Устройство для поиска дефектов логических блоков Советский патент 1986 года по МПК G06F11/16 

Описание патента на изобретение SU1221654A1

Изобретение относится к автоматик и вычислительной технике, а именно к устройствам контроля работоспособное ти и поиска дефектов логических блоков.

Цель изобретения - повышение достоверности контроля.

На фиг, 1 изображена структурная схема устройстваJ на фиг, 2 - функциональная схема блока управления.

Устройство содержит блок 1 ввода, блок 2 памяти, первый коммутатор 3, блок 4 сравнения, блок 5 индикации, блок 6 управления, диагностируемый блок 7, второй коммутатор 8, диагностический щуп 9.

Блок управления содержит дешифратор 10, шифраторы 11 и 12, кнопку 13 Пуск, кнопку 14 Продолжение,кнопку 15 Дефект типа 1, кнопку 16 Дефект типа НО, кнопку 17 Поиск, элементы 18-20 задержки, триггер 21 типа дефекта, триггер 22 режима коммутации, элемент НЕ 23, элементы ИЛИ 24-27, элементы И 28 - 33,

Блок 1 ввода предназначен для ввода тестовых наборов и ожидаемых ответных реакций, поступающих на блок 2 памяти, номера класса эквивалентных дефектов, поступающего на блок 5 индикации, а также командной информации, поступакндей на блок 6 управления,

Блок 2 памяти предназначен для хранения тестового набора, поступающего через первый коммутатор 3 на вход диагностируемого блока 7, и ожидаемой ответной реакции, посту- паклдей на вход второго коммутатора 8,

Первый коммутатор 3 предназначен для коммутации внешних контактов диагностируемого блока 7 таким образом, что входные контакты подключаются к выходам блока 2 памяти, а выходные - к входам второго коммутатора 8,

Блок 4 сравнения предназначен для сравнения информации, поступающей со второго коммутатора 8. С выхода блока 4 сравнения сигнал сравнения или сигнал несравнения поступает на блок 6 управления.

Блок 5 индикации предназначен для индикации номера класса эквивалентных дефектов, поступающего из блока 1 ввода, или информации об отсутствии дефектов в диагностируемом блоке 7, или информации о наличии дефекта в точке подключения диагностического щупа 9,

Блок 6 организует работу всех блоков устройства,С выхода блока 6. управления вьщается на вход блока 1 ввода командная информация для работы этого блока, на вход блока 2 памяти - команда разрешения подачи тестового набора на диагностируемый блок 7, на вход первого коммутатора 3 - коммутационный тест, на вход

блока 4 сравнения - команда разрешения сравнения,на вход блока 5 индикации - командная информация на индикацию, на входы второго коммутатора 8 - режим коммутации и тип дефекта.

Второй коммутатор 8 предназначен для работы в двух режимах, задаваемых блоком 6 управления, В первом режиме обеспечивается сравнение реакции, получаемой с выходов диагностируемого блока 7 и ожидаемой ответной реакции, хранящейся в блоке 2 памяти. Во втором режиме обеспечивается сравнение типа дефекта,поступающего с блока 6 управления и реакции, получаемой с выхода диагностического щупа 9,

Диагностический щуп 9 предназначен для съема информации с внутренних точек диагностируемого блока 7 и подачи этой информации на вход второго коммутатора 8,

Устройство работает следующим образом.

Процесс диагностирования начинается нажатием кнопки 13 Пуск, В результате через элемент ШЖ 27 устанавливается в нулевое состояние триггер 22 режима коммутации, нулевой сигнал с прямого выхода триггера 22 поступает на второй коммутатор 8 и устанавливает первый режим коммутации, при котором к входам блока 4 сравнения подключаются выходы блока 2

памяти и выходы первого коммутатора 3, Кроме того вырабатьтается два сигнала: через элемент ИЛИ 24 сигнал ЧТ- разрешение на чтение информации блоком 1 ввода и сигнал ЗПКТ-запись коммутационного теста (КГ), который разрешает передачу КГ с блока 1 ввода на второй вход блока 6 управления. Данные сигналы через шифратор 11 и первый выход блока 6 управления поступают на блок 1 ввода, КГ содержит информацию о входных и выходных контактах диагностируемого блока 7, согласно которой первый коммутатор 3 подключает входные контакты к выхо

дам блока 2 памяти, а выходные контакты - к входам второго коммутатора 8.

