Способ рентгеноструктурного анализа Советский патент 1985 года по МПК G01N23/20 

нзойретение отио.игся к шс/1едоBEjiUjQ физико-х 11-;ическ:1); Б шесчв с помощью pajrrrCHoiiCKoro из.п

ЗННОР ЬОрМИрОВКИ в

;бxc;;ii)Mci регистрация в тех же томках. тируется ингерфереь: иг :-:елуемогс сбра;

СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА, включающий облучение пучком рентгеновских лучей исследуемого образца и эталона, закрепленных во вращающемся держателе-кювете на столике гониометра, попеременную съемку исследуемого образца и эталона, регистрацию ПС точкам интенсивности дифрагированных лучей как функции угла отражения с помощью детектора, нормировку интенсивности от исследуемого образца на интенсивность эталона, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения слабых дифракционных максимумов, эталон выполняют из аморфного вещества, регистрацию интенсивности осуществляют детектором по каналам, причем один канал регистрирует отражение от исследуемого образца, а другой - отражение от эталона, (Л при этом интенсивность нормируют в каждой точке измерения. 4 UD in Фиг.1

.Kvivi 01

Ч гх ГИС