Способ определения шероховатости поверхности Советский патент 1988 года по МПК G01B15/08 

1

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к рент генооптическим методам контроля качества поверхности, и может быть использовано в различных отраслях промьшшенности, например в машиностроении, металлургии.

Целью изобретения является измерние шероховатости поверхности из мн гокомпонентных материалов с достатоной точностью за счет устранения влияния различных по химическому составу образцов.

На чертеже изображена схема уст- ройства измерения шероховатости поверхности .

Устройство включает источник 1 гамма-или рентгеновского излучения, исследуемый образец 2 и устройство вьщеления и измерения интенсивности флуоресцентного характеристического излучения, где if- угол падения первичного излучения, 4; угол отбора флоресцентного характеристического из чения.

Способ осуществляют следующим образом.

Первичное излучение, от радиоактиного источника 1 или рентгеновской трубки направляют под углом м на поверхность исследуемого образца 2. Флуоресцентное характеристическое излучение отбирают под углом ц; и ег интенсивность измеряют устрбйством 3 выделения и регистрации, В качестве такого устройства можно использо

вать, например, кристальный монохро- матор, пропорциональный счетчик с последующим выделением характеристичес-до кого излучения пороговыми устройства- ми и т.п. ,

Энергию первичного излучения выбиСпособ определения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что контролируемую поверхность облучают пучком первичного ионизируюп|его излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения и определяют величину шероховатости, отл, ичающ.ийся тем, что, с целью измерения шероховатости поверхности из многокомпонентных материалов, регистрируют инрают исходя из получения максимальной тенсивность вторичного характеристи

ю

15

30 35

20

25

ности измерений углы i и v выбирают минимально возможными.

Измеряют интенсивности флуоресцентного характеристического излучения образца при двух значениях энергии первичного излучения и сравнивают их отношение с градуировочной характеристикой, построенной для образцов известной шероховатости поверхности. Для получения максимальной . чувствительности энергию первичного излучения в первом случае устанавливают минимально необходимую для возг буждения флуоресцирующего элемента, во втором случае - максимально возможную .

Результаты экспериментальной проверки показали возможность измерения шероховатости поверхности ниже 6 класса чистоты при уменьшении и отсутствии влияния различных по химическому составу образцов на результат. При определении шероховатости поверхности для легких сплавов (алюминиевые, магниевые и т.п.) возможно расширение диапазона в сторону высших классов чистоты за счет малых энергий характеристического излучения.

Формула изобретения

Способ определения шероховатости поверхности, заключающийся в том, что контролируемую поверхность облучают пучком первичного ионизируюп|его излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения и определяют величину шероховатости, отл, ичающ.ийся тем, что, с целью измерения шероховатости поверхности из многокомпонентных материалов, регистрируют ин

Изобретение относится к контрольно-измерительной -технике, в частности к рентгенооптическим методам контроля качества поверхности, и может быть использовано в различных отраслях промышленности, например в машиностроении, металлургии Целью изобретения является измерение шеро ховатости поверхности из многокомпонентных материалов с достаточной точностью за счет устранения влияния различных по химическому составу образцов на результат. Первичное излучение два раза с разной энергией соответственно направляют на контролируемую поверхность, а шероховатость поверхности определяют по отношению ; зарегистрированных интенсивностей вторичного характеристического излучения одного из элементов покрытия. 1 ил. i (Л

чувствительности для данного интервала шероховатости поверхности образца и достаточную для возбуждения выбранного флуоресцирующего элемента. Энергию изменяют напряжением на рентгеновской трубке с помощью селективных фильтров сменой изотопов и т.п. Для получения максимальной чувствитель

ческого излучения одного из элементов, входящего в состав поверхности, изменяют энергию первичного излучения, регистрируют интенсивность вторичного характеристического излучения того же элемента, а шероховатость поверхности определяют по отношению зарегистрированных интенсивностей.