Способ магнитографического контроля изделий Советский патент 1988 года по МПК G01N27/85 

.(21) 421-5681/25-28 (22) 25.03.87 (46) 07.09.88. Бкш. № 33

(71)Могилевский машинос-троительный институт

(72)В.А.Новиков и А.А.Довьщков

(53)620.179.14 (088.8)

(56)Авторское свидетельство СССР № 296031, кл. G 01 N 27/85, 1971.

Неразрушающие физические метода и средства контроля. Тезисы докл. IX Всесоюзной научно-технической конф. 26-28 мая. Секция В.-Минск, 1981, с. 274, ст. 113-108.

(54)СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ

(57)Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть

использовано для контроля изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повьшение. чувствительности контроля поверхностных дефектов малого раскрытия путем намагничивания изделия совм естно с плотно прижатым к поверхности пакег том из нескольких магнитных лент. Последние перед считыванием записи сдвигают одна относительно другой на одинаковое расстояние. Суммарный сдвиг находится в пределах 0,5 4 i .1,5 мм, а ленты сдвигают в направлении, перпендикулярном плоскости предполагаемое дефектов. Увеличение ширины магнитного рельефа на пакете лент приводит к повышению чувствительности контроля. 4 ил.

§

сл

1 to

1C

ND

Ф

i Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использо- вёно для обнаружения дефектов поверхности изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повышение чувствительности контроля за сЦет увеличения ширины магнитного рельефа, снятого с дефекта на пакете лрнт при считывании магнитограмм.

I На фиг. 1 и 2 изображены валики у|сш1ения швов с уложенными на них п |акетами магнитных лент в случаях дКо г|ца ленты лежат в одной плоскости и( сдвинуты одна относительно- другой; Hja фиг, 3 и 4 - вид пакетов лент пе- р;ед считыванием,

На поверхности контролируемого ;цзделия 1 размещен пакет лент 2 с магнитным рельефом 3 от дефекта 4. Способ осуществляется следующим ббразом.

1 При намагничив ании кратролируемо- яо издепия 1 (фиг. 1 и 2) совместно 4 прижатым к его поверхности пакетом 4ент 2 после дефекта 4 создает маг- нитный рельеф 3 на всех лентах (тол- ленты 30-70 мкм) , При суммарном едвиге лент на расстояние . л на такой же отрезок увеличивается и ширина магнитного рельефа 1 (фиг.З и 4). Магнитная головка (не показана) считывает магнитньй рельеф со всех лент 2 даже при суммарной толщине пакета свыше 1 мм. Увеличение ширины магнитного рельефа на пакете лент 2 приводит к повышению чувствительности контроля. Для различных магнитных головок и лент 2 разных типов экспериментально установлено, что опти- Мальньй суг-марный сдвиг лент в пакете 0,5 И 1,5 мм. За пределами этих

границ чувствительность контроля снижается .

Пример. Контролируют изделие,

имеющее поверхностную трещину шириной 0,05 мм, магнитографическим методом, Магнитоноситель представляет собой пакет из Двух магнитных лент, уложенных одна на другую. При считывании информации без смещения магнитных лент амгшитуда сигнала, обусловленного дефектом, составляет 5 мВ. Затем смещают ленты одна относительно другой на расстояние Л 1 мм и

производят считывание. А1«1Ш1итуда сигнала, обусловленного дефектом, со- ставляет 25 мВ, т.е. в 5 раз больше, чем в предыдущем случае. Применение способа магнитографического контроля

позволяет повысить чувствительность контроля.. .

Формула нзоб.ретения

Способ магнитографического контроля, изделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что изделие намагничивают совместно с прижатым к поверхности магнитным носителем- в виде пакета из нескольких лент, переносят магнитньй рельеф поверхно

сти намагниченного изделия,на магнит- ньш носитель и fto результату считывания магнитограммь с носителя определяют наличие дефекта, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроляj перед считыванием магнитограммы магнитные ленты в пакете сдвигают друг относительно друга на одинаковое расстояние 1,равное 1 й/п-1, где п- число лент в пакете, и-смещение ленты в пакете относительно первой, выбранное из условия 0,5 и 1,5 мм.

Фиг.1

фиг. 2

Фиг.З