Устройство для измерения температуры кристаллизации расплавов Советский патент 1989 года по МПК G01N25/02 

Изобретение относится к средствам контроля параметров технологических процессов и может быть использовано в химической и нефтехимической про- мьшшенности, в частности при определении температуры кристаллизации аммиачной селитры.

Целью изобретения является повышение точности определения температуры кристаллизации.

На фиг.1 показан пробоотборник; на фиг.2 - кинематическая, схема устройства.

Устройство состоит из термочувствительного элемента 1 и пробоотборника 2, который выполнек в виде пустотелого цилиндра и соединен с ис- охлаждакицего газа. В пробоотборнике 2 размещены две ячейки; кристаллизационная камера 3, соединенная с источником газа для продувки, и калибратор 4, содержащий эталонное вещество. Термочувствительный элемент 1 шарнирно соединен с коленчатым валом 5 на который надет электропривод 6. Коленчатый вал перпендикулярен плоскости перемещения термочувствительного элемента.

Устройство работает следующим образом.

Пробоотборник 2 погружают в расплав исследуемого вещества, которое заполняет кристаллизационную камеру 3. В пробоотборник 2 и кристаллизационную камеру 3 подают охлаждающий газ (например, сжатый воздух). Исследуемое и эталонное вещества в камере 3 и калибраторе 4 охлаждаются, и начинается процесс их кристаллизации. Поворотом коленчатого вала 5 под действием электропривода 6 на 180 термочувствительньй элемент

4;:

а со

1 перемещают из одной ячейки в другую и поочередно измеряют температуру исследуемого и эталонного веществ в процессе их кристаллизации.

Для улучшения теплообмена между термодатчиком 1 и ячейками ячейки и рабочая часть термодатчика выполнены конической формы. Сигнал с термодатчика непрерывно регистрируют при по- мопщ самопишущего устройства. В момент кристаллизации изменение температуры на некоторое время прекращается. При этом происходит отключение подачи охлаждающего газа. Смена пробы в камере 3 происходит путем кратковременной подачи газа через отверстие в камере.

В качестве эталонного вещества может быть использовано любое вещество с известной температурой кристаллизации, близкой к температуре кристаллизации исследуемого вещества Управляющее и регистрирующее устрой

5

0

ства могут быть реализованы .на базе вторичного прибора КСП-4 и командного устройства типа КЭП-94.

Возможность непрерывной калибровки термочувствительного элемента в процессе измерения позволяет повысить точность определения температуры кристаллизации.

Формула изобретения Устройство для измерения темпера- туры кристаллизации расплавов, со- щержащее термодатчик, пробоотборник и калибрующее устройство, отличающееся тем, что, с целью целью повышения точности измерения, в пробоотборнике размещены кристаллизационная камера и калибратор,при этом пробоотборник соединен с источником охлаждающего газа, а термочувствительный элемент датчика выполнен с возможностью перемещения из кристаллизационной камеры в калибратор.

х

Л7- ful

гУУ-г :

I

6

фиг. г