты золота с подслоем титана (Au/Ti) к р+-областям (фиг.3). Фотолитографическим способом в пленке нитрида кремния со стороны подложки n+-InP вскрывают окна под контакт к области n+-InP с помощью плазмо-химического травления, при этом над областью р-n-переходов остается пленка нитрида кремния, которая служит просветляющим покрытием (фиг.4). Напыляют в вакууме золото с подслоем титана, так что образуется металлизация для контакта к подложке n+-InP (фиг.4). Фотолитографическим способом в пленке золота с подслоем титана вытравливают рисунок, который, с одной стороны, является контактным и обеспечивает омический контакт к подложке n+-InP, а с другой стороны формирует диафрагму, ограничивающую область засветки только областью пространственного заряда многоэлементного фотоприемника (фиг.5).

Сформированная таким образом на стороне подложки n+-InP диафрагма устраняет возможность боковой засветки периферийной необедненной n-области при планарной технологии изготовления кристалла многоэлементного фотоприемника. В свою очередь, при планарной технологии устраняется возможность обрыва металлизации на ступеньке.

Предлагаемый способ был опробован на предприятии-заявителе при разработке технологии неохлаждаемых быстродействующих ФЭМ спектрального диапазона 0,8-1,55 мкм ФУК 7Л (документация на изделие БУТИ.432234.060).

Авторы экспериментально установили, что при применении разработанного способа изготовления многоэлементной линейки фоточувствительных элементов, входящей в состав неохлаждаемого быстродействующего ФЭМ, спектрального диапазона 0,8-1,55 мкм с числом элементов 128 с размером единичного элемента 60×60 мкм, измеренное значение τ не превышает 100 пс. Для измерения импульсных характеристик на длине волны 1,55 мкм использовался экспериментальный образец полупроводникового лазера с длиной волны излучения 1,548 мкм, который запускался прямоугольными импульсами тока генератора Г5-84. Импульсы фототока регистрировались осциллографом С1-122. Сопротивление нагрузки Rн=50 Ом, рабочее напряжение Up=-5В.

В результате использования предлагаемого способа могут быть изготовлены планарные многоэлементные фотодиоды (линейки и матрицы) с любым количеством элементов, пригодные для интеграции с кремниевыми микросхемами усиления и обработки сигнала. Этот способ может быть применен для других гетероструктур системы А3В5.

Литература.

1. Техника оптической связи. Фотоприемники/ Ф.Капассо и др.; под ред. У.Тсанга: Пер. с англ. под ред. М.А.Тришенкова. - М.: Мир, 1988. - 526 с.

2. Forrest S. Performance of InGaAsP photodiodes with dark current limited by diffusion, generation-recombination and tunneling // IEEE Journal of Quantum Electronics. - 1981. QE-17. - N2. - P.217-226.

Похожие патенты RU2318272C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ФОТОПРИЕМНИКА НА ОСНОВЕ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР InGaAs/InP 2013
  • Болтарь Константин Олегович
  • Седнев Михаил Васильевич
  • Шаронов Юрий Павлович
  • Смирнов Дмитрий Валентинович
  • Киселева Лариса Васильевна
  • Савостин Александр Викторович
RU2530458C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СВЧ ФОТОДЕТЕКТОРА 2018
  • Андреев Вячеслав Михайлович
  • Калиновский Виталий Станиславович
  • Малевская Александра Вячеславовна
RU2676185C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МОЩНОГО ФОТОДЕТЕКТОРА 2018
  • Андреев Вячеслав Михайлович
  • Калюжный Николай Александрович
  • Малевская Александра Вячеславовна
  • Минтаиров Сергей Александрович
RU2680983C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2022
  • Потапович Наталия Станиславовна
  • Хвостиков Владимир Петрович
  • Малевская Александра Вячеславовна
RU2791961C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОМИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ К ПЛАНАРНОЙ СТОРОНЕ СТРУКТУРЫ С ЛОКАЛЬНЫМИ ОБЛАСТЯМИ НИЗКОЛЕГИРОВАННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ ГРУППЫ АВ 1993
  • Минеева М.А.
  • Муракаева Г.А.
RU2084988C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ НА ОСНОВЕ GaSb 2014
  • Андреев Вячеслав Михайлович
  • Хвостиков Владимир Петрович
  • Сорокина Светлана Валерьевна
  • Хвостикова Ольга Анатольевна
  • Потапович Наталия Станиславовна
RU2575972C1
КОНСТРУКЦИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ С КОМБИНИРОВАННОЙ ИЗОЛЯЦИЕЙ И СПОСОБ ИХ ИЗГОТОВЛЕНИЯ 1980
  • Манжа Н.М.
  • Одиноков А.И.
  • Кокин В.Н.
  • Назарьян А.Р.
  • Чистяков Ю.Д.
SU824824A1
ЛАВИННЫЙ ФОТОДЕТЕКТОР 1991
  • Ветохин С.С.
  • Залесский В.Б.
  • Куликов А.Ю.
  • Леонова Т.Р.
  • Малышев С.А.
  • Пан В.Р.
SU1823725A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ 1985
  • Манжа Н.М.
  • Патюков С.И.
  • Чистяков Ю.Д.
  • Манжа Л.П.
SU1371445A1
Способ изготовления интегральной схемы 1976
  • Болдырев В.П.
  • Гайдук И.Н.
  • Малейко Л.В.
  • Савотин Ю.И.
  • Степанов В.П.
SU594838A1

