Способ контроля профиля отверстия сложной формы в заданном сечении по слепку его поверхности Советский патент 1987 года по МПК G01B1/00 

Изобретение относится к способам контроля геометрических параметров отверстий сложной формы.

Цель изобретения - повышение точности контроля путем получения слепка с равномерной усадкой, а следовательно, с геометрическими параметрами, более близкими к параметрам контролируемого отверстия.

На фиг. 1 показана конструктивная схема реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 - разрез на фиг. 1.

Сущность способа контроля профиля отверстия сложной формы в заданном сечении по слепку его поверхности заключается в следующем.

Поверхность контролируемого отверстия в детали 1 подвергают антиадгезионной обработке. Оправку 2 устанавливают в зажи

ме 3 и вводят в отверстие детали 1. Проводят выставку оправки 2 в отверстии таким образом, чтобы контур 4 профиля оправки 2 стал с одной стороны эквидистантным контуру 5 профиля отверстия в заданном сечении. После выставки оправки 2 зазоры между эквидистантными поверхностями заливают жидким твердеющим веществом б, которое после отвердения образует слепок. Полученный c/ienoK имеет в контролируемом сечении одинаковую толщину, что позволяет получить равномерную усадку. После извлечения слепка из отверстия его геометрические параметры подвергают контролю и по данным измерения, с учетом величины усадки судят о геометрических параметрах отверстия.

Изобретение позволяет повысить точность контроля.

Фиг. 2