При считывании метки ККТ, записанной в конце КТ, дешифратор 10 вьщает соответствующий сигнал ККТ, который формирует два сигнала: ЧТ через элемент ИЛИ 24 и сигнал ЭПНКЭД, которые через шифратор 11 разрешают считывание и передачу НКЭД с блока 1 ввода в блок 5 индикации.

По прочтении метки КНКЭД блок 1 ввода через дешифратор 10 выдает соответствующий сигнал КНКЭД, который формирует два сигнала: ЧТ через элемент ИЛИ 24 и сигнал ЗПНТ через элемент ИЛИ 25, которые разрешают считывание и передачу одного тестового набора ТН с блока 1 ввода в блок 2 памяти.

. По прочтении метки КТН блок 1 ввода через дешифратор 10 выдает соответствующий сигнал КТН, который разрешает подачу тестового набора на диагностируемый блок 7 через пятый выход блока 6 управления (сигнал КОНТ 1) и, по истечении времени, равного установлению на выходе диагностируемого блока 7 ответной реакции, через элемент 18 задержки вьщает сигнал .(КОНТ 2) через третий выход блока 6 управления. Последний сигнал разрешает сравнение ожидаемых реакций, записанных в блоке 2 памяти, и ответных реакций с диагностируемог блока 7 и, кроме того через элемент 19 задержки подготавливает путь прохождения сигнала несравнения НСРВ через элемент И 28. Элемент 19 задержки, рассчитанный на время сравнения реакций, предназначен для устранения ложных срабатываний элемента И 28.

Результат сравнения может быть

двояким. В одном случае при совпаде- НИИ ответных реакций с ожидаемыми сигнал НСРВ с блока 4 сравнения отсутствует. В этом случае на выходе элемента НЕ 23 присутствует единица, которая в момент времени, определяемый элементом 19 задержки через элемент ИЛИ 24 и 25 и шифратор 11/, вьща- ет разрешение на считывание и п рием очередного ТН. В другом случае при несовпадении реакции с ожидаемой с Влока 4 сравнения выдается сигнал НСРВ, который поступает на первый вход блока 6 управления. В результате на выходе элемента НЕ 23 устанавливается ноль, который запрещает

считывание очередного ТН. Кроме того через элемент И 30 выдает сигнал ПРМ-перемотка в прямом направлении, который через шифратор 11 и первый

выход блока 6 управления приводит к пропуску оставшихся ТН данного идентификатора до метки КПРМ. Необходимость пропуска ТН объясняется тем, что в результате несовпадения реакции доказано отсутствие дефектов из идентифицируемого класса эквивалентных дефектов, а значит нет необходимости подавать оставшиеся ТН идентификатора.

При считьтании метки КПРМ с блока 1 ввода через дешифратор 10 выдается сигнал КПРМ, действия Которого аналогичны действиям сигнала ККТ.

При поиске кратных дефектов дальнейшая работа устройства для увеличения глубины поиска дефекта организуется следующим образом. Диагностический щуп 9 устанавливается в контрольную точку внутри диагностируемого блока 7, информация с которой

позволяет осуществить увеличение глубины поиска. Затем в соответствии с типом дефекта в контрольной точке нажимается кнопка 15 (если дефект

1) или кнопка 16 (если дефектно). В этом случае триггер 21 типа дефекта устанавливается в единичное или нулевое состояние, значение дефекта с прямого выхода триггера 21 через шестой выход блока 6 управления пос- тупает на второй коммутатор 8. После этого нажимается кнопка 17 Поиск. В результате устанавливается в единицу триггер 22 режима, сигнал с прямого выхода которого через седьмой выход блока 6 управления постут пает на второй коммутатор 8 и задает второй режим коммутации, при котором к входам блока 4 сравнения подключается выход диагностического щупа и прямой выход триггера 21. Кроме того, через элемент ИЛИ 26 вырабатывается сигнал ПРМО-перемотка в обратном направлении, который через шифратор 11 вызывает возврат к началу

данного идентификатора к метке КПРМ, действия которой уже описаны.