Иллюстрации к изобретению RU 2 318 272 C1

Реферат патента 2008 года СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩЕГО МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО ФОТОПРИЕМНИКА НА ОСНОВЕ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР InGaAs/InP

Изобретение может быть использовано в системах лазерной локации, обнаружения лазерного излучения, ИК-спектрометрии, многоспектральных ВОЛС, а также нового поколения систем ночного видения. Для изготовления фотоприемника эпитаксиальную пластину n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP, содержащую эпитаксиальные слои n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As и подложку n+-InP, покрывают пленкой нитрида кремния как со стороны эпитаксиального слоя n-InP, так и со стороны подложки n+-InP. Фотолитографическим способом вскрывают окна под диффузию с помощью плазменно-химического травления в пленке нитрида кремния со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,33 Ga0,47 As и формируют метки для дальнейшего совмещения рисунков фотошаблонов со стороны подложки n+-InP. В эпитаксиальных слоях n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As формируют локальный р-n-переход диффузией кадмия в запаянной откачной ампуле из источника Cd3Р2. Пластину n-InP/n-In0,33 Ga0,47 As/n+-InP покрывают вторым слоем пленки Si3N4 со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As. Вскрывают контактные окна во втором слое пленки Si3N4 и создают омические контакты Au/Ti к р+-областям. Фотолитографическим способом в пленке Si3N4 со стороны подложки n+-InP вскрывают окна под контакт к области n+-InP с помощью плазмо-химического травления, при этом над областью р-n-переходов остается пленка Si3N4, которая служит просветляющим покрытием. Напыляют в вакууме золото с подслоем титана, так что образуется металлизация для контакта к подложке n+-InP. Фотолитографическим способом в пленке золота с подслоем титана вытравливают рисунок, который с одной стороны является контактным и обеспечивает омический контакт к подложке n+-InP, а с другой стороны формирует диафрагму, ограничивающую область засветки только областью пространственного заряда многоэлементного фотоприемника. Изобретение обеспечивает увеличение быстродействия фоточувствительного элемента за счет устранения возможности засветки необедненной n-области при планарной технологии изготовления многоэлементного фотоприемника. 5 ил.

Формула изобретения RU 2 318 272 C1

Способ изготовления быстродействующего многоэлементного фотоприемника на основе эпитаксиальных структур n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP, заключающийся в том, что эпитаксиальную пластину n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP покрывают пленкой нитрида кремния, как со стороны эпитаксиального слоя n-InP, так и со стороны подложки n+-InP, фотолитографическим способом вскрывают окна под диффузию с помощью плазменно-химического травления в пленке нитрида кремния со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As и формируют метки для дальнейшего совмещения рисунков фотошаблонов со стороны подложки n+-InP, в эпитаксиальных слоях n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As формируют локальный р-n-переход диффузией кадмия, пластину n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As/n+-InP покрывают вторым слоем пленки нитрида кремния со стороны эпитаксиальных слоев n-InP/n-In0,53 Ga0,47 As, вскрывают контактные окна во втором слое пленки нитрида кремния и создают омические контакты золота с подслоем титана к р+-областям, фотолитографическим способом в пленке нитрида кремния со стороны подложки n+-InP вскрывают окна под контакт к области n+-InP с помощью плазмо-химического травления, при этом над областью р-n-переходов остается пленка нитрида кремния, которая служит просветляющим покрытием, напыляют в вакууме золото с подслоем титана, так что образуется металлизация для контакта к подложке n+-InP, фотолитографическим способом в пленке золота с подслоем титана вытравливают рисунок, который с одной стороны является контактным и обеспечивает омический контакт к подложке, n+-InP, а с другой стороны формирует диафрагму, ограничивающую область засветки только областью пространственного заряда многоэлементного фотоприемника.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2008 года RU2318272C1

Marshall J.Cohen et
al
Commercial and Industrial Applications of Indium Gallium Arsenide Near Infrared Focal Plane Arrays описанный в Part of the SPIE Conference on Infrared Technology and Applications XXV Orlando, Florida, April 1999 SPIE Vol.3698
US 6005266 A, 21.12.1999
US 6229152 A, 08.05.2001
Способ и приспособление для нагревания хлебопекарных камер 1923
  • Иссерлис И.Л.
SU2003A1
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНАЯ СТРУКТУРА ДЛЯ ФОТОПРИЕМНОЙ ЯЧЕЙКИ 1991
  • Величко Александр Андреевич
RU2034369C1

RU 2 318 272 C1

Авторы

Чинарева Инна Викторовна

Огнева Ольга Викторовна

Забенькин Олег Николаевич

Мищенкова Татьяна Николаевна

Даты

2008-02-27Публикация

2006-06-05Подача