Способ косвенного определения флуктуации микротвердости полимерных пленок Советский патент 1986 года по МПК G01N3/42 

1

Изобретение относится к измерению твердости материалов, в частности к способам определения ф.луктуации микротвердости полимерньгк пленок .

Цель изобретения расширение диапазона исследуемых материалов.

Способ реализуется следующим образом,

f

При постоянной нагрузке и фиксированном времени определяют микротвердость отражающей подложки, выполненной из гомогенного материала. Исследуемую полимерную пленку помещают на отражающзпо подложку и вдавливают в нее индентор при условиях измерения микротвердости отражающей подложки. Удаляют пленку с подложки и по размерам .отпечатков индентора на подложке судят о флуктуации микротвердости полимерной пленки.

12623402

Формула изобретения

Способ косвенного определения флуктуации микротвердости полимерных пленок, заключающийся в том, что исследуемую пленку помеп ают на подложку, в поверхность пленки под действием постоянной нагрузки в течение заданного времени вдавливают остроконечньй индентор и определяют флуктуацию микротвердости, о т л и ч аю щ и и с я тем, что, с целью расширения диапазона исследуемых материалов, в качестве подложки исполь зуют отражаюпгуто подложку из гомогенного материала, измеряют ее микротвердость, вдавливают индентор в ; пленку при условиях измерения микротвердости отражающей подложки, а о флуктуации микротв.ердости пленки судят по размерам отпечатков на подложке.

Изобретение относится к определению флуктуации микротвердости.и позволяет расширить диапазон исследуемых пол1ф{ерных пленок при определении .флуктуации микротвердости. Иccлeдye o пленку помещают на отражапщую подложку из гомогенного материала j микротвердость которой измеряют при постоянной нагрузке и при заданном времени выдержки под нагрузкой,, затем в пленку внедряют . о индентрр при условиях определения (О микротбердости подложки и по отпечаткам индентора на отражающей подложке судят о флуктуации микротвердости полимерной пленки,,