Если после очередной попытки ввести ТН считана метка КИД-конец, то дешифратором 10 вырабатьшается соответствующий сигнал КИД, действие которого определяется состоянием триггера 22 режима. Б первом случае триггер 22 находится в нулевом состоянии

(первый режим работы второго коммутатора 8). Сигнал КИД проходит через элемент И 32 и уже как сигнал НД-на- личие дефекта проходит через шифратор 12 и четвертый выход блока 6 управления в блок 5 индикации и разрешает индикацию номера класса эквивалентных дефектов. Во втором случае триггер 22 находится в единичном сое тоянии (второй режим второго коммутатора 8). Сигнал КИД проходит через элемент И 31 и уже как сигнал НДКТ- наличие дефекта в контрольной точке проходит через шифратор 12 и четвер- тый выход блока 6 управления в блок 5 индикации и разрешает индикацию информации о наличии дефекта в контрольной точке.

После устранения обнаруженного де фекта процесс диагностирования может быть продолжен путем нажатия кнопки 14 продолжение. В результате обеспечиваются условия, определяемые состоянием триггера 22 режима. В первом случае триггер находится в нулевом состоянии. Вырабатывается сигнал ЧТ через элемент ИЛИ 24 и шифратор 11, вызываюший считывание метки КПРМ. Во втором случае триггер 22 находитс в единичном состоянии. Вырабатьшаетс сигнал ПРМО через элементы И 29, ИЛИ 26 и шифратор 11, вызыванщий возврат к началу данного идентификатора и считывание метки КПРМ. Через время, . достаточное для выработки сигнала ПРМО и определяемое элементом 20 задержки, через элемент ИЛИ 27 триггер 22 режима устанавливается в нулевое состояние.

Если тест поиска дефектов прошел до конца, т.е. считана метка КТПД, то дешифратором 10 вырабатывается сигнал на индикацию ОД-отсутствие дефектов. Данный сигнал через шифратор 12 и четвертьй выход блока 6 управления разрешает индикацию информации об отсутствии идентифицируемых дефектов диагностируемого . блока 7 и окончании процесса диагностирования.

По команде с блока 6 управления из блока 1 ввода подается коммутационный тест, согласно которому первый коммутатор 3 производит требуемые коммутации внешних контактов диагностируемого блока 7 к выходам блока 2 памяти и к входам второго коммутатора 8. Затем по команде с

д ,г

уп 5

5

30

0

5

блока 6 управления из блока 1 ввода в блок 5 индикации записывается номер класса эквивалентных дефектов. Затем по команде с блока 6 управления из блока 1 ввода в блок 2 памяти записывается первый тестовый набор первого идентификатора и ответная реакция, соответствующая реакции блока 7 при наличии в нем дефекта данного класса. Тестовый набор из блока 2 памяти через первый коммутатор 3 поступает на вход диагностируемого блока 7. Ответные реакции диагностируемого блока 7 через коммутаторы 3 и 8 подаются на вход блока 4 сравнения. Одновременно на другой вход блока 4 сравнения из блока 2 памяти через второй коммутатор 8 поступают ожидаемые ответные реакции. В случае несовпадения ожидаемых и полученных ответных реакций блок 4 сравнения формирует сигнал несравнения, который поступает на блок 6 управления. Появление сигнала несравнения гово- рит о том, что в диагностируемом блоке 7 отсутствуют дефекты данного класса. В этом случае блок 6 управления вьщает команду на блок 1 ввода для перемотки ленты и переходу к проверке следующего индентифика- тора, после чего описанные действия повторяются. В случае отсутствия сигнала несравнения с блока 4 сравнения через время, равное такту контроля, блок 6 управления выдает ко- манду на ввод следующего тестового набора данного идентификатора. Если диагностируемьм блок 7 уже проверен на всех тестовых наборах данного идентификатора, а сигнал, несравнения так и не появляется, то в диагностируемом блоке 7 присутствует один из дефектов проверяемого класса дефектов, блок 6 управления при попытке считать следующий тестовый набор, определив конец идентификатора, выдает команду на индикацию номера класса эквивалентных дефектов на блок 5 индикации. По номеру класса дефектов определяется и устраняется однократный дефект. При поиске кратных дефектов для увеличения глубины поиска диагностический щуп 9 устанавливается в место подозреваемого класса дефектов. Затем по команде с блока 6 управления на блок 1

