Способ ультразвукового контроля изделий Советский патент 1988 года по МПК G01N29/04 

00

-vj

о ел

4

С

113

Изобретение относится к неразруша- гощему контролю материалов и может быть использовано для определения типа обнаруживаемых дефектов,

Целью изобретения является повышение точности контроля путем выбора нового информативного параметра для определения типа дефекта.

На чертеже приведена эксперимен- тальная кривая зависимости козффици- ента формы Q дефекта от отношения максимальных амплитуд спектров сигналов.

Способ ультразвукового контроля изделий осуществляют следующим образом.

поверхностей ступенчатого образца, расположенную на той же, что и де- фект, глубине. При контроле изделий наклонным преобразователем в качестве эталонной поверхности используется наклонная поверхность клинового образца. Измеряют величину его амп- лиТуды АЭ . Получают частотный спектр этого сигнала. Вьщеляют для него частотную составляющую с максимальной амплитудой, измеряют ее величину А и находят соотношение

А

2

Затем находят отношение

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для определения типа обнаруживаемых дефектов. Целью изобретения является повьш1ение точности контроля путем выбора нового информативного параметра. Согласно способу ультразвукового контроля изделия в последнем возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, измеряют их амплитуду АО, анализируют спектр.этого сигнала и измеряют амплитуду Ал максимальной составляющей этого спектра, принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют амплитуду АЗ этого сигнала, анализируют его спектр, измеряют амплитуду А максимальной составляющей его спектра, а тип дефекта определяют по отношению Afl,-A,/AcL А,. , 1 ил. | сл

С помощью широкополосного преобразователя в изделие излучают последовательность ультразвуковых импульсов с широким спектром частот и принимают отраженные сигналы, по которы определяют наличие дефекта. Измеряют величину АО, амплитуды сигнала от дефекта, затем получают частотный спектр сигнала от дефекта, выделяют частотную составляющую с максимальной амплитудой и измеряют ее величи-

ну АС

Определяют отношение

Aic

К,

L п j v/i 1 Jc d lTinj t vy 1 nwiucnnt; .

a

Известно, что сигналы, отраженные от объемных дефектов, имеют монотонно изменяющиеся спектры с равномерным распределением энергии по составляюп;им.

ориентированных дефектов, имеют осциллирующие спектры, т.е. вследствие интерференционных явлений происходит перераспределение энергии в спектре отраженного сигнала по различным частотным составляющим. Причем амплитуда отдельньрс составляющих спектра сигнала, отраженного от плоскостного дефекта, может превьщ1ать амплитуду составляющих спектра сигнала от объемного дефекта в несколько раз при одинаковой величине амплитуды сигналов. Затем принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности. При контроле изделий прямыми преобразова- телями целесообразно использовать в качестве эталонной поверхности донную поверхность самого изделия или угол, образованный двумя перпендикулярны- ми поверхностями, или одну из донных

К - к,А

i

А2

АЭС

и по кривой определяют коэффициент Q, т.е. тип дефекта. В практической работе для упрощения процесса обра- ботки можно устанавливать сигналы, отраженные от дефекта и эталонной поверхности, одинаковой амплитуды, и тогда тип дефекта определяют по отношению

К

А|С

Aj

40

Формула изобретения

Способ ультразвукового контроля 35 изделий, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбузкдают ультразвуковые импульсы с щироким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, анализируют спектр этих сигналов и по параметрам спектра определяют тип дефекта, о т- л и чающий ся тем, что, с целью повышения точности контроля, измеряют амплитуду Ал сигнала от де- фекта и амплитуду А„ максимальной составляющей его спектра, дополнительно принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют

50

его амплитуду А, , анализируют частотный спектр этого сигнала и измеряют амплитуду А,р максимальной составляющей его спектра, а тип дефекта определяют с учетом соотношения

7С

as Q