Способ изготовления эталонов для дефектоскопии Советский патент 1985 года по МПК G01N27/84 

1

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий и предназначено для метрологического обеспечения дефектоскопической аппаратзтзы, а именно для выявления поверхностных дефектов в капиллярной и магнитнопорошковой дефектоскопии с помощью эталонов.

Цель изобретения - получение радиально направленных микротрещин.

На чертеже представлена схема осуществления способа.

Схема содержит эталон, выполненньй в виде пластины 1 с отверстием 2 в центре и азотированным слоем 3, матрицу 4 я пуансон 5.

1177735

Способ осуществляется следующим образом.

В центре пластины 1 высверливают отверстие 2, площадь которого относится к площади пластины 1 как 1:30. При нарушении указанного соотношения площадей отверстия и пластины направленность трещин изменяется. Затем пластину азотируют на определенную глубину (слой 3) для стабилизации глубины трещин и помещают на матрицу 4.

К пуансону 5 прикладывают определенное усилие Р, в результате чего на пластине 1 вокруг отверстия 2 в азотированном слое 3 появляются микротрещины, имеющие радиальные направления.

СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЭТАЛОНОВ ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПИИ, заключающийся в том, что эталон изготавливают в виде пластины, азотированной на заданную глубину, и изгибают его на матрице с помощью пуансона, вызьгоая появление трещин в азотированном слое, отличающийся тем, что, с целью получения радиально направленных микротрещин перед азотированием в центре пластины выполняют отверстие, площадь которого относится к площади пластины как 1:30. (Л 41 со ел