ввода повторяется последний из вы- I

полненных идентификаторов. Ответные

реакции с диагностического щупа 9 через второй коммутатор 8 подаются на вход блока 4 сравнения. Одновременно на другой вход блока 4 сравнения из блока 6 управления через второй коммутатор 8 поступает ожидаемое значение дефекта. В случае несовпадения ожидаемой и полученных ответных ре- акций блок 4 сравнения формирует сигнал несравнения, который поступает на блок 6 управления. Появление сигнала несравнения говорит о том,что в диагностируемом блоке 7 отсутствует дефект в месте подключения диагностического щупа 9. В зтом случае блок 6 управления вьщает команду на блок 5 индикации на индикацию информации об отсутствии дефекта в контрольной точке. В случае отсутствия сигнала несравнения с блока 4 сравнения чере время, равное такту контроля, блок 6 управления вьщает команду на ввод следующего тестового набора данного идентификатора. Если диагностируемый блок 7 уже проверен на всех наборах данного идентификатора, а сигнал несравнения так и не появляется, то в месте подключения диагностического щупа 9 присутствует дефект подозреваемого класса, блок 6 управления при попытке считат-ь следукиций тестовый набор, определив конец идентификатора, выдает команду на блок 5 индикации на индикацию информации о наличии дефекта в контрольной точке. После устранения дефекта работа устройства повторяется до полного устранения всех, дефектов диагностируемого блока 7.

Таким образом, при использовании предлагаемого устройства появляется возможность выявления причин наличия или отсутствия однократных дефектов, входящих в состав кратных дефектов, что значительно увеличивает глубину поиска дефектов при поиске кратных дефектов.

Формула изобретения

Устройство для поиска дефектов логических блоков, содержащее блок ввода, блок памяти, блок сравнения, коммутатор, блок индикации и блок управления, включающий дешифратор, кнопку Пуск, кнопку Продолжение, три элемента ИЛИ, элемент НЕ, элемент И, два. элемента задержки и два шифратора, причем выход первого шифратора соединен с первым управляющим

5

0

5

0

5

0

5

0

5

входом блока ввода, первый выход |Дешифратора соединен с управляющим входом коммутатора, второй выход дешифратора соединен с входом считывания блока памяти и входом первого элемента задержки, выход которого соединен с входом разрешения сравнения блока сравнения и входом второго элемента задержки, выход которого соединен с первым входом элемента И, выход которого соединен с первыми входами первого и второго элементов ИЛИ, выход второго элемента ШШ соединен с первым входом первого шифратора, второй вход которого соединен с выходом первого элемента ШЖ, второй вход которого соединен с третьим выходом дешифратора и вторым входом второго элемента ШШ,третий вход которого соединен с чет-- вертым выходом дешифратора и третьим входом первого шифратора, четвертый вход которого соединен с четвертым входом второго элемента ШШ и выходом кнопки Пуск, выход кнопки Продолжение соединен с пятым входом второго элемента ШШ, пятый выход дешифратора соединен с первым входом второго шифратора, выход которого соединен с информационным входом блока индикации, вход дешифратора соединен с первым информационным выходом блока ввода, выход несравнения блока сравнения соединен с входом элемента НЕ, выход которого соединен. с .вторым входом элемента И, первая « группа информационных выходов блока ввода соединена с группой входов блока индикации, вторая группа информационных выходов блока ввода соединена с группой входов блока памяти, группа информационных выходов которого соединена с группой инфрр- . мационных входов коммутатора, группа информационных входов-выходов которого соединена с группой входов- выходов диагностируемого блока, о т- личающееся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, в устройство введены второй коммутатор и щуп, а в блок управления - кнопки Дефект , Дефект типа 0, Поиск, третий элемент задержки, два триггера, четвертый и пятый элементы ШШ, со второго по шестой элементы И, выход несравнения блока сравнения соединен с первым входом второго элемента И и первым входом третьего элемента И выход третьего элемента И соединен с пятым входом первого шифратора, шестой вход которого соединен с выходом третьего элемента ШШ, первый вход которого соединен с выходом кнопки Поиск и первым входом первого триггера, прямой выход кото- го соединен с первым управлянщим входом второго коммутатора и вторыми входами третьего, четвертого и пятого элементов И, шестой выход дешифратора соединен с первым входом третьего элемента И и первым входом шестого элемента И, выход которого соединен с вторым входом второго шифратора, третий вход которого соединен с выходом третьего элемента И, четвертый вход второго шифратора соединен с выходом второго элемента И, второй вход шестого элемента И соединен с инверсным выходом первого триггера и вторым входом четвертого элемента И,нулевой вход первого триггера соединен с выходом четвертого элемента ИЛИ, первый вход которого соединен с

выходом кнопки Пуск, выход кнопки Продолжение, соединен с входом третьего элемента задержки и первым входом пятого элемента И, выход которо- го соединен с вторым входом третьего элемента ИЛИ, выход третьего элемента задержки соединен с вторым входом четвертого элемента ИЛИ, выходы кнопок Дефект типа 1 и Дефект

типа ЕО соединены соответственно с единичным и нулевым входами второго триггера, выход которого соединен с вторым управляющим входом второго- коммутатора, первая группа информационных входов которого соединена с второй группой выходов блока памяти, первая группа выходов первого коммутатора соединена с второй группой информационных входов второго

коммутатора,первая, и вторая группы информационных выходов которого соединеы соответственно с первой и второй группами информационных входов блока сравнения,информационный вход второго

коммутатора соединен с выходом щупа.

Похожие патенты SU1221654A1

название год авторы номер документа
Устройство для тестового контроля цифровых блоков 1983
  • Беляев А.В.
  • Костанди Г.Г.
  • Тяжев А.Т.
  • Тяжев В.Т.
  • Шахматов Л.А.
SU1149779A1
Устройство для поиска дефектов цифровых узлов 1985
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1302282A2
Устройство для поиска дефектов цифровых блоков 1987
  • Колпаков Алексей Леонидович
  • Курылева Татьяна Леонидовна
  • Тяжев Андрей Тимофеевич
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1520519A1
Устройство для диагностирования дискретных блоков 1986
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1520516A1
Устройство для контроля и диагностики дискретных блоков 1985
  • Беляев Александр Викторович
  • Костанди Георгий Георгиевич
  • Махалин Борис Николаевич
  • Мальцев Виктор Николаевич
  • Прилежаев Дмитрий Абрамович
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1254488A1
Устройство для диагностирования группы логических узлов 1987
  • Колпаков Алексей Леонидович
  • Курылева Татьяна Леонидовна
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1520520A1
Устройство для диагностирования группы из @ логических узлов 1985
  • Корнаков Владимир Алексеевич
  • Костанди Георгий Георгиевич
  • Месежник Борис Григорьевич
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1390611A1
Устройство для поиска дефектов дискретных блоков 1985
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU1379784A1
Устройство для поиска дефектов цифровых узлов 1980
  • Мозгалевский Андрей Васильевич
  • Данилов Виктор Васильевич
  • Костанди Георгий Георгиевич
  • Соловей Григорий Борисович
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU962957A1
Устройство для диагностирования логических блоков 1982
  • Подунаев Георгий Александрович
  • Лидак Владимир Юрьевич
  • Шнайдер Федор Фридрихович
  • Туробов Валерий Павлович
  • Краснов Владимир Павлович
  • Крылов Александр Алексеевич
  • Кожевников Валерий Владимирович
  • Дворкин Владимир Ефимович
SU1071978A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 221 654 A1

Реферат патента 1986 года Устройство для поиска дефектов логических блоков

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники, а именно к устройствам контроля ра.ботоспособности и поиска дефектов логических блоков. Целью изобретения является повьшение достоверности контроля. Цель достигается за счет того, что в устройство, содержащее блок ввода, блок памяти, блок сравнения, коммутатор, блок индикации и блок управления, введены второй коммутатор и щуп. При использовании заявленного устройства появляется воз-; можность выявления причин наличия или отсутствия однократных дефектов, входящих в состав кратных дефектов. 2 ил.

Формула изобретения SU 1 221 654 A1

Фм.1

Составитель Ю.Выговский Редактор Н.Воловик Техред В.Кадар Корректор А.Зимокосов

Заказ 1613/54 Тираж 671Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1221654A1

Устройство для контроля цифровых блоков 1975
  • Дубров Михаил Григорьевич
SU607218A1
Приспособление для точного наложения листов бумаги при снятии оттисков 1922
  • Асафов Н.И.
SU6A1
Устройство для поиска дефектов цифровых узлов 1980
  • Мозгалевский Андрей Васильевич
  • Данилов Виктор Васильевич
  • Костанди Георгий Георгиевич
  • Соловей Григорий Борисович
  • Тяжев Валентин Тимофеевич
SU962957A1
Приспособление для точного наложения листов бумаги при снятии оттисков 1922
  • Асафов Н.И.
SU6A1

SU 1 221 654 A1

Авторы

Тяжев Валентин Тимофеевич

Даты

1986-03-30Публикация

1984-01-09Подача